G01B 5/22 — сферометры

Страница 2

Способ измерения радиуса сферических поверхностей по стрелке шарового сегмента и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1439378

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Беляев, Богомолов, Данилевич, Дич, Песляк, Понкратов, Рукавицын, Скворцов

МПК: G01B 5/22

Метки: поверхностей, радиуса, сегмента, стрелке, сферических, шарового

...измерительные усилия Я по математической зави- симости(К,т К,) 1 Рл Кв) К нгде Ц - нормированное измерительное усилие, прикладываемому к измерительному наконечнику пиноли Р - вес детали, расположеннойна шариках опорного кольца; К - номинальный радиус измеряемой сферы;Рк - опорный радиус; К - радиус. шарика опорногокольца; К - радиус шарика измерительного Ннаконечника,Величина задаваемого нормированного измерительного усилия запоминается блоком 31 после ввода через блок 25 управления значений К, К я н К 1, а значение Кзапоминается блоком 32Процессор 27 расчетное нормированное усилие Я задает на датчик 23 углового перемещения.Затем устанавливают на шарики 3 опорного кольца 2 плоскую пластину 4. Включают блок 25 управления перемещения...

Устройство для измерения радиусов и кривизны поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1453155

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Гуревич, Киселев

МПК: G01B 5/22

Метки: кривизны, поверхностей, радиусов

...- расширение диаг 1 азона измерения и обеспечение воз 5ложности считывания результата измерения непосредственно со шкалы отсчетйой головки,На чертеже изображено устройство,сбщий вид.10 Устройство состоит из отсчетной головки 1 с гильзой 2, внутри которой оходит измерительный стержень с нанечником 3. Устройство снабжено умя соосно установленными втулками и 5, первая из которых закреплена а гильзе 2, а вторая - на измериельном стержне, Баэирующий элемент ыполнен в виде двух наконечников б, 20 симметрично расположенных относительо измерительного стержня, на которых шарнирно закреплены тяги 7 и 8., связывающие наконечники с втулками 4 и 5 Соответственно. Тяги закреплены на 25 втулках шарнирно, В зависимости от гого, выпуклая либо вогнутая...

Способ измерения отклонений шариков от сферичности и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1469335

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Артемова, Гайдуков, Ковалев

МПК: G01B 5/22

Метки: отклонений, сферичности, шариков

...диаметру шарика, регистрируют датчиком линейных перемещений,Устройство для реализации предлагаемого способа содержит станину 1 с 30опорной плоскостью 2 и измеритель 3с опорной плоскостью 4, параллельнойопорной плоскости 2, имеющий возможность перемещения в перпендикулярномк ней направлении, Измеритель 3 установлен шарнирно посредством параллелограма иэ пластинчатых пружин 5 накаретке б, которая своей опорнойппоскостью 7 опирается на опорнуюплоскость 2 станины 1. Каретка 6 име Оет воэможность перемещения в продольном и поперечном направлениях относительно неподвижной опорной плоскости 2за счет привода 8, закрепленного на станине 1, Для регистрации перемещений 45измерителя 3 в перпендикулярномопорной плоскости 2 направлениислужит...

Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1502956

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Махлина, Полукарова, Юрасов

МПК: G01B 5/22

Метки: вогнутых, выпуклых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических

...где к радиус кривизны выпуклойконтролируемой поверхности;г - радиус кривизны соответст 2вующей вогнутой эталоннойповерхности. 15 пЬ, - Ь 2ф радиус кривизны вогнутой контролируемой поверхности; радиус кривизны соответствующей выпуклой эталоннойповерхности; где К,ь,и Ь - перемещения контролиру 2емой детали относительно Составитель Е. РодионоваТехред И,Дидык Корректор Н. Король Редактор Н. Рогулич Заказ 5076/52 Тираж 683 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб ц. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 1. Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей, заключающийся в сравнении...

Контактный сферометр

Загрузка...

