G01N 23/223 — облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции

Номер патента: 1791763

Опубликовано: 30.01.1993

Авторы: Клемпнер, Уманец, Шамшин

МПК: G01N 1/28, G01N 23/223

Метки: зольности, комплекта, образцов, стандартных, угля

...для радиометрического экспресс-анализатора зольности.Назначение стандартных образцовзольности - приемочные испытания экспресс-анализатор зольности угля и его пе 20 риодическая проверка по ГОСТ 11055-78.Стандартные образцы зольности угля.изготавливают следующим образом. Дляприготовления образцов была отобрана порода (Ап = 88,2%) с шахты 50-летия Октября25 ПО "Гуковуголь" и угол (Ау =10-1% ), Плотность породы = 2,67 г/см, плотности угляру = 1,78 т/см, Порода и уголь раэдрабливались до размера частицмм,Изготавливают стандартные образцы30 со следующими расчетными значениямизольности угля, %: 10,1, 15; 25; 30; 35; 40; 45;55; 60.Массу угля и породы для получения об-.разцов заданной зольности вычисляют по35 формулам где М = 10 кг.Навески...

Номер патента: 1793345

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Блехер, Веселов, Заславский, Майоров, Мамро, Николаев

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, легированных, поверхностей, сплавов, сталей

...нелокализован- ржавеющей стали ЭПна серийноиь м потоком электромагнитного или выпускаемом рентгеновском фотоэлектронкорпускулярного излуЧения. при комнатной -. ном спектрометре ЭС 2402,температуреирегистрацииобразовавшего- На фиг. 1 и 2 представлены заретися характеристического излучения для каж стрированные в обычном для этого рен-:дого химического элемента, образец тгеновского фотоэлектронного РФдополнительно нагревают до темйературы спектрометра режиме РФ-спектра для обначальной стадии образования защитной разца при комнатной температуре и послейленки, покрывающей только поверхность нагрева до 350 С соответственно. Идентизерен, вйовь проводят облучение и регист фикация Рф-линий представлена на этихрацию, затем сравнивают...

Номер патента: 1797707

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Лифшиц, Медолазов, Никольский, Сатаров

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, кювета, проточная, пульп, растворов, рентгенофлуоресцентного

...в конусе. а не вся поверх- робежных сил более плотная жидкая фаза, ностьокна.Кнедостаткамподобнойкюветы если подается раствор, или твердая фаза следует отнести и вынужденное расположе пульпы, если подается пульпа, отжимается ние сливного отверстия выше уровня окна, в рабочий слой, протекающий у самой пленпоскольку при этом нельзя работать с пуль- ки 5, закрывающей окно кюветы 4 с попами, так как в, полости кюветы будут накап- мощью крышки 3 и прокладки 6. Воздух из ливаться твердые частицы, По технической раствора или пульпы будет вытесняться в сущности наиболееблизкимк предлагаемо более глубокие слои жидкости, ближе к му техническому решению является кювета, внутренней стенке кольцевой полости и выкоторая принята за прототип...

Номер патента: 1798671

Опубликовано: 28.02.1993

Авторы: Лебедев, Лебедева

МПК: G01N 1/28, G01N 23/223

Метки: анализа, излучателей, металлов, рентгеноспектрального, сплавов

...химии, в частности в области спектрального анализа, Сущность и ния: отбирают пробу исследуемого ва, наносят ее на шкурку, вставл оправку и имеющую размер изл нанесение исследуемого вещества вляют путем шлифования пробы д нения им пространства между шкурки, 1 табл,рок Л 251 СМ 63, М 50, М 40, М 28 или с зе ми электрокорунда (А 20 з) марки 15 А Затем используя шкурку в качестве изл теля, проводят измерение по соответств щей программе на рентгенофлуор центном спектрометре РуЧ 1600 фирмы " липс" Голландия (отечественный ана СРМ. СРМ). Время измерения 3 Для преобразования измеренных интенс настейв концентрации С при анализе н ко-высоколегированных сталей (хр никель - до 20 ь) применяется следую формула крутизна градуировочной характе-го...

