Сысак

Номер патента: 1343303

Опубликовано: 07.10.1987

Авторы: Гриценко, Лахин, Петров, Сысак

МПК: G01N 15/02

Метки: дисперсной, параметров, размерам, распределения, системы, функции, частиц

...удаленные на космические расстояния, облегчает слежение за движущимися объектами, позволяет исследовать объекты без активного воздействия на них,гф35(4) Изобретение относится к физическим методам исследования дисперсных систем и может быть использовано дл решения задач физики космоса, физик атмосферы и др.Цель изобретения - расширение функ циональных воэможностей способа путем обеспечения воэможности исследования удаленных на космические расстояния дисперсных объектов,Способ реализуется путем одновременного измерения спектральной плотности мощности собственного излучения 1(ы), температуры дисперсной системы 15 Т, и коэффициента преломления частиц и, составляющих дисперсную фазу системы, Выражение для спектральной мощности излучения...

Номер патента: 895200

Опубликовано: 07.08.1983

Авторы: Журавлев, Музалевский, Петров, Сысак

МПК: G01J 3/36

Метки: параметров, плазмы, пучка, электронного

...так как в противном случае величина уширения не может быть определена однозначно, Способ не применим для определения параметров плазмы, движущейся с релятивистской скоростью и релятивистских электронных пучков.Известен способ измерения парамет" ров электронного пучка или плазмы по 30 рают в спектре рассеяния частотные интервалы, число которых не меньше числа определяемых параметров) в каждом из выбранных интервалов измеряют угол между направлением максимальной поляризации рассеянного излучения и плоскостью, содержащей электрический вектор падакщей и волновой вектор рассеяной волны.Суть способа заключается в следукщем, Зондируют изучаемый объект мо"Ф/2 мснохроматическим ш ")= плоскопо". ляриэованным излучением) определяют направление...

Номер патента: 987864

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Журавлев, Музалевский, Петров, Сысак

МПК: H05H 7/00

Метки: плотности, пучке, электронов

...излучения 3 о в диапазоне частот л щ, включающем м 3 . Величины Э(е 1) и Э еа ) связаны между собой следуищими соотнош ниями 1 Ь21 ) И) Ю И) У 2 )" Ч )ыГ (-)е е е а 5 о -Чсов 62)од.3 чувствительность приемника рассеянного излучечия на частоте и, объем;телесный угол рассеяния; площадь поперечного сечения зондирующего луча; классический радиус электрона;модуль безразмерной скорости электронов;Г ф8:КЧ, 62:К Ч; 2 о Ч=(Ч Мс где А - нормировочная постоянная,В масса электрона;Ч,с - скорость электрона и света (в дальнейшем полагаемс=.1 так, что скоростьэлектрона измеряется вединицах скорости света);Яот - средняя энергия и температура электронов РЭП;Ч ф - поперечная к оси пучкаскорость электронов и еедисперсия)Уо - средний угол разлета...

Номер патента: 851112

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Гриценко, Журавлев, Кудрявицкий, Петров, Сысак

МПК: G01J 1/16

Метки: дисперсной, инди-катрис, рассеяния, среды

...попадает черезсветофильтр 7 на фотоприемник 5.Одно из зеркал 3 (фиг. 2) расположено на пути прямого излучения источника 1. Отраженное этим зеркалом и ослабленное калиброванным ослабителем излучение в соответствующий момент времени также попадает на фотоприемник 5.Если для определенности представить зондирующий луч и исследуемуюсреду в виде круговых цилиндров сдиаметрами ОЛ и Ор, причем ось вто-,рого цилиндра ортогональна А 1 В 1 АВи проходит через 0, зеркала 3 и 4 в виде прямоугольных отражающих поверхностей с вертикальными и горизонтальными размерами Ь, Ь 1, и 1 э 1 ф 14 фцентр зеркала 4 расположенным на осивращения 00, а диафрагму 6 - в видекруга с диаметром дь, то для того,чтобы все излучение, рассеянное порикаждым углом в...

Номер патента: 693180

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Владимиров, Сысак

МПК: G01N 21/46

Метки: жидкости, оптической, плотности, характеристик

...объем при помощи отражателей 3. Узел светоделителя (эеркала 2 и 3)отъюстирован таким образом, чтобы фиксированный по направлению световой пучок на его выходе был всегца не параллелен рабочему пучку, прошедшему сквозь объемсисследуемой жидкостью, причем если опорный пучок отклонен вниз от оптической оси устройства, любой, даже самый верхний (в йлоскости чертежа) луч опорного пучка должен бйть направлен под большим уг.-. лом к оптической оси, чем любой, даже самый нижний луч рабочего пучка и во всем динамическом диапазоне углов отклонения ( ф ) последнего. Или, при другом возможном варианте настройки, когда опорный пучок направлен выше оптической осй,даже самый нижний луч опорного пучка должен быть направлен под большим углом к...

Номер патента: 518751

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Зеликсон, Сысак, Трохан

МПК: G02B 27/38

Метки: прибор, теневой

...1 ориентирован под углом к оптической оси прйемного блока 2 в пределах индикатриссы светорассеяния исследуемой сре-ды 3 вне луча лазера. В данном случае этот угол равен прямому. Ось лазера оптически сопряжена с помошью объектива приемного блока 4 с плоскостью визуализируюшей диафрагмы (шлирного ножа) 5. В этой ,плоскости располагают абсорбционный клиновой светофильтр для компенсации градиента яркости вдоль изображения луча лазера, Приемный блок снабжен также экраном 6 для наблюдения теневой картины.Работает прибор следующим образом.Руч лазера 1 зондирует заданную областьисследуемой среды 3. Рассеянный микронео,нородностями (вэвесями)свет лазераслужит шелевым источником с шириной,равной диаметру луча лазера, и длиной,определяемой...