Номер патента: 1511583

Опубликовано: 30.09.1989

Авторы: Лямин, Хребтов

МПК: G01B 5/22

Метки: контактный, сферометр

...пов нЦель изобр ености контроля рповерхностей загрешностей настрсфере.На фиг. 1сферометр, обА на фиг. 1.Контактный сфпус 1, в осевомрасполагается цил ктный сферометр работает сбразом.где В - среднее значение радиусасконтролируемой сферическойповерхности, мм; 15г - радиус сферических опор, мм,г - радиус цилиндрического изомерительного штока, мм.настройке на меру, установленую на прецизионную плоскость, накла дывают контактный сферометр. При этом его опоры 4 должны лежать на верхнем торце меры, а измерительный шток 2 - упираться в прецизионную плоскость, на которой установлена мера, после чего на отсчетном узле 5 фиксируется показание, соответствующее Ь , Бла - годаря конструкции сферометра указанное показание отсчетного узла 5...

Способ контроля радиуса части сферы

Загрузка...

Номер патента: 1516740

Опубликовано: 23.10.1989

Автор: Ковынев

МПК: G01B 5/22

Метки: радиуса, сферы, части

...схе,а устройства реалиэапии сиссоба,устройство содержит отсчетныеузлы 1 и 2 с измерительными стержнями 3 и 4, расположенными параллельнонормали "А" на равных расстоянияхмежду нормалью "А" и между собой,Способ контроля осуществляетсяедуюшим образом.По эталонной детали отсчетныеузлы 1 и 2 настраивают на разностьЬ высот профиля на расстояниях"с. Затем к поверхности части сфе 6,801516740 А 1 поверхности и диодят измеристержни 3 и 4 предварительстроенных отсчетных узлов 1 и 2, 1 асиолагают измерительные стержни 3 и 4 параллельно нормали "А", проходящей через вершину части сферы 5 на равных расстояниях между собойнормалью "А, Радиус с е ы К определяют по формуле К = (Зс -Ь ) /4 Ь +2 ЧУГ + 4 с , где с - расстояние между осями...

Устройство для измерения отклонения формы внутренних сферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1522020

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Верховский, Карасев, Ковалышин, Лозинский, Михайлив, Никифорук, Чекмарев

МПК: G01B 5/22

Метки: внутренних, отклонения, поверхностей, сферических, формы

...20и осветителем 21 и периодически поступает через усилительно-регистрирующую аппаратуру в вычислительныйузел, Величина погрешности фиксируется по точкам считывания результатов измерения и в цифровом виде выдается на экране АЦПУ вычислительного узла. 1 э,п. ф-лы, 8 ил. ром 12, подпружинен к нему пружиной 19. Узел 2 ввода информации выполнен в виде фотодиода 20 и осветителя 21, установленных на базовой поверхности 5 корпуса 4 по разные стороны стенки стакана 11, усилительно-регистрирующей аппаратуры и устройст= ва считывания результатов измерений и электрически связан с преобразователем линейных перемещений и вычис-. лительным узлом 3. Линии 22-29 являются линиями расположения точек считывания результатов измерения.Устройство работает...

Прибор для измерения профиля постоянной кривизны тела вращения

Загрузка...

Номер патента: 1585647

Опубликовано: 15.08.1990

Авторы: Бабак, Ковалев

МПК: G01B 5/22

Метки: вращения, кривизны, постоянной, прибор, профиля, тела

...перемещения штока 2 в стенке стакана 1 имеется ограничительный винт 6. Полость сообщена с атмосферой через дроссельное отверстие с приспособлением для регулировки его проходного сечения, выполненного в виде резьбовой втулки 7 с прорезью и накидной гайки 8.Прибор работает следующим образом.Перед измерением втулку 2 заглубляют в стакан 1 (фиг. 1) или выдвигают из стакана (фиг. 2) на заданный размер между их торцами и устанавливают стрелку индикатора на ноль, после чего втулку выдвигают из стакана до упора в ограничительный винт 6. Затем регулируют сечение дроссельного отверстия перемещением гайки 8 на втулке 7,При измерении шток 2 мерительным пояском 4 вводят в контакт с измеряемой поверхностью детали 9 и, прилагая внешнюю нагрузку...

