Патенты с меткой «рефрактометр»

Номер патента: 854137

Опубликовано: 15.03.1986

Авторы: Александров, Кузьмин

МПК: G01N 21/41

Метки: автоматический, рефрактометр

...частота модуляции максимальное приближение траектории модуляции к траектории отклонения свето вого потока).Целью изобретения являются повышение точности, чувствительности, расширение динамического диапазона измерений угловых и линейных отклонений световогб потока.Поставленная цель достигается тем, что в автоматическом рефрактометре, содержащем источник света и установленные последовательно по ходу светового луча оптическую проекционную систему, кювету, полый цилиндр с винтовой прорезью, фото- приемник, опорный фотогенератор и самописец, полый цилиндр установлен перед фотоприемником так, что ось его вращения совпадает с направлением перемещения светового луча, причем ширина Й и угол наклона с винтовой прорези связаны соотношениемби 1...

Номер патента: 1221526

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Иванов, Черный

МПК: G01M 11/02, G01N 21/43

Метки: рефрактометр

...света 1, призмы ввода 2, шестиграннойпризмы 3, призмы вывода 4 и Фотоприемника 5 (призма 3 находится висследуемой жидкости).Устройство работает следуюшимобразом.Луч света от источника 1 входитчерез призму 2 в призму 3 в точке А,испытывает многократное отражениеот граней призмы, отражение от основания призмы в точке Б, вновь многократное отражение от граней призмыи выходит в точке. В иэ призмы 3через призму 4, попадая на фотоприемник 5.Работа рефрактометра основанана нарушении многократного полноговнутреннего отражения света от граЗОницы световода с исследуемой жидкостью. Точность измерения показателяпреломления таким рефрактометром пропорциональна числу отражений светаот границь 1 световода с исследуемой З 5жидкостью, В данном...

Номер патента: 1226198

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Аникин, Пеньковский, Петрановский

МПК: G01N 21/43

Метки: внутреннего, нарушенного, отражения, полного, рефрактометр

...как азимута поляризации ( , так и разности фаз 3 между Р- и 8-составляющими на величину, например, 0,01 от максимальной величины, Этим достигается периодическое с частотой а наложение вынужденных колебаний на поляризационные параметрыи б , которые изменяются при изменении угла падения К . фотоприемник .18 воспринимает свет,изменяющийся по закону Т, сы1-Сов 2 у Соя 8 + А4где 1 - интенсивность падающего наополяризационный фильтр 14света;коэффициент прохождения света через оптическую схему;А - амплитуда модуляции,Если угол падения света Х меньше2 1псевдокритическо го сс, = агс Яп я, + Ж,где и и ж - относительно показателипреломления и поглощения,то в резуль ртате эффекта преобладания двойногоотносительного изменения азимута...

Номер патента: 1254358

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Костылев, Лосев, Попов

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...электрический сигнал,На фиг, 1 представлена оптическаясхема рефрактометра; на фиг. 2 - 25прохождение света через призму, изображенную в горизонтальной плоскости.Рефрактометр содержит источникизлучения - вольфрамовую лаину 1накаливания и расположенные по ходуизлучения конденсор 2, эа конденсором установлена диафрагма 3,проецирующая линза 4, отстоящая отдиафрагмы на расстояние, равное Фокусноиу, за линзой расположена про- З 5уточная кювета 5 и зеркало 6, в нижнейчасти схемы установлена нулевая пластина 3, призма 8, непосредственно эа нейдифференциальный Фотоприемннк 9,Устройство работает следующим 40образом.Луч света от лампы 3 через конденсор 2 и диафрагму 3 передается в кювету 5. Конденсор и проецирующая лийэа 4 формируют изображение...

Номер патента: 1260774

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Иванов, Черный

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, рефрактометр

...образованный линзой 7 и перетяжкой 5. Излучение распространяется по световоду 1 к интерференционному датчйкуи отражается от плоского торца световода и от отражающего элемента 2.Отраженное излучение распространяется по световоду 1 и попадает наприемник 4 излучения. Разность ходалучей, отраженных от торца световода 1 и от отражающего элемента 2зависит от показателя преломлениявещества в зазоре между ними. Интенсивность излучения, попадающегона приемник 4 излучения, также зависит от показателя преломпениясреды в зазоре интерферометрическогодатчика, Схема 8 регистрации фиксирует изменение освещенности приемника 4 излучения.В примере конкретного выполнения(фиг. 2) источником излучения служитполупроводниковый лазер, Схема 8 ре"от...

