B01D 59/44 — разделение масс-спектрографией

Номер патента: 408201

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: идентификации, ионов, многозарядных

...состава отношение тп/Е, ряды измеряютк вторичной посии, которые заанализе отличаюпарциа аковое чине за ионов то ой эмис Изобретение относится к области масс-спектрометрии,Известные способы позволяют определить парциальный состав ионного пучка с точностью до отношения т/Е, т. е. ионы с разными массами и с разными зарядами, но имеющие одинаковое отношение т/Е, регистрируются как ионы одного сорта.С целью определения парциального состава низкозарядных и высокозарядных ионов, в смешанном пучке используется явление вторичной ионно-электронной потенциальной эмиссии, вызываемой многозарядными ионами,Сущность способа идентификации многозарядных ионов заключается в том, что коэффициент потенциальной эмиссии электронов пропорционален полной...

Номер патента: 364889

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Вител

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: ссср

...плотность ионного тока, выводимого из источника.В предложенном ионном источнике эти недостатки устранены за счет того, что полый катод выполнен в виде прямонакального тонкостенного усеченного конуса.На чертеже показана схема предложенного ионного источника,Анод 1 и катод 2 образуют разрядную камеру, Трубчатый анод служит одновременно для напуска рабочего вещества. Полый прямо- накальный конусный катод, является эмиттером электронов, а узкий конец конуса - выходным отверстием. Вытягивание и формироляется ионно-оп дмет изобрете-спектрометра, содеранод, полый катод и у, отличающийся тем, плотности ионного тоен в виде прямонаусеченного конуса,Ион ныи жащий цил ионно-оптич что, с цель ка, полый кального то источник...

Номер патента: 366400

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: ссср

...откачки выполнено в виде герметизированного объема, соединенного с анализатором через дросселирующий канал и снабженного клапаном, соединяющим объем с окружающей средой. На чертеже показана схема предложенногомасс-спектрометра.Анализатор 1 масс-спектрометра любоготипа соединен с устройством 2 ввода пробы, в 5 качестве которого может быть использованадиафрагма с малым отверстием или отрезок капплляра, обеспечивающие необходимую разницу давлений между исследуемой средой и анализатором. Дросселирующий канал а О обеспечивает заданную скорость откачки анализатора, объем А представляет собои герметическую емкость. Клапан 3 установлен ца выходе объема ц служит для сообщения с окружающей средой.5 При прохождении летательным...

Номер патента: 369478

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Мартынкевич, Ненарокомо, Рафальсон, Шутоц

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: ионов, источник, масс-спектрометра

...под углом к оси камеры ионизации, а между катодом и подкатодной щелью установлена система отклонения электронного пучка, которая может быть выполнена электростатической или магнитной. 20При такой конструкции область горячего катода оказывается отделенной от области ионизации большим сопротивлением газовому потоку, и, таким образом, проникновение продуктов химических реакций на катоде в 25 область ионизации практически исключается,На фиг. 1 изображена принципиальная схема источника с отклоняющим электростатическим конденсатором; на фиг. 2 - схема источника с отклоняющим магнитным полем,Обе конструкции включают в себя катод 1, ускоряющий электрод 2, отклоняющую систему 3 и ионизационную камеру 4. Электроны, эмиттируемые катодом 1,...

Номер патента: 379279

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: пйтерво-тешмнм

...заряда е/т, входящие в однородное гиперболическое поле анализатора через точку, лежащую на оси анализатора, и имеющие одинаковую ак сиальную скорость независимо от угла входа,фокусируются на оси анализатора в узлах биений. Узлы, кратные половине периода биений, представляют собой мнимые фокусы, кратные целому периоду биений - действительные фокусы.В предлагаемом квадрупольном масс-спектрометре используют указанный характер тра-. екторий ионов, Ионный пучок вводят из экранированной области через щель в экране непосредственно в однородное поле анализато ра под углом к его оси. Ионы, вошедшие в анализатор, совершают колебания в однородном гиперболическом поле над экранном, огибают экран так, что их первый мнимый фокус лежит в...