Номер патента: 1803842

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Блащук, Костин, Лифшиц, Мамулова, Савина, Силачева

МПК: G01N 1/28, G01N 23/223

Метки: анализа, образцов, приготовления, рентгеноспектрального, хлорсодержащих

...хлора в пробе 3,89 . Состав смеси Соотношение компонентов смеси Содержание хлоаг 10Примечание Карбо- Окись Азотно-кислый аммоний,г введено найденат нат ия,г магния,г но 4:3,3:2 1,2 1,00 0,60 1167 1024 РезультатзаниженОпт. резОптимальный результат 0,90 1,2 0,60 4:3:2 4:2,67;2 4:2,3;2 4;2;21167 1167 1167 1167 1,2 0,80 0,60 1145 1098 1042 0,70 1,2 0,60 0,60 1,2 0,60 Реэ льтат занижен Оптимальный режимэтапа: 200 - 230 С, выдержка 5 - 8 мин, Увеличение времени выдержки больше 10 мин на результатах анализа не сказывается,Увеличение температуры выше 230 С приводит к бурной реакции разложения азотнокислого аммония, что приводит к потерям образца (идет разбрызгивание). Оптимальные условия нагревастадии получаются в интервале 740 - 760 С с...

Номер патента: 1679860

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Богданович, Глебов, Филатов, Чарский

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, излучения, поляризатор, рентгеновского, рентгенофлуоресцентного, устройства

...е ЗО - - фэ Х " - Ь ехр(-2,5, юф Яе , ЗР,из" - массовый коэффициент рассеяния п-й пластины поляризатора; р 2" - полный массовый коэффициент Гослабления рентгеновского излучения и-йпластиной поляризатора;р( - полный массовый коэффициентослабления рентгеновского излучения 1-йпластиной поляризатора;55- количество пластин поляризатора;О - общий диаметр коллимационногоотверстия.На фиг. 1 показан многослойный поляризатор устройства для РФА; на фиг. 2 по 1679860казаны графики эффективности рассеяния йэ= для различных пластин; на фиг. 3 покаМозан поляризатор в составе устройства для РФА, 5Поляризатор, показанный на фиг. 1, представляет собой блок, выполненный в виде набора следующих друг за другом пластин из элементов с атомными номерами,...

Номер патента: 1824558

Опубликовано: 30.06.1993

Авторы: Борзенко, Гимельфарб, Касицкая

МПК: G01N 23/223

Метки: микроанализа, образцов, приготовления, рентгеноспектрального, сравнения

...собой торцовую поверхность для РСМА, не требующую дополнительной полировки. Вследствие этого, погрешность анализа на стадии подготовки ОС снижается до 0,5-1 особенно для мягких рентгеновских линий (А0,5 нм). Повышение экспрессности анализа достигается исключением на стадии пробоподготовки операций шлифовки и полировки, а также возможностью получения ОС практически с любым набором определяемых элементов в широком интервале концентраций, и следовательно, значительным уменьшением количества ОС, требуемых для анализа материала сложного состава, Возможность получения ОС, максимально приближенных по составу к анализируемому материалу, позволяет легче учитывать взаимные влияния элементов доля многокомпонентных образцов.П р и м в р. Порошок...

Номер патента: 1827600

Опубликовано: 15.07.1993

Авторы: Кондуров, Коротких

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, рентгенофлуоресцентного

...ПВО Ос отражателя, Из выражения (2) видно, что чем больше эта величина, тем меньше длина . изогнутого отражателя при заданном угловом растворе, поэтому для отражателей предпочтительнее материал с большим значением О. Если прободержатель изготовлен из того же материала, угловые параметры отсекающего фильтра совпада 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 ют 6 = Ос. Однако, на практике к прободержателям предъявляются дополнительные требования, такие как цена, доступность, возможность неоднократного использования, Материалы, удовлетворяющие всем этим требованиям, имеют меньшие значения критического угла ПВО. Предлагаемое устройство позволяет работать с различными прободержателями, т,к. угловое расхождение возбуждающего пучка можно изменять...

Номер патента: 1831679

Опубликовано: 30.07.1993

Авторы: Барон, Закускин, Самарин, Сотников

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, количественного, рентгенофлуоресцентного

...линий, излучаемыхвсеми пробами и эталонным образцом, нормируются на интенсивности потоков соответствующих линий сравнения, излучаемыхтеми же пробами, и формируется аналитиче 0 ский сигнал в виде отношения:1 "1 отн =он"/ 6 н(индекс "н" - признак нормирования),где 1 ь = Ь/1 к; 6 нн = 1;/1 ссг). Полученные отношения 1 ьн, вводят15 в уравнения множественной линейной регрессии вида С = а прэую,н.Вц, х20 х 1 отн.,где С 1 - известные содержания 1-го элементав калибровочных пробах,110, - относительные интенсивности25 всех измеренных аналитических линий(включая )=1),ам, а Ь;1 - калибровочные коэффициенты.Калибровочные коэффициенты вычис 30 ляют известным способом по методу наименьших квадратов, и полученные уравнениявводят в программу...

