Способ измерения деформаций внутри исследуемого образца из оптически непрозрачного материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 920373
Авторы: Геращенко, Котельников, Легинов, Фахти
Текст
аявнтел 54) СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ ДЕФОРИАЦИЙ ВНУТРИ ИССЛЕДУЕИОГО ОБРАЗЦА ИЗ ОПТИЧЕСКИ НЕПРОЗРАЧНОГ ИАТЕРИАЛА Изобретение относится к рентгенографическим способам определения деформаций и может быть использовано при измерении деформаций внутри исследуемого образца из оптически непрозрачного материала.По основному авт. св. Ю 20511 известен способ измерения деформаций внутри исследуемого образца из оптически непрозрачного материала, заключающийся в том, что в образец вводят координатную сетку из рентгенонепроницаемых материалов, например свинца, по изменению размеров которой судят о деформации образца. Сетку выполняют из микропорошка иликраски 1.Однако этоопределить деев образца.Целью изобретения является расширение функциональных возможностей путем одновременного измерения деформаций нескольких, слоев образца. т способ не позволяетформации нескольких сло"30 Поставленная цель достигается тем, что на каждый исследуемый слой образ" ца наносят координатные сетки различ" ной конфигурации.Способ осуществляется следующим образом.На поверхность каждого исследуемого слоя образца наносят координатные сетки различной конфигурации.Координатные сетки наносят, например, на заточном станке острозаточенным кругом и в полученные углубления вносят краску или микропорошок. Координатные сетки можно также наносить путем глубокого вакуумирова-, ния рентгенонепроницаемого материала в исследуемые слои при помощи трафаретов различной конфигурации для каждого слоя, После нанесения сеток слои соединяют, например склеивают, и делают эталонный снимок, Затем многослойный образец подвергают испытаниям и регистрируют при помощи рентгеновской съемки изменения коор3 920373динатных сеток каждого .исследуемогослоя. Сравнивая полученные снимки сэталонным, судят о дефЬрмациях всехисследуемых слоев,Составитель Е, ЩелинаРедактор О, Персиянцева Техред С. Мигунова Корректор М. Коста Тираж 614 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Заказ 2316/39 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Использование предлагаемого способа позволяет одновременно измерить деформации нескольких слоев образца, При изготовлении многослойных конст. рукций, например, корпусов летательных аппаратов, сосудов высокого давления, предлагаемый способ позволйт, выбрать оптимальное количество сло ев, материалы, из которых они изготавливаются, и клей, соединяющий эти слои. 4формула изобретенияСпособ измерения деформаций внутри исследуемого образца из оптическинепрозрачного материала по авт. св. % Ю 520511, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем одновременного измерения деформаций нескольких слоев образца, на каждый В исследуемый слой образца наносят координатные сетки различной конфигурации.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР 1 М 520511, кл. 6 01 В 15/06, 1972
СмотретьЗаявка
2953461, 07.07.1980
РОСТОВСКОЕ ВЫСШЕЕ ВОЕННОЕ КОМАНДНОЕ УЧИЛИЩЕ ИМ. ГЛАВНОГО МАРШАЛА АРТИЛЛЕРИИ НЕДЕЛИНА М. И
ГЕРАЩЕНКО МИХАИЛ ДЕНИСОВИЧ, ФАХТИ ВЛАДИМИР АХАТОВИЧ, ЛЕГИНОВ ЕВГЕНИЙ АРКАДЬЕВИЧ, КОТЕЛЬНИКОВ ВЛАДИМИР УСТИНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 15/06
Метки: внутри, деформаций, исследуемого, непрозрачного, образца, оптически
Опубликовано: 15.04.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-920373-sposob-izmereniya-deformacijj-vnutri-issleduemogo-obrazca-iz-opticheski-neprozrachnogo-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения деформаций внутри исследуемого образца из оптически непрозрачного материала</a>
Предыдущий патент: Бесконтактное пневматическое устройство для измерения диаметров валов
Следующий патент: Акустическое устройство для ультразвукового контроля толщины стенок труб
Случайный патент: Способ отделки полиэфирного волокна