Номер патента: 418206

Опубликовано: 05.03.1974

Авторы: Лебедев, Морозов

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: i••, v•(•, ионных, массам, пучков, с»mm, сепарации, трубчатых

...системы к ого ферромаг е поле созд оля на нитные атушек нитного ается с изолятор 1, ферромагленоиды 3, цплиндри418206 Таким образом, в деазимутаторе вращательный момент, приобретенный в азимутаторе, компенсируется и ионы выходят из сепаратора без азимутальной скорости, но разделенные по 5 массам, При такой структуре полей сепараторобеспечивает фокусировку ионного пучка, имеющего расхождение в радиальном направлении. Кроме того, в сепараторе отсутствует хроматическая аберрация, связанная с на чальным разбросом угловых скоростей ов ионов, выходящих из источника.Существенной особенностью устройства является его транзитивность: оно работает как с компенсированнЬми, так и с некомпенсиро ванными пучками. Это связано с тем, что поля Е и Н...

Номер патента: 418785

Опубликовано: 05.03.1974

Авторы: Алпатьев, Васильев, Дубинский, Институт, Черепин

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: датчик, масс-анализатора, монопольного

...мцогокацальцой сепарации ионов определенной массы в нескольких самостоятельных ионных пучках без изменения габаритов одноканального монопольного масс-анализатора. Цель достигается изменением конструкции заземленного электрода. Оц выполнен в виле прямоугольной трубы квадратного сечения, собранной из четырех плоскопараллельцых пластин. Расположение круглого электрода по оси прямоугольной трубы приводит к образованию при вершинах прямых углов четырех идентичных каналов, каждый из которых имеет те же параметры, что и в одноканальном датчике масс-анализатора. При этом габарптные размеры датчика остаются цецзмеццымц.Схема 1 эдсположени 51 элект 1 зодов п 1 зиведеца ца чертеже.Датчик работает следующим образом. Если 5 на круглый...

Номер патента: 427275

Опубликовано: 05.05.1974

Авторы: Афросимов, Гладковский, Петров

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализатор, атомных, многоканальный, частиц

...влияние электромагнитного излучения плазмы на засветку детекторов.Целью изобретения является уменьшениепотерь частиц в процессе анализа; увеличение относительной светосилы в области высокоэнергетичной части спектра; обеспечение защиты детекторов от влияния электромагнитного излучения плазмы.Сущность изобретения заключается в том,что между электростатическим анализирующим конденсатором частиц по энергиям и системои детектирования иыконцентрически изогнутыеняющие пластины с ради рским полем.5 На чертеже показан пятиканальный анализатор атомных частиц,Анализатор состоит из источника ионов 1,электростатического анализирующего конденсатора 2, одна пластина которого параллель 0 на оси источника ионов, а другая расположена под углом к этой...

Номер патента: 430314

Опубликовано: 30.05.1974

Авторы: Гуй, Зьков, Кельман

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: масс-спектрометр

...повышается стоимость масс-спектрометра,Цель изобретения - упрощение конструкции прибора, уменьшение мощности и габаритов отклоняющих магнитов и облегчение эксплуатации,Это лостигаегся тем, чтоская часть масс-спектрометрвиде лвух цилиндрических спектрометр солержпт источник 1войную электростатическую систему ю магнитную систему 3 и приемни ионов, д2, лвойнук4 ионов.15 В перовом варианте преллагаемого массспектрометра (фиг. 1) пучок ионов, выхолящий из источника 1, попалает в двойную электростатическую систему 2. Последняя разЛеляет ионы по энергии и фпкусирует пучок 20 ионов с выбранной энергией в месте расположения энергетической щели 5, которая, таким ооразом, пропускает только ионы с энергией, лежащей в определенном интервале...