Номер патента: 1832190

Опубликовано: 07.08.1993

Авторы: Князев, Попов

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, рентгенофлуоресцентного

...с использованием (3) и (4), игоавны соответственно 6,57 см/г и 2,38 см г. Коэффициен ты К и К равны Зх 10 и 2,7 х 10соответственно(определяются экспериментально и связаны с активностью радионуклида и геометрическими условиями измерений). Зная Сд, р,уь, К, Кз, можно 45 легко рассчитать значения йз, й для насыщенного слояМ - = х К 40639Сд,Ц50 Мз - . х Кз 1134451фзВеличина а, при расчете положена равной единице, так как она слабо изменяется при 1+ - 1, (2 П и усилитель БУС 2-97, многоканальный анализатор АИ-95, цифропечатающее устройство УВЦ 2-95. Материал исследуемого образца (исследуемой пробы) насыпался в кювету диаметром 40 мм и высотой 2 мм со сменным дном из лавсана, Поскольку величина поверхностной плотности однозначно связана...

Номер патента: 1835070

Опубликовано: 15.08.1993

Авторы: Ашиток, Вольфштейн, Плотников

МПК: G01N 23/223

Метки: анализатор, рентгеновский

...фильтр 3 и внешний слой 6 вторичного излучателя 4, возбуждает рентгеновскую флуоресценцию. его внутреннего слоя 5, Толщина внешнего слоя вторичного излучателя выбрана из условия, чтобы его оптическая плотность для флуоресцентного излучения внутреннего слоя не превышала 0,5. При этом не менее 30 флуоресцентного излучения внутреннего слоя пройдет через внешний слой вторичного излучателя. Рентгеновское флуоресцентное излучение обоих слоев вторичного излучателя, соответствующее аналитической линии определяемого элемента и рассеянному излучению, регистрируется детектором 7, амплитудное распределение импульсов на выходе которого приведено нв фиг. 3 (1 - пик флуоресцентного излучения внешнего слоя, 2 - пик флуоресцентного излучениявнешнего...

Номер патента: 1715040

Опубликовано: 15.12.1993

Авторы: Марков, Панасюк, Яковлев

МПК: G01N 23/223, G01N 9/24

Метки: анализа, пульпы, рентгенорадиометрического

...мм. Диаметр входного трубопровода составляет 250 мм, а выходного - 400 мм. Расстояние между трубопроводами по вертикали 600Погружные радионуклидные датчикизакреплены в верхней части бака и имеют диаметр 100 мм при длине 1650 мм. В качестве источника первичного излучения вдатчиках используются радионуклиды плутонийактивностью 3,7 ГБк (тип источника ИРИПЛ-З), а также радионуклиды америцийактивностью 47,7 МБк (тип источника ИГИА). В качестве детекторов вдатчиках используются фотоумножители Устройство содержит погружные радионуклидные датчики 1, плотномеры 2, электронный блок 3 обработки информации,аналитическую емкость 4 с входным и вы 5 ходным трубопроводами 5 и 6 соответственно и айтиламинарными ребрами 7 на ее. внутренней поверхности,...

Номер патента: 1625231

Опубликовано: 10.02.1996

Авторы: Букин, Волков, Коробейникова, Нахабцев

МПК: G01N 23/223

Метки: вещества, кристалл-дифракционного, рентгеноспектрального, состава, элементного

...отражения,Графики 7, 11 на этих фигурах характеризуют изменение аналитического параметра ц = йо/Йз = ЦЬ), где й и й, соответственно потоки флуоресцентного и рассеянного излучения, измеренные в первом порядке отражения, причем поток Йв соответствует рассеянному излучению содлиной волы Л = =1545 мА (когерентно рассеянное излучение Со Ка - присутствующей в спектре излучения рентгеновской трубки).Графики 8, 12 на этих фигурах также характеризуют отношение флуоресцентного Й и рассеянного И излучений. зарегистрированных в первом порядке отражения, с той только разницей, что длина волны выбрана равной длине волны рассеянного излу ения, зарегистрированного во втором и рядке отражения в описанном способе.Графики 9, 13 на этих фигурах...

