Бобашев

Номер патента: 960706

Опубликовано: 23.09.1982

Авторы: Бобашев, Волочек, Зверев, Зубаков, Мешковский, Мирошниченко, Щаников

МПК: G02B 5/08

Метки: зеркало, оптическое

...при обеспечении требуемых удельных весовых параметров,В случае выполнения полостей 5в основе 1 ее тыльная сторона закрывается диском 6, который изготовлениз материала, идентичного материалуосновы 1. При этом диск 6 спекаетсяс основой 1 с помощью слоя иэ легкоплавкого силикатного стекла (на чертеже не показан), .Отношение высотыН основы 1 к ее диаметру О, как правило, равно 1:6,Способ изготовления оптическогозеркала осуществляется следующим образом.5 960706 до образования спеченного слоя 2. В процессе нагрева расплавленные компоненты всасываются в поры основыи образуют с 510 сплошной слой 2 легкоплавкого силикатного стекла. Толщина спеченного слоя 2 задается количеством напыленных компонентов. При этом толщина, меньшая О,1 мм,...

Номер патента: 811968

Опубликовано: 07.02.1982

Авторы: Беловинцев, Бобашев, Калинин

МПК: G01J 5/36

Метки: излучения, плотности, потока, синхротронного, спектральной

...кратности,а по току электронов - спектральнуюплотность потока СИ,Точность определения значения тока излучающих электронов юпраничена в основном погрешностью нахаждения сечен)ия о,и в настоящее:время может быть сделанане хуже 3 - 4%. Фо)р)мула (1) есть следствиезакона Бугера-Лам)берта-Вера для инертных газов: где У(Л) и М,(Л) в ,соответственно спектральные )плотнюст)и,выходящего и входящего в иониза)циовную камеру с длинойэлектродов Ь потока )фотонов;и - плотность ,газа в ионизационнойкамере;с(Л) - сечение фотоионизации газа.Тогда числю )поглощенных )фотонов составит величину10ЛИ= Но - И=НО(1 - е-Разлагая экспоненты в,ряд и отбрасы,вая все членыкромке нулевото )и первого порядка, )получим: ХИ 1)1 опЬ (Л).Известно, что для фотонов 1 с...

Номер патента: 763825

Опубликовано: 15.09.1980

Авторы: Бобашев, Шмаенок

МПК: G01T 1/16

Метки: излучения, импульсного, интенсивности, источника, мягкого, рентгеновского

...д- ц ОЮ 1ЭКфф ЪЫ) 6) Оэлгде Ьз(6) - сечение образования ионовлук 5, с зарядом и электронамис энергией Е, равной энергии электронов, прошедшихчерез газовую мишень,Ьф(И) - среднее в интервале Мд-Иьсечение образования тех30же ионов фотонами;М - число прошедших через гаЭзовую мишень электроновв каждом из двух пучков,Т(М) - средняя в интервале Сдд-Иб35разность коэффициентовпропускания фильтров,- отношение площади поперечного сечения исследуемогопучка фотонов к площади40 поперечного сечения одногоиз выделенных пучков.На чертеже показано устройство,реализующее предлагаемый способ.Устройство содержит времяпролетный масс-спектрометр с ионизацион 45ной камерой, ограниченной электродами 1 и 2; электронную пушку, снабженную диафрагмой 3 с двумя...

Номер патента: 519663

Опубликовано: 30.06.1976

Авторы: Бобашев, Шмаенок

МПК: G01T 1/16

Метки: вакуумного, излучения, импульсного, интенсивности, источника, мягкого, рентгеновского, ультрафиолетового

...способ, основанный на пропускании фотонов через газовую мишень в измерении количества образующихся при этом ионов путем собирания их на электроды специальной формы 2.Однако практически невозможно прямое распространение упомянутого выше фотоионизационного способа на спектральную область энергий фотонов от сотен электроновольт до нескольких килоэлектроновольт, так как фотоны с такими энергиями эффективно производят многозарядные ионы, и вследствие этого исчезает пропорциональность величины заряда, накапливаемого на электроде ионизационной камеры, числу ооразовавшихся ионов. В результате чрезвычайно важная для многих физических проблем, в частности диагностики лазерной плазмы, спектральная область излу чения остается недоступной для...