Номер патента: 1270657

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Александров, Власов, Готлиб, Комаров, Молочников, Судьин, Шевкунов

МПК: G01N 21/45

Метки: варианты, его, интерференционно-поляризационный, рефрактометр

...взаимного положения кристаллической пластины и системы отражателей в целом. Неизменность взаимного положения отражателей как в первом, так и во втором вариантах обеспечивается тем, что они жестко соединены между собой.Существенно также, что снижение чувствительности к изменению положения кристаллической пластины позвопяет снизить требования к жесткости Фиксации пластины, что, в свою очередь, обеспечивает снижение термоупругих напряжений, которые могут оказаться различными в пределах светового сечения одной и той же кристаллической пластины.Воэможность появления дополнительного фактора нестабильности, связанного с изменением амплитуды и фазы световых волн при отражениях, в предлагаемых вариантах рефрактометра исключена тем, что...

Номер патента: 1286960

Опубликовано: 30.01.1987

Авторы: Иванов, Черный

МПК: G01N 21/43

Метки: рефрактометр

...контроллеромпо частотам, питающим акустооптические дефлекторы 2 и 4, фототоку фотоприемника 7 программным способом.Контроллер сканирует частоты акустооптических дефлекторов, сравниваетраспределение мощности по углам сзанесенным в запоминающее устройствои отыскивает частоты, для которыхэти распределения различаются, Частота акустооптического дефлектора 2устанавливается такой, чтобы функциираспределения совпадали для половинылучей пучка. Эта частота определяетприближенное значение угла ПВО. Поправка этого значения вводится по частоте дефлектора 4, соответствующеймаксимальной производной от разностизапомненного и измеренного фототоков по частоте дефлектора 4, Величина измеряемого показателя преломления определяется из значения...

Номер патента: 1286961

Опубликовано: 30.01.1987

Автор: Соколов

МПК: G01N 21/45

Метки: двухчастотный, интерферометрический, рефрактометр

...выражениями 1 Я = ( -- 1) и ИЬЬ. сЭ, ч,( -- 1)ч, ЫЫЯ,( - 1) г г гЗависимость (1) позволяет для данного исследуемого вещества с высокойточностью связать величины фазовыхскоростей света ч, и чг (а следовательно, и показатели преломления и,и пг) с частотами излучения , и 1 г(или длинами волн 9, и Ъг ), например,по известной ч можно определить фазовую скорость ч Вывод формулы (1) сделан с учетом следующих рассуждений.Путь ЬЬ в исследуемом веществе свет проходит за время С = й Ич, где ч - фазовая скорость света. За это же время с второй луч интерферометра проходит в воздухе путь ЬЬ(ч, где с - скорость света в воздухе. Следовательно, опережение составляет величиЬЬну - с - Ь Ь, что дает смещениелиний ьЬ с.в интерферометре Б = ( --...

Номер патента: 1332199

Опубликовано: 23.08.1987

Автор: Патлах

МПК: G01N 21/43

Метки: рефрактометр

...ПП среды Пс (исходно фокон находился в воздухе П ср = 1) для частилучей нарушается условие полного внутреннего отражения и они покидают фокон, выходя через боковую поверхность, причем высвечивание лучей начинается с части боковой поверхности,прилежащей к меньшему основанию фокона, так как здесь углы лучей к осибольше, чем у большего основания. Приэтом уменьшается коэффициент передачиК фокона. Если участок фокона со стороны меньшего основания, где начинается высвечивание лучей, вытянуть изсреды с ПП П, и поместить в воздухс ПП П = 1, то величина К не изменится. Для сохранения К постояннымнеобходимо по мере увеличения Пвсе более вытягивать фокон из средыв воздух.Согласно инварианту Штраубеля для того, чтобы через фокон,...

