Способ определения содержания масла в расплавленном парафине

Номер патента: 1334058

Опубликовано: 30.08.1987

Авторы: Алексеев, Гозенко, Евсеева, Ильин, Майстров, Михайлов, Никитич, Скворцова

МПК: G01N 1/08

Метки: анализов, микроскопического, образцов, оптического, приготовления, сплавов, электронно

...с термически стабильными, но механически нестабильными К- и В 2- Аазами скорости нагрева и охлаждения не оказывают влияния на процесс восстановления фазового состава.50Применение печного нагрева и скоростного нагрева (в жидких средах) обеспечивало получение одинакового фазового состава образцов. Темпераатура нагрева до А+200 С также не оказывает влияния на процесс восстановления фазового состава образцов. Однако нагрев до более высоких темиератур вызывает изменение структурного состояния В 2- и К-Ааэ вследствие развития процессов полигонизации, а также приводит к ухудшению состояния поверхности за счет образования окисной пленки.Наиболее оптимальной температуройо нагрева является температура на 50 выше А. Нагрев до таких...

Номер патента: 357508

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Всесоюзный, Дова, Кафка

МПК: A23G 1/00, G01N 25/14

Метки: бегеновойкислоты, какао, качества, масла, нем, содержанию, триптамида

...9 10 Предмет изобретения Составитель М, Андреева Редактор Л. Народная Техред А. Камышникова Корректоры: В. Жолудева и Т. МедведеваЗаказ 4180/9 Изд.1711 Тираж 406 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб д, 4(5 Типография, пр. Сапунова, 2 чистоте масла какао судят по количеству индиготина, выраженного в граммах.Построение калибровочной кривой и определение оптической плотности ведут на фотоэлектроколориметре при красном свете.Предлагаемый способ заключается в следующем,Первый этап - приготовление стандартного раствора красителя индигокармина с известным содержанием индиготина (длительность около 3 час), Для этого навеску индиго- кармина берут в таком количестве, чтобы в 1 л...

Номер патента: 920373

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Геращенко, Котельников, Легинов, Фахти

МПК: G01B 15/06

Метки: внутри, деформаций, исследуемого, непрозрачного, образца, оптически

...координатные сетки различной конфигурации.Координатные сетки наносят, например, на заточном станке острозаточенным кругом и в полученные углубления вносят краску или микропорошок. Координатные сетки можно также наносить путем глубокого вакуумирова-, ния рентгенонепроницаемого материала в исследуемые слои при помощи трафаретов различной конфигурации для каждого слоя, После нанесения сеток слои соединяют, например склеивают, и делают эталонный снимок, Затем многослойный образец подвергают испытаниям и регистрируют при помощи рентгеновской съемки изменения коор3 920373динатных сеток каждого .исследуемогослоя. Сравнивая полученные снимки сэталонным, судят о дефЬрмациях всехисследуемых слоев,Составитель Е, ЩелинаРедактор О, Персиянцева...

Номер патента: 1640542

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Недужко, Стринадко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: анизотропии, образцов, оптической, прозрачных

...регистрации, измеряют распределение интенсивности и азимутов поляризации в нулевой полосе, по которым определяют оптическую анизотропию и высоту миронеровностей поверхности образца. 1 ил. деления оптичес ых образцов.йство содержит источник 1 иэлучещий высококогерентное излучение волновым фронтом, светоделитель ные зеркала 3 и 4, оптический смемагнитооптический модулятор б, р 7 и фотоэлектронный умножиПредлагаемый способ одующим образом, Полупрозрачная пластин учение,от источника 1 из ка; объектный, который наказ 1012 Тираж 393 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035; Москва, Ж, Раушская нэб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г Ужгород, ул,Гагарина, 101 исследуемому...

Номер патента: 918905

Опубликовано: 07.04.1982

Авторы: Кудрявцев, Молчанов

МПК: G01R 33/02

Метки: локальных, магнитного, напряженности, областях, образцов, поля

...11 1Недостатком способа является низ кая точность измерения.Известен способ определения наженности магнитного поля в локал областях образцов, в котором компенсируют тангенциальную составляющую напряженности магнитного полямагнитным полем:обмотки потенциалометра, установленного на поверхности образца. Индикатором момента ком-. ф пенсации служат два датчика Холла 12Недостатком известного способаявляется низкая точность, так как размер локальной области, в которой производится измерение напряженности, определяется конечными размерами феррозонда-потенциалометра.Цель - повышение точности.Цель достигается тем, что в способе определения напряженности магт 5нитного поля в локальных областях образцов, включающем компенсацию тангенциальной...