Способ изготовления фитингов из полимерных материаловi вс: оюзная•

Номер патента: 1165881

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Духович, Колесов

МПК: G01B 11/25, G02B 27/60

Метки: отклонения, поверхности, формы, эталонной

...эталонную поверхность 1 проектором4 проецируют нерегулярный растр 2, фотографируют изображение растра проектором 5, доработанным так, чтобы он обеспечивал фотографирование и последующее проецирование негатива без изменения его положения, и получают таким образом растр 203, согласованный с растром 2 по эталоннойповерхности. Одновременное проецированиерастров 2 и 3 на эталонную поверхностьприводит к взаимному перекрытию их темных и светлых зерен, вследствие чего эталонная поверхность будет затенена. Положение растров в проекторах определяют с помощью, например, микрометров. Далее наместо эталонной поверхности устанавливают в то же положение контролируемую поверхность 6. В местах отклонений поверхно- ЗОсти от эталонной наблюдают...

Номер патента: 1610248

Опубликовано: 30.11.1990

Авторы: Горшков, Лазарева, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, поверхности, сферических, формы

...линзовой системы в сторону контролируемой детали 13 обращают ту из эталонных поверхностей,радиус кривизны которой ближе по значению к радиусу кривизны контролируемой поверхности. В процессе работы интерферометра на эталонную и контролируемую поверхности должно обеспечиваться нормальное падение лучей, Афокальный компенсатор и линзовая система сообща преобразуют гомоцентрический пучок, выходящий из обьектива 7, в гомоцентрический пучок, вершина которого совмещена с точками С и Ск, где располагаются центры кривизны эталонной и контролируемой поверхностей 12 и 13 соответственно. Рабочая интерференционная картина образуется в результате взаимодействия волновых фронтов, отраженных от поверхностей 13 и 12, причем поверхность 12 выполняет...

Номер патента: 1627828

Опубликовано: 15.02.1991

Автор: Степин

МПК: G01B 11/24

Метки: вращения, поверхности, формы

...Оси поворота бязировочцо- ГО СТОЛха С ВЛЗМЛЖЦОСтЬЮ СМЕЩЕНИЯвдоль оси егл си;метрии, измерительный няклцешик 3, выплгсненцый сферичесюм и скреплеццый сл штоком 2, измеритеп:, 4 11 еремегения, скрепленный со птока. 2.Способ осугествляют следующим образом.Контролируемую деталь 5 устанавливают ця бязирлвлчный столик так, чтобы центр кривизны сферической контролируемои детали 5 или Оптическая ось, если контролируемая деталь 5 ясферическая, совпадали с осью поворота базирлвлчнлго столика, ПРИ ЭТ ОМ КСсЦТРЛ.Ь ЦЕНТРИРОВаЦИЛпроводят с 1 сзмлцеэю явтлкОллпмя 1 И 111 н ногс. микроскопа 1. Зягем вводят вконтакт с поверхностью контрочируемой детали 5 измерительный наконечник 3 и снимают отсчет по измерителю 4 перемещения. После легл базировочцый...

Номер патента: 60130

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G03B 43/00

Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных

...возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При...

Номер патента: 345352

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Щукин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, переносной, поверхности, формы

...стекло в виде сетки в системе прямоугольных координат.Для повышения точности контроля в качестве источника света осветительнои системы применен источник холодного свечения,На контрольном стекле выполнена сетка всистеме прямоугольных координат заданной5 толщины (5 - 7 мк) на основе смол и нитролаков, которая играет роль контактной прокладки и предохраняет стекло от повреждения. На него можно укладывать детали партиями. Смола и нитролаки обеспечивают дли 10 тельную работу, а также при надобности ихможно легко смыть ацетоном или спиртом инанести новые.На фиг. 1 схематично изображен предлагаемый пнтерферометр, общий вид; на фиг. 2 -15 вид сбоку.Интсрферометр содержит корпус 1, диафрагму 2, полупрозрачное плоское зеркало 3,установленное...