Способ исследования внутренней структуры волокнистых материалов

Номер патента: 642635

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Миркин, Татарский, Толкачев

МПК: G01N 21/40

Метки: исследования, структуры, тел, шлифах

...зависящих от наличия в шлифе неконтрастных элементов струк- Ь туры, изменяют разность хода световых потоков, регистрируют изотропные зоны по цвету прошедшего через указанные зоны, света. 30Способ реализуется следующим образом.Исследуемый шлиф пористого тела помещают на вращающийся предметный столик (типа Федоровского), который также)5 может менять угол наклона относительно оси поляризационного микроскопа (типа Полами) . Столик расположен между двумя четвертьволновыми пластинками, размещенными межцу анализатором и поляризатором, Пластинки20 ориентированы под углом в 90 относительно друг друга .и под углом в 45 О по отношению к поляризатору и анализатору. Просвечивают шлиф лучемп 8 поляризованного по кругу света, такой свет...

Номер патента: 679865

Опубликовано: 15.08.1979

Авторы: Бадалян, Казанцев

МПК: G01N 29/00

Метки: акустическими, исследования, методами, образец, структуры, твердых, тел

...которого в плоскости, перпендикулярной к его оси сделано попарно четыре нря 10моугольных выступа 2 и 3, 4 и 5, образующихдва взаимно перпендикулярных стержня (водноводы мощных ультразвуковых колебаний), Суммарная длина выступов, образующих стерженьв направлении в, резонансная, равная 2 п/УЛ 15где и - целое число, Х - длина волны мощкыхультразвуковых колебаний, Суммарная длин 1выступов 4 и 5 и общей части стержня 1, обра.аующих стержень в направлении с, равна(2 пз+1) Ц 2, где е - целое число. Длина стерж 20ня 1 равна (2 к+1) Ц 4, где к - целое число.Исследование структуры тве 1 эдых тел с по.мощью предлагаемого образца производится следующим образом,К торцам двух стержней образца 1, расположенных во взаимно перпендикулярных направлениях в...

Номер патента: 1000868

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Ермолаев, Кваша, Манько, Назаренко, Огданский, Соловьев

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, полимеров, рентгенографического, структуры

...рассеяния (1), можно определить значения Рф, а в предположении и ( Ро)- также и относительные доли неоднородностей различного размера. При наличии упорядоченности в расположении одинаковых неоднородностеи имеет место интерференция волн, рассеяных различными неоднородностями. Интенсивность рассеяния для случаяплотноупакованной системы неоднородностей представляется соотношениемЭ=йп ф(5 Р)Я5 55 п(25 ) (,ф(25 Я) (2)Ч 2 258-4 где Я - объем всех частиц радцуса Й;Ч - объем системы;Фф)- дебаевская функция формы иразмера неоднородностей.Интенсивность рассеяния ( 2) имеет ряд максимумов Юдовича, наблюдающихся при )Р 1 равных 2,5; 5,8; ),1 и т.д, Определив значения 5, прц которых на кривой интенсивности наЯллдабтся максимумы, из...

Номер патента: 857873

Опубликовано: 23.08.1981

Авторы: Алферов, Вахтомин, Малинина

МПК: G01N 33/38

Метки: вяжущего, исследования, процесса, твердения, цементного

...определяют изменение влагосодержания капиллярно"пористого тела по изменению весаконтрольной жидкости и по изменениювеса во времени определяют появлениекачественных и структурных измененийв исследуемом цементном вяжущем притвердении.На чертеже изображена установкадля реализации способа.В исследуемый материал 1 устанавливают одним концом влагопроводящввкапиллярно-пористое тело 2, напримеро М 4/ илиал ППП "Патент", г, Ужгород, Ул, Проектная полоску иэ обеззоленной фильтроваль ной бумаги, смоченную до насыщенияв контрольной жидкости, зачехленную с открытой части в стеклянную трубку 3 для предотвращения испарения влаги. Второй конец капиллярно-по ристого тела вместе со стеклянной трубкой опускают в стакан 4 с контрольной жидкостью 5...

Номер патента: 1017983

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Багиров, Магеррамов, Миронов, Никольский

МПК: G01N 21/68

Метки: исследования, полимеров, структуры

...и применения предлагаемого способа изучения его структуры.Таким образом, особенно важно отметить, что меньшая степень очисткипозволяет получить ТЛ, которая, однако, не несет информацию о егоструктуре. Большая степень очисткивообще исключает возможность появления ТЛ полимера, а следовательно,и получение какой-либо информациио его структуре.Выбор температуры вакуумированияобусловлен двумя причинами: сокращением времени вакуумирования при повышении температуры и влиянием температуры на исходные структуры исследуемого образца. В выбранном интервале температур сокращается. времявакуумирования и не происходит структурных. изменений в полимере, так каку большинства полимеров температурастеклования ниже 150 С, а температураперехода на...