Способ измерения радиуса вогнутой сферической поверхности и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1587314

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Голубева, Корнеев

МПК: G01B 5/22

Метки: вогнутой, поверхности, радиуса, сферической

...поверхности объекта 9 эталонный измерительныйсферический элемент 2, Совмещают центрсферы измерительного элемента 2 с центром сферы измеряемого объекта 9, для чего,перемещая обьект 9 в горизонтальной плоскости при подключенных к соплам 3 и 4измерительного сферического элемента 2системы подачи воздуха и отсчетного манометрического устройства, добиваются совмещенид центра сферы измеряемогообъекта 9 с осью измерительного элемента2, на что указывают равные показания истечения сжатого воздуха из сопел 3 в плоскости А-А и из сопел 4 в плоскости Б-Б, а элемента 2 определяют искомый радиус вогнутой сферической поверхности обьекта 9.2 с,п. ф-лы, 1 ил. затем, перемещая измерительный сферический элемент 2 вдоль оси В-В с помощью микроподачи...

Способ измерения отклонений формы поверхности полых тел вращения от сферы

Загрузка...

Номер патента: 1597512

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Пильщиков, Свидерский, Стрелец, Трофимов

МПК: G01B 5/22

Метки: вращения, отклонений, поверхности, полых, сферы, тел, формы

...и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано вмашиностроении для измерения отклонений от сферичности деталей с неполнойсферической поверхностью. 5Целью изобретения является повышение точности и производительности.На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ измерения отклонений, 10Способ реализуется следующим образом,Деталь 1 устанавливают с помощьюкрепящего узла 2 на поворотный стол 3 так,что оси вращения его и детали 1 совпадают. 15Устанавливают механизм измерения, содержащий штангу 4 с индикатором 5, настойке б так, что ось 7 качания штанги...

Нутромер

Загрузка...

Номер патента: 1603181

Опубликовано: 30.10.1990

Авторы: Куткин, Щербаков

МПК: G01B 5/22

Метки: нутромер

...отверстия нли выточки.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет измерения диаметра внутренней сферы.На чертеже схематически представлен нутромер.Нутромер содержит корпус 1 с осевым отверстием, опорный наконечник 2, выполненный в виде цилиндра с 15 перпендикулярно расположенным относительно него торцом 3, установленный в осевом отверстии корпуса 1 измерительный стержень 4 с конусом 5 на рабочем конце, ось которого совпадает с осью опорного наконечника 2, шарики 6, равномерно расположенные по периметру корпуса 1 в радиальных направляющих 7, выполненных параллельно торцу 3, и установленный в 25 корпусе 1 отсчетный узел 8, взаимодействующий с измерительным стержнем 4. В измерительном стержне 4 закреплен арретир 9,...

Устройство для измерения радиуса кривизны и отклонения поверхности от сферической

Загрузка...

Номер патента: 1652802

Опубликовано: 30.05.1991

Авторы: Лахин, Черкашина

МПК: G01B 5/22

Метки: кривизны, отклонения, поверхности, радиуса, сферической

...и установленными с возможностью перемещения в осевом направлении опорами.Опоры выполнены в виде соединенныхкольцом 9 клиновидных вкладышей 10, охватываемых центоирующими пружиннымипетлями 11. Перемещение и фиксация державки 2 относительно корпуса 1 осущес гвляется винтами 12 и 13,Устройство работает следующим образом,25Перемещая измерительный наконечник 8 вдоль его оси, устанавливаютпо микрометру расчетный радиускривизны. Для удобства настройки размера на держателе 4 должен быть выполнен 30точно, При этом отсчетный узел 6 устанавливают на "ноль". Корпус 1 устанавливаютторцом Т на торец контролируемой детали.Затем в корпусе 1 устанавливают державку2 с держателем 4, причем для центрирования державки 2 относительно корпуса 1...

Способ определения формы сферической поверхности изделий

Загрузка...

Номер патента: 1668850

Опубликовано: 07.08.1991

Авторы: Кудрин, Осипенко, Сталевич, Степанов

МПК: G01B 5/22

Метки: поверхности, сферической, формы

...на фиг. 3 - то 15 же, с отверстием на полюсе.Схема содержит контролируемую поверхность 1, сферическую поверхность 2 номинального радиуса В с центром 0 и узловую сферическую поверхность 3 с цен тром 01,Способ осуществляют следующим образом.С помощью трафарета осуществляют разметку контролируемой поверхности 1 25 так, что измеряемые точки распределяются по поверхности 1 с учетомудобства определения их координат и относящихся к ним элементарных площадей. При выборе числа точек учитывают размеры и форму по верхности 1. Каждая измеряемая точка размещается в центресвоегоучастка. Определя ют площади. соответствующих участков разметки. При контроле полных сфер или сферических сегментов площади участков 35 определяют по формуле сЯ= В...