Номер патента: 433917

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Багров, Изобретени, Моталова

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализатор, масс-спектрометраа, однопольного, упипсз

...ионы, инжектн руемые в анализатор перпендикулярно к полю, при прохождении анализатора испытывают периодическое воздействие электрического поля. Проходя диск с отрицательным потенциалом, ионы фокусируются вдоль оси ОУ, 20 а проходя диск с положительным потенциалом - расфокуспруются в направлении оси ОХ. Благодаря отрицательному смещеничо более жесткая фокусировка осуществляется вдоль оси 01.25 Как и в известном устройстве, ионы, двигаясь в электрическом поле с переменным потенциалом, совершают колебания с различной амплитудой, величина которой определяется напряженностью поля, его частотой, массой и зо зарядом. Всю длину анализатора при задан433917 Составитель Ю. Сухарев Техред Г. Дворина Корректор О. Усов едактор И. Орлов Тираж...

Номер патента: 433918

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Занский, Матвеев, Самодуров, Шеретов

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: датчик, квадрупольного, масс-спектрометра, трехмерного

...от использования электронных умножителей открытого типа и переходить на применение преобразовательного устройства с фотоэлектронным умножителем. При этом площадь входного окка фотоумножителя для увеличения чувствительности приходится увеличивать, что также приводит к увеличению габаритов датчика. С целью увеличения чувствительности,устойчивости работы датчика при повышенных давлениях и уменьшения его габаритовв предлагаемом датчике между выходным5 торцевым электродом и приемником ионоврасполагают систему соосных усеченных конусов, причем конус с наибольшим диаметромимеет выступ в сторону приемного устройства. Это обеспечивает фокусировку вторичных10 электронов к центру симметрии системы.Предлагаемый датчик изображен на чертеже,...

Номер патента: 433919

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Додонов, Кудров, Сшш, Тальрозе

МПК: B01D 59/44

Метки: ионов, источник, масс-спектрометра

...распределением потенциала в области ионизацин.Цель изобретения - увеличение чувствительности ионного источника.Это достигается тем, что в предлагаемом источнике ионов масс-спектрометра понизатор выполнен из шести сеток, помещаемых между анодом и катодом: двух центральных, расположенных под углом одна к другой и расходящихся в направлении движения ионов, двух экранирующих сеток, антидипатронной сетки и вытягивающей сетки.На чертеже показана схема источника ионов.Источник содержит катод 1 косвенного нагрева, первичный катод 2, вытягивающую сстку 3, экранирующую сето 4 со стороны като да, сетки 5 и 6, ограничивающие область ионизации и расположенные под углом относительно осп источника так, что расстояние 5 между ними увеличивается в...

Номер патента: 435841

Опубликовано: 15.07.1974

Авторы: Гриб, Лифарь, Попов, Чеканов

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: u-электричества, количества, масс-спектра, пиках, регистрации

...Л 1 с сопротивлением в катоде Я 10, задающим режим работы, и колебательным контуром 1.С 4 сеточной цепи. Положительная обратная связь осуществляется индуктивностью 1,включенной в анодную цепь лампы.Колебательный контур через переходную емкость СЗ подключен к нагрузке пропускателя й 9.Усилитель синусоидальных колебаний регенератора выполнен на лампе ЛС с аноднокатодными сопротивлениями Р 12, 013, управляющая сетка подключена через переходную цепь С 5, Я 11 к аноду Л 1,Диодный ограничитель подключен к аноду Л 2 через разделительную емкость Сб и содержит ограничительное сопротивление Р 14, диод Д 5 и параллельно подключенный к нему стабилитрон Дб,Имеется также эмиттерный повторитель на триоде Т 4. База триода подключена к выходу...

