Способ подготовки образцов для электронно-микроскопических и электронографических исследований
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1505158
Авторы: Автюшков, Бобченок, Тралле, Цыбульская
Описание
Способ подготовки образцов для электронно-микроскопических и электронографических исследований, включающий размещение исходной заготовки на поверхности нейтральной жидкости исследуемой стороной вниз, нанесение на обратную сторону заготовки порции жидкого травителя и выдержку заготовки до появления в ней сквозных микроотверстий, отличающийся тем, что, с целью повышения качества образцов за счет уменьшения подтравливания приповерхностных слоев заготовки, при выдержке заготовки в поверхностном слое нейтральной жидкости создают ее поток со скоростью 0,1-0,2 м/с в направлении, параллельном плоскости заготовки.
Заявка
4357590/21, 04.01.1988
Физико-технический институт АН БССР
Бобченок Ю. Л, Цыбульская С. И, Тралле И. Е, Автюшков Е. В
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28
Метки: исследований, образцов, подготовки, электронно-микроскопических, электронографических
Опубликовано: 27.09.2013
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-1505158-sposob-podgotovki-obrazcov-dlya-ehlektronno-mikroskopicheskikh-i-ehlektronograficheskikh-issledovanijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ подготовки образцов для электронно-микроскопических и электронографических исследований</a>
Предыдущий патент: Способ изготовления жидкокристаллических индикаторов и устройство для его осуществления
Следующий патент: Штамп для выдавливания формообразующего инструмента
Случайный патент: Способ получения арилхлорсиланов