Устройство для измерения отклонения формы внутренней поверхности экрана кинескопа

Загрузка...

Номер патента: 1675655

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Верховский, Карасев, Лапенин, Никифорук, Федоров, Чекмарев

МПК: G01B 5/22

Метки: внутренней, кинескопа, отклонения, поверхности, формы, экрана

...вычислительного комплекса 18 на базе малой ЭВМ с периферийным устройством 19. Преобразователь 17 линейных перемещений размещен в штоке 11 и связан с наконечником 12 Цля установки измерительного наконечника 12 штанги 4 в нулевое положение (точка начала измерений) установка снабжена механизмом нулевого отсчета (не показан).Устройство для измерения работает следующим образом,В исходном положении пневматический наконечник 12 находится в точке 0 начала измерения, выставленной с помощью устройства нулевого отсчетаКонтролируемый экран устанавливают на опоры 17 и фиксируют упорами 8 и прижимами 9. Через каналы штанги 11 подают сжатый воздух(на фиг,2 стрелка "Воздух" ) в рабочий зазор между торцом измерительного наконечника 12 и...

Устройство для измерения внутренних сфер

Загрузка...

Номер патента: 1698619

Опубликовано: 15.12.1991

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/22

Метки: внутренних, сфер

...пружиной 6, На свободныхконцах рычагов 2 закреплены базовые элементы, выполненные в виде шариков 7 ироликов 8.На одном конце корпуса закрепленшарнир 9, в котором установлена пеноль 10с возможностью регулировки вдоль своейоси. В пеноли 10 размещен соосно ей преобразователь 11 линейных перемещений.На том же конце корпуса 1 выполнена площадка 12, перпендикулярная его оси. Стебель 4 имеет возможность регулировкивдоль оси корпуса 1,Устройство работает следующим образом.Устанавливают устройство базовымиэлементами 7 в контролируемую сферу, упирая базовые элементы 8 в торец детали.Перемещая стебель 4 вдоль оси корпуса 1 ипеноль 10 в шарнире 9, добиваются того,чтобы при покачивании пеноли 10 преобразователь 11 линейных перемещений...

Устройство для измерения параметров внутренних сфер

Загрузка...

Номер патента: 1698620

Опубликовано: 15.12.1991

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/22

Метки: внутренних, параметров, сфер

...1 угол а ), тем35 больший радиус г 1 можно использовать.Так, для радиуса й= 77; и= 60 мм (= 17 мм)при г=0,1 мм будет возникать определенная погрешность;й = дгСЯП = 12 4620",о5 10 30 радиус г 1. Погрешности радиуса Л Я являются предварительными для устройства, изображенного на фиг. 4, т,е. радиус Я 1 используется дгя предварительной установки корпуса 1 по отношению к наконечникам 18 и 19, определяется величина смещения и устанавливается по измерителю 25, Манипулируя рукояткой 31 и стеблем 27, корректируют погрешность Л В посредством нахождения среднего отклонения радиуса Я от геометрической формы контролируемой детали 15, т,е. совмещают центр радиуса Я (его усредненного значения) с осью шарнира 24, тем самым находя-, это усредненное...

Способ контроля шаров

Загрузка...

Номер патента: 1716303

Опубликовано: 28.02.1992

Авторы: Ахматов, Прилуцкий, Пряничников

МПК: G01B 5/22

Метки: шаров

...усеченного конуса с вершиной 01 и основанием О и усеченного конуса с вершиной 02 и основанием О. Оси ОО и 020 усеченных конусов совпадают и находятся на общей оси -. Усеченные конуса материализованы планшайбами 4 и 5. Планшайбы 4 и 5 соосны и установлены с возможностью вращения вокруг общей оси-от двигателя и передаточных звеньев (не показаны) с различными по величине и направлению угловыми скоростями. Шар 1 покоится на внутренних поверхностях 6 и 7 планшайб 4 и 5 соответственно, контактирует с ними в точках Б и В, расположенных на поверхностях-и-контакта. С шаром 1 может контактировать платформа 8, например, с датчиком неровностей или на нем может находиться тубус 9 оптической части устройства, который отсутствует при визуальном...

Контактный сферометр

Загрузка...

