Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности

Номер патента: 1818526

Авторы: Маврин, Прохоров

ZIP архив

Текст

(56) Авторское свидетельство СССР 1 ч". 1019232, кл. 6 01 В 7/34, 1983.(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОЙ ПОВЕРХНОСТИ.(57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - обеспечение достоверности измерений. Способизмерения шероховатости и неровности Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть исйользовано для измерения шероховатости электропроводной поверхности.Целью изобретения является обеспечение достоверности измерений.На чертеже показано сечение контролируемой поверхности в зоне измерения,Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности осуществляется следующим образом.На измеряемой электропроводной поверхности 1 образуют измерительный конденсатор, используя в качестве одной из обкладок эту поверхность. При этом в качестве диэлектрика в конденсаторе используют диэлектрическую жидкость 2, например глицерин, Ее слой на поверхности ограничивают замкнутым буртиком 3. Вторую обэлектропроводной поверхности заключается в том, что на измеряемой и эталонной поверхностях образуют электрические конденсаторы, используя в качестве одной из обкладок эти поверхности, измеряют их емкости и по результатам сравнения определяют степень шероховатости и неровности поверхности. Новым в способе является то, что формирование диэлектрика конденсаторов осуществляют путем создания слоя диэлектрической жидкости на одной из обкладок, а другую обкладку каждого конденсатора выполняют в виде электрода, плавающего на поверхности диэлектрической жидкости. 1 ил. кладку 4 конденсатора выполняют в виде электрода, плавающего на поверхности диэлектрической жидкости, Электрод может быть выполнен из меди и иметь коробчатую форму.Аналогично, на эталонной поверхности, образуют эталонный конденсатор с такими же габаритными размерами в плане, Для его образования используют такое же количество диэлектрической жидкости,Емкости эталонного и измерительного конденсаторов могут быть измерены любым известным измерителем емкости,Шероховатость измеряемой электро- проводной поверхности 1 определяется путем сравнения измеренных емкостей и контролируется по величине коэффициента К = С/Сс, где С - емкость измерительного конденсатора, образованного на измеряеПодписноеям и открытиям при ГКНТ СССнаб 4/5 Заказ 1933 Тираж ВНИИПИ Государственного комитета по изобрет 113035, Москва, Ж, РаушскПроизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина мой поверхности; Со - емкость эталонного конденсатора, образованного на эталонной поверхности.При реализации данного способа учитываются абсолютно все неровности контролируемой поверхности. Следовательно, он обеспечивает достоверность результатов измерениЯ,формула изобретения Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности, заключающийся в том, что на измеряемоЯ и эталонной поверхностях образуют измерительный и эталонный конденсаторы, измеряют их емкости и по результатам сравнения определяют степень шероховатости измеряемой 5 поверхности, отличающийся тем,что,с целью обеспечения достоверности измерений, в качестве диэлектрика в конденсаторах используют диэлектрическую жидкость, а вторую обкладку каждого кон денсатора выполняют в виде электрода,плавающего на поверхности диэлектрической жидкости.

Смотреть

Заявка

4729043, 09.08.1989

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ "ЭКРАН"

ПРОХОРОВ ВЛАДИМИР КОНСТАНТИНОВИЧ, МАВРИН ГРИГОРИЙ АРКАДЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/34

Метки: поверхности, шероховатости, электропроводной

Опубликовано: 30.05.1993

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1818526-sposob-izmereniya-sherokhovatosti-ehlektroprovodnojj-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности</a>

Похожие патенты