Номер патента: 438431

Опубликовано: 05.08.1974

Авторы: Ануфриев, Мамырин

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: масс-спектрометр

...конденсатор 6. При помощи последнего луч направляется в выходную щель 10, далее в выводящий конденсатор 9 и на первый диод вторичного электронного умножителя (ВЭУ) . Выходной сигнал ВЭУ подается на вход регистрирующего устройства 12.В динамическом режиме работы на модулятор 3 подается высокочастотное напряжение. С корректирующего конденсатора 6 снято постоянное напряжение. Ионный луч от источника 2 попадает в модулятор 3, получает приращение энергии и, огибая конденсатор 6, проходит щель дрейфа 13. Затем вновь попадает в модулятор 3, где получает вторичное приращение энергии, позволяющие ионам пройти выходную щель 10. Дальнейшая траектория ионов и регистрация сигнала такие же, как в статическом режиме.Предложенный масс-спектрометр,...

Номер патента: 439303

Опубликовано: 15.08.1974

Авторы: Клешков, Нечаева, Павленко, Рафальсон, Цымберов, Шутов

МПК: B01D 59/44

Метки: масс, масс-спектрометр, разверткой, спектра, электростатической

...дискриминации ионов по массам,Конструкция источника ионов, работающего в не изменяющихся условиях для всех ионов, обеспечивает равные наиболее эффективные для данного источника ионов условия образования, вытягивания, формирования и ускорения ионов, а развертка масс-спектра осуществляется дополнительным специальным электродом, на который подается напряжение сканирования и расположенным в анализаторе за ускоряющим электродом источника ионов.Такая конструкция анализатора приводит к получению пучка ионов из источника одинаковой интенсивности и формы, независимо от массы исследуемого вещества, Полученный таким образом пучок ионов входит в область между ускоряющим электродом источника ионов и сканирующим электродом (электродом, определяющим...

Номер патента: 456627

Опубликовано: 15.01.1975

Авторы: Багров, Соловьев, Тесленко

МПК: B01D 59/44

Метки: анализатор, масс-спектрометра, однопольного

...осуществляетссатора особой формы, на элподаются в определенномстоянное. и высокочастотное ширение динамиче например, путем и Целью изобрете динамического д 5 тока,Это достигается масс-спектрометре танавливают элект ванный от электр 10 рый подается пос величина которого тельно уголковогоского диапазона возможно, зменения тока эмиссии. ния является расширение иапазона регистрируемого На чертеже представлена конструкция пред лагаемого анализатора однопольного массспектрометра. Центральный электрод 1 и уголковый 2 расположены так, что между ними создается поле, имеющее в поперечном сечении конфигурацию гиперболического. Элек трод 3 расположен между входной диафрагмой и центральным электродом, в котором соосно с входной диафрагмой расположено...

Номер патента: 457482

Опубликовано: 25.01.1975

Авторы: Бережной, Кузьмин, Мельничук

МПК: B01D 59/44

Метки: квадрупольного, массспектрометра, напряжений, стабилизации, стержнях

...схема абилизаци льного ма управляю тоянного т тер жни а ры 5,6,п а коррекции имее ентов, чем известна РИзвестно устройствопряжений на стержняспектрометра, содержающего напряжения, втор, подключенный канализатора, детекторпряжения и усилительОднако для полученс постоянной ширинойне масс необходима кпряжений.Целью изобретениястоянкой ширины пикдиапазоне масс.Для этого выход инапряжения подключецелителя, выполненнорезисторах, а выход днагрузки детектора плинейного делителя,Г, А. Бережной, А. Ф. Кузьмин и Е, Я. Мельн Специальное конструкторское бюро аналитическотп приборостроения АН СССРВ предложенном устройстве для полученияпостоянной ширины пиков масс-спектра во всем диапазоне масс введена схема коррек ции отношения напряжений,...