Номер патента: 1831109

Опубликовано: 10.03.1996

Авторы: Жаворонков, Зуев, Шабельников

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, пленок, рентгенофлуоресцентного, тонких

...из торцевого выхода является достаточным закрепление моноблока 11 на узле 13 с постоянной ориентацией оси выхода излучения, Линейное перемещение моноблока обеспечивает совмещение оси выхода с центром прохода между прокладками 9. Упрощение конструкции достигается также за счет прижима рефлектора 10 к рефлектору 7 с зазором, величина которого и находится в диапазоне 5-50 мкм, В предлагаемом устройстве й определяется толщиной прокладок 9, что делает ненужным использование прецизионных средств ориентации и перемещения рефлекторов, Размещение прободержателя 12 и рефлектора 10 в одной детали позволяет отказаться от узла перемещения и ориентации прободержателя,Закрепление рефлектора 7 на оправке 4 упрощает конструкцию за счет фиксации...

Номер патента: 1552810

Опубликовано: 27.06.1999

Авторы: Дербов, Кузнецов, Лобачев, Павличенко, Хромов

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, карбонатных, образцов, пород, рентгенофлуоресцентного, сульфатно

1. Способ рентгенофлуоресцентного анализа образцов сульфатно-карбонатных пород, включающий облучение градуировочных и анализируемых образцов рентгеновским или гамма-излучением с энергией E1, достаточной для возбуждения характеристического рентгеновского излучения породообразующих элементов, измерение интенсивности характеристического рентгеновского излучения, облучения этих образцов монохроматическим рентгеновским или гамма-излучением с энергией E2, отличной от E1, измерение интенсивности прошедшего через образцы излучения с энергией E2 и вычисление массового коэффициента ослабления образцами этого излучения, отличающийся тем, что, с целью...

Номер патента: 710341

Опубликовано: 10.01.2000

Авторы: Болотова, Лемак, Орлов, Очкур

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, рентгенорадиометрического

1. Способ рентгенорадиометрического анализа, заключающийся в облучении исследуемой среды рентгеновским или гамма-излучением и регистрации характеристического и многократно рассеянного на пробе излучений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения за счет уменьшения влияния состава вмещающей среды, дополнительно облучают детектор постоянным потоком квантов с энергией, обеспечивающей вклад импульсов в регистрируемую скорость счета квантов характеристического излучения определяемого элемента.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что энергия квантов дополнительного источника близка к энергии квантов характеристического излучения определяемого элемента.3. Способ по...

Номер патента: 1840244

Опубликовано: 10.08.2006

Авторы: Баранов, Воронин, Залесский, Филиппов, Хныков

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, наличие, рентгенофлуоресцентного, среде, тяжелых, элементов

Способ рентгенофлуоресцентного анализа на наличие тяжелых элементов в среде, заключающийся в облучении иследуемой среды потоком гамма-излучения и регистрации выделенного с помощью селективного фильтра характерестического излучения определяемого элемента, отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа при изменяющемся расстоянии между анализатором и средой, для материалов с различной поверхностной плотностью снимают зависимость выхода собственного характерестического излучения, возбуждаемого рассеяным средой излученном, от угла падения рассеяного излучения на поверхность материала и выбирают для селективного фильтра материал с минимальной поверхностной плотностью, для которого максимум снятой зависимости расположен вблизи...

Номер патента: 1840506

Опубликовано: 10.05.2007

Авторы: Воронин, Родионова, Филиппов, Хныков

МПК: G01N 23/223

Метки: анализатор, рентгенорадиометрический, тяжелых, флуоресцентный, химических, элементов

Флуоресцентный рентгенорадиометрический анализатор тяжелых химических элементов, содержащий источник первичного излучения, установленный в контейнере, детектор излучения, соединенный с регистратором с двумя каналами регистрации, присоединенных к схеме сравнения, первый из которых предназначен для регистрации импульсов в области спектра, соответствующей энергии К-скачка поглощения определяемого элемента, а второй - в области спектра более высоких энергий, отличающийся тем, что, с целью компенсации разбаланса скоростей счета по каналам регистрации, обусловленного прохождением на детекторе первичного излучения сквозь стенки защитного контейнера, в зоне облучения источником первичного излучения установлена мишень, обращенная облучаемой...