Номер патента: 1733912

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Антонов, Гвоздев, Петренко, Фурменков

МПК: G01B 5/22

Метки: контактный, сферометр

...На опоре 6 размещен индекс 7, предназначенный для взаимодействия со шкалой 5, Две другие опоры установочного базирующего механизма выполнены в виде пяток 8, 9, расположенных на прижимных планках 10, 11, закрепленных, на ползуне 12, перемещающемся в направляющих 13, установленных на основании 1, Пружины 14, 15 прижимают полэун 12 к кулачку 16, который имеет возможность поворачиваться вокруг оси 17 припомощи рукоятки 18. Контактный щуп 19, имеющий возможность контактировать с измеряемым. профилем детали, закреплен на каретке 20, в верхней части которой закреплена измерительная головка 21, измерительный наконечник который имеет воэможность контактировать с эталонной деталью 22, используемой в виде измерительной базы и неподвижно...

Устройство для контроля шаров

Загрузка...

Номер патента: 1770728

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Прилуцкий

МПК: G01B 5/22

Метки: шаров

...для контроля шаров (вертикальный разрез по двум опорам).Шар 1 с центром Ош установлен одновременно на двух внутренних поверхностях 2 и 3; соответственно, двух опор: усеченного конуса с вершиной 01, основанием АБ и усеченного конуса с вершиной 02 и основанием ВГ, Усеченный конус ОСЛАБ имеет ось 1 - 1 и диаметр Д 1, а усеченный конус 02 ВГ- ось П - П и диаметр Д 2, причем Д Д 2, Внутренние поверхности 2 и 3 принадлежат планшайбам 4 и 5, соответственно. План- шайба 4 установлена на шпинделе 6 в подшипниках 7 бабки 8, которая имеет возможность перемещаться по направляющим корпуса 9 в направлении 1-1, План- шайба 5 установлена на шпинделе 10 в подшипниках 11 бабки 12. Корпус 9 имеет базовую плоскость 13, на которой он покоится,...

Устройство для измерения диаметров сферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1770729

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/22

Метки: диаметров, поверхностей, сферических

...условие упрощает способ определения радиуса кривизны сферической поверхности Р, Вследствие того, что измерительный щуп выполнен в виде диска 4, имеется возможность измерять радиус кривизны сферических поверхностей и с центральным отверстием "в". Использование щупа в виде диска 4 исключает также погрешности взаимодействия щупа с местными изъянами поверхности,На корпусе 1 укреплена ручка 5. Перемещение стержня 3 в корпусе 1 фиксируется винтом 6. В ручке 5 размещен преобразователь 7 линейных перемещений (его неподвижная часть). Шток 3 подпружинен пружиной 8. Сигналы с преобразователя 7 поступают нз электронную систему 9, Устройство устанавливается на контролируемой детали 10.Процесс измерения состоит в следующем. 5 Радиус кривизны й...

Устройство для измерения диаметра сферы

Загрузка...

Номер патента: 1776974

Опубликовано: 23.11.1992

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/22

Метки: диаметра, сферы

...оси, перпендикулярной оси штока, двумя втулками, каждая из которых установлена коаксиально соответствующей направляющей с возможностью перемещения вдоль нее и фиксации, причем базовый элемент жестко закреплен на одних из торцев обеих втулок, позволило повысить точность и информативность измерения, исключив из процесса измерения настройку устройства и проведение дополнительных операций,На чертеже изображен общий вид устройства,Оно состоит из корпуса 1, в котором укреплен стебель 2. В нем подвижно размещен шток 3 со сферическим измерительным1776974 4550 откуда наконечником "а" нв нижнем конце. Шток 3 подпружинен пружиной 4. Со стеблем 2 жестко соединен насадок 5, внутри которого установлен преобразователь линейных перемещений 6,...

Устройство для измерения радиуса сферической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1776975

Опубликовано: 23.11.1992

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/22

Метки: поверхности, радиуса, сферической

...корпуса 1 подвижно установлен полый шток 4 с внутренним стакэ ном 5 в нижней его части, на торце жестко укреплен измерительный элемент 6, выполненный также в виде тонкостенного кольца, причем измерительный элемент 6 установлен коаксиально базовому элементу 3. 40Измерительные элементы 3 и 6 выполнены высокоточными и тонкостенными, толщина 8 стенок которых 8 - 0,2-0,25 мм, причем лезвия их имеют двустороннюю заточку и угол заточки а5. Это условие 45 обеспечивает высокую точность измерения внутренних и наружных сферических поверхностей, поскольку линии контакта при измерении внутренних сфер однозначно совпадают с линиями контакта при измере нии наружных сфер. Измерительные элемейты 3 и 6 выполняют двойную функцию: при измерении...