Номер патента: 462601

Опубликовано: 05.03.1975

Авторы: Коняев, Кукавадзе, Требуховский

МПК: B01D 59/44

Метки: ионно-электронный, масс-спектрометра

...поэнергиям.Электрическая часть ИЭП включает в себя25 фотоумножитель 13 для регистрации фоновыхизлучений, световой диод 14 для проверки инастройки всего тракта, дискриминаторы, формирователи времени на туннельном диодеДФВ, - ДФВ 4, усилители У 1 - У 4, однокаЗ 0 нальные анализаторы амплитуды (ОА, - ОА,), 462601многоканальный анализатор амплитуды (МА), линию задержки на время т; быструю схему совпадения времени (БССВ); схему антисовпадений (САС); медленную схему совпадений (МСС); пересчетные схемы (ПС). На блок-схеме не показаны генератор для питания светового диода, высоковольтные стабилизаторы для ФЭУ и блок питания схемы.ИЭП работает следующим образом. Первичный пучок ионов, выходящий из анализатора масс-спекгрометра, попадает на...

Номер патента: 469479

Опубликовано: 05.05.1975

Авторы: Акимов, Русин

МПК: B01D 59/44

Метки: анализатор, квадрупольного, масс-спектрометра

...установки электродов.Для этого в данном анализаторе на обоих концах каждого из электродов жестко укреплены втулки круглого сечения одинакового диаметра, выполненные из электроизоляционного материала. При этом наружные поверхности втулок соосны наружным поверхностям электродов, концы электродов установлены в двух цилиндрических обоймах таким образом, что поверхности каждой из втулок соседних электродов взаимно соприкасаются и касаются внутренней поверхности цилиндрической обоймы.Такая система крепления и электроизоляции электродов позволяет повысить точность их установки, так как все устройство содержит минимальное количество деталей, имеющих форму тел вращения, технология обра. ботки которых обеспечивает получение высо,кой точности....

Номер патента: 492294

Опубликовано: 25.11.1975

Автор: Прилуцкий

МПК: B01D 59/44

Метки: ионного, луча, масс-спектрометра, нестабильности, положения, приемной, щели

...комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, гКРаушская набд. 4/5ППП Патент" Москва, Г, ерекковская наб., 4 5Я Ъм - значения тока электромагнита, соответствующие установке в приемную цепь лучейионов с иассовыии чисдаииМ и М 2.При наличии автоматической развертки по спектру иасс с помощью изиенения одного иэ управляющих подожениеи пуча параметров тока эдектромагыита напряженности магнитного поля) ипи ускоряющего напряжения на денте самописца регис трируется спектр иасс.Выполнение всех описанных выше операций в данн ои случае упрощается в связи с тем, что изменение управляющего параметра однозначно связано с движением ленты саионисца, на которой одновременно зарегистрированы колебания интенсивности...

Номер патента: 500806

Опубликовано: 30.01.1976

Авторы: Волков, Шерешевский

МПК: B01D 59/44

Метки: газах, предотвращения, пробоя, электрического

...полюснымн наконечниками магнита.На чертеже схематично изображено предлага. емое устройство,Оно состоит из ионизационной камеры 1, металлических втулок 2, спаев металл. стекло 3, зигзагообразной трубки 4 и магнита 5.Устройство работает следующим обре эом.Между нонизационной камерой 1 и нижней металлической втулкой 2, череэ которую поступает исследуемый газ,имеется разность потенциалов 3 - 5 кв. По внутренней поверхности зигзагообразной трубки 4, являющейся проводником, течет злектри.ческий ток, величина которого за счет длины трубки и выбора покрытия выбирается так, чтобы градиент потенциала не перевышал 600 ом/см. При б этом газовый разряд может возникнуть придавлении ниже 1 мм рт. ст. При возникновении внутри трубки заряженной частицы...

Номер патента: 506426

Опубликовано: 15.03.1976

Авторы: Виноградов, Карачевцев

МПК: B01D 59/44

Метки: анализа, ионов, масс, например, спектрометрического

...явилось упро 5 щение процесса получения ионов,Это достигается тем, что по предлагаемому способу между катодом и камерой ионизации ионного источника создают напряжение, меньшее потенциала ионизации газа,10 а импульсное напряжение подают на коллектор источника.На чертеже изображен источник ионов,работающий по предлагаемому способу и содержащий катод 1, камеру ионизации 2 и15 коллектор электронов 3.Между катодом и камерой ионизации ионного источника подают напряжение (1 - б,),меньшее потенциала ионизации У молекул газовой смеси, а на коллектор электронов по 20 дают импульсное напряжение, ускоряющееэлектроны в коллекторной части до энергий,при которых становятся значительными сечения возбуждения атомов, Для запирания вколлекторной...

