Способ определения площади контакта шин

Номер патента: 275495

Авторы: Вексельман, Кутилин

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических Республик.ЧПК С 01 риорите Комитет по делам зобретений и открытий при Совете Министров СССРень22 0.17 Опубликовано ОЗ,Ч 1.1970. БюллДата опубликования описания 2 Х.1970 в 1 ггкт, 05 н., ..Авторытзобретени И. В, Вексельман и А, Г. Кутилнн аявител ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОЩАДИ КОНТАКТА ШИН должны быть одинаковы по раз весу. Например, шарики от шарик шипника плп дробь. Затем бегову юсть шины смазывают клеем н шину к опорной поверхности. По шину поднимают, собирают прилип сыпучий материал и взвешивают предварительно, какая площадь со единице веса, определяют общую контакта. С ьем сыпучего материала ности шины производ 1 ггся быстро и опускании части шины в раствори)едмет изооретения ределенпя площади контакта шпн верхностью в статическом состоя- и(ийся тем, что, с целью снпже 1 кости и повышения точности шин с повышенной сложностью тектора, беговую часть покрышки дгезпонным составом, а опорну 1 о - слоем сыпучего материала толв одну часпщу н по весу прилип- судят о площади контакта,Способ оп с опорной по нии, отличат ния трудое 20 испытания рисунка про покрывают а поверхность шиной слоя 25 шнх частицсн ци 1 и Изобретение относится,. к шинной промышленности, но может быть использовано и в тех областях, где требуется измерение площади контакта двух тел.В настоящее время определение площади контакта шины с опорной поверхностью производят следующим образом. Шина смазывается красящим веществом и прижимается и опорной поверхности, на которой находится лист бумаги. Затем с помощью планиметра производится измерение плошади полученного отпечатка. 1-1 едостатком этого способа является низкая точность и высокая трудоемкость, причиной которой является нечеткий контур отпечатка и большая ошибка планиметрирования при сложных рисунках протектора.Цель изобретения - повышение точности и ижение трудоемкости за счет замены опера- и планиметрирования операцией взвешиваПредлагаемый способ заключается в следующем. 11 а опорную поверхность насыпается сыпучий материал так, чтобы образовался слой толщиной в одну частицу. Все частицы меру и по ового нод.ю поверх- прижимают еле этого ший к нейего. Знал ответствуетплощадь с поверх- легко при тель.

Смотреть

Заявка

1267214

И. В. Вексельман, А. Г. Кутилин

МПК / Метки

МПК: G01B 1/00

Метки: контакта, площади, шин

Опубликовано: 01.01.1970

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-275495-sposob-opredeleniya-ploshhadi-kontakta-shin.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения площади контакта шин</a>

Похожие патенты