Датчик монопольного масс-анализатора

Номер патента: 221979

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Линник

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, массам

...высаживаются на электрод 3, так как при движении от электрода 5 к электроду 4 они проходят большую разность потенциалов, чем тормозящая разность лотенциалов между электродами 4 и 3.Для регистрации определенной массы т на электрод 3 подают короткие симметризующие импульсы с частотой следования. равной частоте колебаний ионов регистрируемой массыгде С - потенциал на центральном электроде;с - константа, определяемая геометриейпространства дрейфа;д - заряд иона.Ионы синхронной регистрируемой массы индуцируют на электроде б переменное напряжение, которое, как и в известном фарвитронном способе, с целью регистрации усиливается широкополосным усилителем. Для регистрации ионов другой массы изменяют частоту следования симметризующих импульсов до...

Номер патента: 868886

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Галль, Кузьмин, Павленко

МПК: H01J 49/42

Метки: квадрупольного, крепления, масс, спектрометра, электродов

...изоляционной обоймы; с . - разность между радиусом электрода й и минимальным рас-. стоянием от оси электрода до его плоской пове хности, а, с = 2 Е - .4 С - 2 й + с Геометрические размеры изоляционной обоймы и фиксирующих цилиндрических изоляторов выбраны в зависимости от формы поверхности полеобразующих электродов в таком соотношении,что условия самоудержания электродов с гиперболической рабочей поверхностью и цилиндрических изоляторов в изоляционной обойме всегда выполняются. При этом обеспечена возможность выбора Формы поверхности этих электродов, обращенной к изоляционной обойме, что важно для технологии изготовления электродов, а также для удобства и надежности их установки и Фиксации в изоляционной обойме.На фиг. 1, 2 и 3...

Номер патента: 1228161

Опубликовано: 30.04.1986

Авторы: Колотилин, Овчинников, Самодуров, Чердаков, Шеретов

МПК: H01J 49/40

Метки: анализа, ионов, масс, масс-спектрометрический, спектрометр

...постоянное напряжение, меньшее потенциала катода источникаэлектронов, л с выхода 17 на другуюсетку подается импульсное напряжениеБ. Первая сетка служит для предотвращения попадания электронов изионного источника в пролетный анализатор, а вторая - для предотвращения попадания ионов из ионного ис"точника в пролетный анализатор вовремя процесса накопления ионовнокаол )(ТСпособ реализуется с помощью указанного устройства следующим образом.В течение времени С , (либо втечение части его) в ионйый источниквводят ионизирующий электронный поток.В течение этого времени ионы накапливаются в ловушке и при правильном выборе параметров питающего напряженияП и У сортируются. При этом ионнаяловушка настроена на те же ионы, чтои пролетный...

Номер патента: 711935

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Бакулина, Блашенков, Ионов, Лаврентьев, Шустров

МПК: H01J 49/10

Метки: ионов, источник, масс-спектрометра, полевой

...напряжение(в данной точке ) фиксированы, изменение потенциала фокусирующего электрода можно рассматривать как одно временное изменение отношения потен-циалов в двух последовательно рас-положенных иммерсионных линзах, что,в некоторых случаях, может привестик недофокуснровке ионного изображе. - .ния.эмиттера на выходной щели источ,ника и, таким образом, уменьшитьчувствительность источника,Целью настоящего изобретения является повыпение чувствительностипрн максимальном ускоряющем напряжении н точности настройки источникаво всем диапазоне изменения ускоряющего напряжения.Поставленная,цель достигается тем,что в качестве фокусирующей системыиспользуется фипьтрующая линза сУстройство работает следующим образом, ионное иэображение эмиттера,...

Номер патента: 868885

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Бережковский, Галль, Кузьмин, Махов, Павленко

МПК: H01J 49/42

Метки: анализатора, квадрупольного, крепления, масс, электродов

...использовать такой анализатор для работы в умеренном и тем более в широком диапазоне масс, что является общепринятым для всех современных квадрупольных маесспектрометров, то при записи масс- спектров за пределами наиболее легких масс, когда на электроды анализатора подается высокочастотное напряжение более 1 кВ (обычно максимальные величины этого напряжения составляют 3-5 кВ), в зазорах возникает разряд, загорающийся первоначально в узкой части зазора и распространяющийся вдоль зазора. Этот процесс приводит к зарядке участков системы крепления, в том чис ле неэкранированных электродами отзоны движения ионов (т.е. к зарядке участков (системы крепления, расположенных между электродами), а в итоге к искажению поля анализатора, нарушению...