Номер патента: 530690

Опубликовано: 05.10.1976

Авторы: Агафонов, Девятых, Фаерман

МПК: B01D 59/44

Метки: анализа, газов, масс-спектрометрического, паров, смесей

...анализируемой смеси. К таким веществам относятся ароматические углеводороды, в частности бензол, который существенно увеличивает интенсивность линий масс 20спектров анализируемых веществ, Кроме того, добавление бензола в разной степениувеличивает интенсивность линий масс-спектров веществ различных классов, что позволяет получать дополнительную инфоомацию опринадлежности компонентов смеси к тому2или иному классу веществ путем сравнениямасс-спектров чистой смеси и смеси с ак -тивирующими веществами. Так, например,при добавлении бензола к смеси, содержащейЗОпредельный углеводород - гептан и хлорзамешенный углеводород - хлороформ, интенсивность линий их масс-спектров увеличивается соответственно в 2 и 1 1 раз, Оптимальное количество...

Номер патента: 522690

Опубликовано: 23.10.1981

Авторы: Кельман, Назаренко, Якушев

МПК: B01D 59/44

Метки: масс-спектрометр, призменный

...щели источника и приемника ионов, перпендикулярно к средней плоскости, 65 С противоположной стороны магнитной призмы, также симметрично отиосительно плоскости 00, установлена система плоских ионных зеркал (электроды 9 и 10) так,что угол между эффективными отражающими поверхностями этих зеркал Оа и оо и гранями призмы равенЯ с4 йВыходящий из каждой точки щели источника расходящийся гомоцентральный пучок ионов после прохождения коллиматорной линзы формируется в объемный параллельный пучок, При этом потенциал на среднем электроде 5 линзы должен быть подобран так, чтобы она работала в режиме анаморфота.Элек. трод 6 заземлен. Электрод 4 является общим как для линзы, так и для отклоняющей телескопической системы.По тенциал на него...

Номер патента: 695446

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Багров, Гальченко, Солодовник

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 37/08 ...

Метки: ионный, источник

...электрод и не столкнув"шихся с молекулами нейтрального газа, 50 ударяется о вытягивающий электрод илидаже проникает в анализатор масс. спектрометра. Оба эти фактора отри"цательно сказываются на работе ионного источника и масс-спектрометра в И целом, так как бомбардировка электронами вытягивающего электрода приводитк значительным локальным разогревам,влекущим за собой тепловые подвижкиЭлектроны, эмиттируемые раскален-зным катодом 3 под воздействием уско-,55 мряющего положительного потенциала з ВНИИПИ Заказ 4146/3 т аж 6 11 роизв.-полигр. нр-тие, г. Ужго 69544и нарушение юстировки, а проникновение быстрых электродов в анализаторвызывает возникновение рентгеновского излучения и ухудшает неконтролиру-.емым образом параметры...

Номер патента: 699956

Опубликовано: 15.04.1989

Автор: Попов

МПК: B01D 59/44, H01J 49/26

Метки: масс-сепаратора, приемное

...короткоживущих нуклидов пу 5 тем одновременного измерения излучений нескольких близких по массе изотопов отдельными, детекторами, повышения чувствигельности и снижения фона за счет удаления друг от друга ис.следуемых источников. Цель достигается тем, что приемное устройство выполнено в виде ленты, навитой на цилиндр, образующая которого расположена в фокальной плоскости масс-сепаратора, причем шаг намотки ленты выбран в соответствии с дисперсией масс-сепаратора, а диаметр цилиндра соответствует заданному расстоянию между детекторами для измерения излучений соседних изотопов.На чертеже дана схема, поясняющая принцип работы приемного устройства масс-сепаратора.На схеме показаны боковая поверхность 1 цилиндра, расположенная в фокальной...