Устройство для измерения радиуса детали

Загрузка...

Номер патента: 1809291

Опубликовано: 15.04.1993

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/08, G01B 5/22

Метки: детали, радиуса

...4. Штанга 4 фиксируется в стебле 3 винтом 8, а каретка 2 на дуговой штанге 1 - винтом 9. Штанги 4 подпружинены пружинами 10. Устройство снабжено рукояткой 11, а штанги 4 имеют в нижней части контактную поверхность щупа 12, От выпадения и разворота опоры 5 удерживаются штифтами 13. Устройство устанавливается на контролируемый объект 14.Работает устройство следующим образом.Раздвигают каретки 2 на дуговой штанге 1 и крепят их винтами 9. Устанавливают устройство на контролируемый объект 14 и нажимают нв рукоятку 11. Усилие пружины 10 выбрано меньше, чем сила притяжения магнитных присосок 5, поэтому последние будут самоустанавливаться на контролируемой поверхности, занимая однозначное положение, плотно прижимаясь линией контакта а к...

Устройство для измерения радиуса сферической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1820192

Опубликовано: 07.06.1993

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/22

Метки: поверхности, радиуса, сферической

...установлены коаксиально и параллельно межДу собой, Диаметры дисков также равны соответственно б и Ф, а их верхние срезы отстоят друг от друга на расстоянии Н.Внутри штока 3 размещена рабочая пружина 10, ограниченная упорами (штифтами) 11, которые свободно размещены в пазах 12. Усилие пружины 10 выбрано с таким условием, чтобы оно было вдвое меньше веса устройства. Зто обстоятельство обеспечивает взаимодействие измерительных элементов 4,5 и 8,9 с контролируемыми поверхностями с одинаковым усилием, что повьпоает точность измерения. Точность измерения повышает также взаимодействие измерительных элементов по прилегающим окружностям, т,к, оно исключает влияние местных погрешностей. поверхности и ее формы, Устройство снабжено отсчетным...

Устройство для контроля шаров

Загрузка...

Номер патента: 1837149

Опубликовано: 30.08.1993

Автор: Прилуцкий

МПК: G01B 5/22

Метки: шаров

...второй опорыплаишайбы 4 установлена параллельно базовой плоскости 24 корпуса 25 (условио не показаны).Диаметр основания 6 первого и дополнительного конусов выбирают боа,вим диаметра основания ГД, Вершину Оз располагают в сторону, противоположную базовой плоскости 24 относительно осиовеиия ГД с тем. чтобы первая опоре свободно ре- полегелесь внутри второй опоры. При атом угол а наклона оси 11-11 к оси 062, угол второго усеченного конуса ОзГД, углы первого и дмюяиительиого усФюимьи конусов выбирают из условия, исключавшего выдавливание шара 1 из вйциФ марв Вар 1 йосйе установки иахбдитсю между тремя внутренними поверхностями 2. 3, 8 вращения. Поскольку внутренняя поверхность 8 расположена с противоположной внутренним" поверхностям...

Способ контроля шаров

Загрузка...

Номер патента: 1837150

Опубликовано: 30.08.1993

Автор: Прилуцкий

МПК: G01B 5/22

Метки: шаров

...шара 1 к нему подводят платформу 13 с, например, датчиком пере мещений, либо тубус 14 оптической части прибора. Либо материальные инструментальные части могут отсутствовать в рабочей зоне измерений, например, при визуальном наблюдении. Установка шара 1 25 на опору с осью Н, позволяет во много крат увеличить площадь контакта шара с внутренней поверхностью 2 по замкнутой окружности с центром Ок, а следовательно, увеличить устойчивость шара 1. Это позво ляет повысить точность измерения, т.к. погрешности установки и кинетические погрешности вдоль оси Н сведены до минимума. Такая схема установки позволяет увеличить производительность измерения 35 за счет сообщения шару 1 увеличенных постоянных слагаемых угловых скоростей при одновременном...