Прибор для измерения линейных размеров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
121248 Класс 42 с, 22 42 Ь 1 8 о СССР1.1" г РгИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТКайнер и Р. Г. АронеПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ Заявлено 6 февраля 1957 г. за566221/25 в Комитет по делам изобретенийоткрытий при Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллетене изобретений14 за 1959 г.Приборы, предназначенные для измерения линейных размеров и выполненные в виде оптического измерительного устройства со шкалой, известны. Последнее обычно устанавливается на одном конце измеряемой линии и снабжается отражательным зеркалом, установленным на другом ее конце.Отличительная особенность предложенного прибора заключается в том, что он снабжен тремя оптическими проектирующими системами, Одна из этих систем перпендикулярна к плоскости отражательного зеркала. Оптические оси двух других систем, расположенные симметрично по обе стороны от нее, образуют с плоскостью отражательного зеркала равные углы.Эта особенность обеспечивает возможность осуществления абсолютных измерений линейных размеров.Кроме того, оптическая проектирующая система прибора снабжена тремя измерительными микроскопами, один из которых расположен в середине его шкалы, а два других - симметрично по обе стороны от него.На фиг. 1, 2 и 3 изображены схемы, поясняющие принцип действия прибора.Принцип действия прибора основан на том, что измеряемый размер выделяется световыми штрихами, которые проектируются. оптическими системами на точную шкалу, по которой отсчитывается взаимное распо,ложение и расстояние между штрихами, равное или пропорциональное измеряемому размеру. Так, например, размер Н (фиг, 1) выделен световыми штрихами - проекциями щели 5 в точках К и Ь и проектируется посредством оптических систем А и С на шкалу в точки а и с.121248При измерении расстояния до плоскости оптическая система А(фиг. 2) проектирует узкую световую щель 5 в точку а на шкале и вточку К на объекте под углом а.Из точки К щель 5 отражается также под углом а и через оптические системы В и С щель 5 проектируется на шкалу в точки Ь и с. Положение щели 5 и ее проекций на шакале рассматриваются через отсчетныемикроскопы и измеряются отрезки ас, аЬ и Ьс с точностью до 0,001 мм,Теперь измеряемый размер Н, ограниченный световыми штрихами в точкеК на объекте и в точке Ь на шкале, связан с отрезками ас, аЬ и Ьс (тр-киасаКЬ, сКЬ и аКс) соотношением Н=аЬЯа=Ьс) 1 да или Н= -; из 21 дамерив аЬ, Ьс и ас и зная 1 да, (угол а постоянный для прибора, наиболееудобный 1 да=0,05 для размеров свыше 5 м, или 1 да=0,1 для размеровас асдо 5 м) находят Н= , = 10 ас или Н= =5 ас.2 0,05 2 0,1При наклоне плоскости на угол а (фиг. 3) очевидно, что отрезки аЬаЫд (а+2 а 1)и Ьс неравны, отрезок Ьс больше аЬ на величину Ю =(из1 Датр-ков аКс, аКЬ и ЬКс),Поэтому перед измерением расстояния Н до плоскости следует убедиться, что плоскость шкалы строго параллельна плоскости объекта,что легко и очень точно определяется по равенству отрезков аЬ и Ьс. Вкачестве отражающего зеркала на объекте устанавливается тонкая лента (0,01 - 002 мм) с частотой поверхности 13 - 14. Вдоль одного краяленты сделана матовая полоса, чтобы проектировать щель 5 через оптическую систему В на шкалу в точку Ь.Для измерения угла наклона плоскости УУ по отношению к базовой(плоскость шкалы устанавливается строго параллельно базовой плоскоф (а+2 а,)сти) пользуются формулой Ж = аЬ , для чего точно из 8 уамеряют отрезки аЬ и Ьс, получают Ж и, зная 1 да прибора, легко и оченьточно находят угол а, (с точностью до долей секунды),Предлагаемым прибором могут быть также измерены большие размеры в машиностроении, определены углы наклона касательной к поверхностям различной кривизны и т. и,Пр едм ет изобретения1, Прибор для измерения линейных размеров, выполненный в виде оптического измерительного устройства со шкалой, установленного на одном конце измеряемой линии и снабженного отражательным зеркалом, установленным на другом ее конце, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью осущесвления абсолютных измерений линейных размеров, он снабжен тремя оптическими проектирующими системами, оптическая ось одной из которых перпендикулярна к плоскости отражательного зеркала, а оптические оси двух других систем, расположенные симметрично по обе стороны от нее, образуют с плоскостью отражательного зеркала равные углы.2, Прибор по п. 1, о тл и ч а ю щи й с я тем, что оптическая проектирующая система выполнена в виде трех измерительных микроскопов, один из которых расположен в середине шкалы, а два других - симметрично по обе стороны от нее.
СмотретьЗаявка
566221, 06.02.1957
Ароне Р. Г, Кайнер Г. Б
МПК / Метки
МПК: G01C 3/24
Метки: линейных, прибор, размеров
Опубликовано: 01.01.1959
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-121248-pribor-dlya-izmereniya-linejjnykh-razmerov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Прибор для измерения линейных размеров</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения площади кож
Следующий патент: Устройство для определения направления водных течений
Случайный патент: Устройство для измерения температуры