Номер патента: 664412

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Готт, Темный

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/26 ...

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...недостаткам магнианализа следует отнесттосилу прибора; необхной юстировки МА отновзаимовлияние рассеяни электрического полеметрии наобласть вну 01 И 27/62,В 01 0 59:/44Заказ 3048ВНИИПИ Государственн1130 Подписноениям и открытиям приая наб., д. 4/5 Тираж 326о комитета по изобрет Москва, Ж, Раушс Т ССС иааваиаюаВе ю т и аетт ааею аааааваевав а аПроизводственно-издательский комбинат "Патент", гУжгород, ул. Гагарина, 1 О 1 аа-дд аае Этодостигается тем, что потоквъщеленных ионов пропускают сквозьтвердую мишень, в которой потери " Ънергии ионов отличаются на величи 5ну, превышающую дисперсиюих потерь,"и определяют массы ионов путем срав" "нения полученных потерь с известнъяидля мишеней той же толщины и состава,Поток ионов,...

Номер патента: 692362

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Держиев, Рамендик

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...: ", :. трическая прочностьпромежутка пони, Недостатком способа является .жаетсЯ до значения0,7-0,8 .кВ/ми.недостаточная точность результатов . ,: Таким образом, импульсом напряженияанализа (не лучше 10-20 относитель- . : 1 5 кВ можно осуществить"электриценых), Это объясняется тем, цто вслед- ЗОский пробой промежутка длиной 2 мм.ствие высокой электрицескои прочно- Увеличивая. пробивное.напряжение дости вакуума велицина межэлектродного . обычного для масс"спектрометрии знапромежутка при знацениях амплитуды ":- цения .10-20 кВ,;можно снизить велиимпульсного электрицеского напряжения ".,чину локального давления до; 1010-20 кВ составляет"малую величину- 10 мм рт.ст."столба или увелйчить500-200 мкм, В процессе анализа .за. . . межэлек 1...

Номер патента: 1108876

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Васюта, Гречишников, Держиев, Ремендик

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, твердых

...влияющими на атомизацию иионизацню вещества и тем самым на Ео 22 2 10 Дж,правильность и точность результатованализа, являются плотность выделе- а плотность мощности в анодном пятния мощности в приповерхностных слоях з 5 2 10-Фтвердого тела, длительность разряда, не И = = 2 -10 вт/и, в пе "величина напряжения пробоя и ппощадь, 10 10выделения энергии в одном пробое, ресчете на объемную плотность Ю/ зпричем указанные параметры должны - 2 10 вт/ибыть постоянными в процессе проведе- При изменении плотности мощностиния анализа.30состав . масс-спектра меняется. ПриС этой точки зрения известный спо- обычно используемых параметрах разсоб атомизации и ионизации вещества ряда отношение двухразрядных ионовне является оптимальным Полная...

Номер патента: 695295

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Держиев, Рамендик, Черепин

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/34 ...

Метки: анализа, масс-спектрометрического, твердых, тел

...см, так что эплотность мощности, выделяющейсяв поверхностных слоях мишени лежитв диапазоне 10 - 10" Вт/смз.Предлагаемый способ. характеризуется тем, чтов результате мощногоимпульсногб воздействия первичногопучка на образец происходит взрывооб. разное разрушение материала образцана глубину проникновения первичныхионов,в твердое тело (для энергииионов 1"50 кэВ глубина проникновенияменьше 10".ь см) и у поверхности образ"ца образуется облако плазмы с плот- ностью электронов 10 - 1 О см э7 19 -эи температурой электронов 5 эВ, Таким образом ионизация нейтральныхчастиц происходит не. в результатевыбивания отдельных частиц как в ". прототипе, а в плазме по термическому (столкновйтельному) механизму.Это позволяет снизить до одного поряд-.ка...