Номер патента: 1377017

Опубликовано: 28.02.1988

Автор: Ватыль

МПК: A61B 3/10

Метки: офтальмологический, рефрактометр

...осей каналов регистрации посредством исполнительного механизма 12. Работа устройства заключается в выделении электрического сигнала на исполнительный механизм 12 для совместного смещения светоделителя 13, зеркала 14, линзы 8 и диафрагмы 4 вдоль оптической оси фокусирую 1 цего объекта 6 в положение, при котором качество изображения последних ца сстчатке глаза одинаковое, Указанный электрический сигнал формируется компаратором 11 в зависимости от разности световых потоков, поступающих на фотоприемники 1 О, расположенные в оптических каналах регистрации.Принцип работы каждого из оптических каналов регистрации состоит в том, что если при подсветке диафрагмы 4 источником света 1 или 2 ее изображение оптически не сопряжено с сетчаткой...

Номер патента: 1383163

Опубликовано: 23.03.1988

Автор: Махмутов

МПК: G01N 21/43

Метки: рефрактометр

...8 и наблюдательной системы 9, включающий угломерную шкалу 10, зеркало 11 и окуляр 12,Устройство работает следующим образом.Излучение от источника 2 фокусируется в фокус (фокальную линию) элемента 7 и после ряда отражений вновьфокусируется в другом фокусе элемен- ф.40 та, совпадающем с центром кюветы 8 и поверхностью исследуемой жидкости. В точке фокусировки лучи, падающие на поверхность жидкости под углом полного внутреннего отражения (ПВО) и большим, отражаются от ее поверхности и после ряда отражейий попадают на шкалу 10 системы 9. По измеренному углу ПВО определяют коэффи-. циент преломления жидкости. Если жидкость в кювете покрыта пленкой дру гой жидкости, то гомоцентричность лучей при ПВО нарушается. На фиг, 3 и 4 показано...

Номер патента: 1383164

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Иванов, Черный

МПК: G01N 21/43

Метки: рефрактометр

...незначительно, а высокая чувствительность светопропускания световода к изменению ПП жидкости сохраняется благодаря большому числу отражений светового пучка.На фиг. 2 позицией 11 обозначена одна из поверхностей равной температуры Т. Существенную кривизну эта поверхность имеет у торцов световода, т.е. во вспомогательных пластинах. Пучок света, показанный на фиг, 2 линией со стрелками, проходит только через плоские слои равной температуры, Входную грань призмы 8 пучок пересекает перпендикулярно и не преломляется, На границе призмы 8 и пластины 1 преломления не происходит изза равенства ПП по обе стороны границы.Температура точки ввода пучка Т, ПП световода в этой точке п, (Т,). Температура жидкости Т, ее ПП - и., Граничащий с ней слой...

Номер патента: 1402859

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Кантере, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...системой 3 параллельным пучком направляется на дифференциальную кювету 4. За кюветой установлено оборачивающее на 270 излучение устройство 5, которое пов 35 торно направляет световой пучок на дифференциальную кювету 4. Повторно пучок проходит кювету в перпендикулярном направлении относительно первого прохождения. После повторного прохождения световой пучок выходит из кюветы и отклонение пучка отпервоначального положения фиксируется дифференциальным фотоприемником 6Сигнал с фотоприемника 6 поступает визмерительную систему 7, а результатизмерения выводится на регистрирующее устройство 8.Дифференциальная кювета 4 содержит две полости, одна из которых за 50полнена измеряемой жидкостью, а вторая - сравнительной. Отклонение пучка...

Номер патента: 1416897

Опубликовано: 15.08.1988

Авторы: Годат, Ейзенхут, Небе, Шмидт

МПК: G01N 21/41

Метки: автоматический, альтернирующего, рефрактометр, света

...система в этомустройстве представляет собой сложнуюмеханическую конструкцию.Цель изобретения - упрощение устройства и повышение точности измерений.Поставленная цель достигается тем,что в автоматический рефрактометр альтернирующего света, включающий источник света и расположение последовательно по ходу излучения осветительнуюсистему, дифференциальную кювету,изображающую систему и фотоприемник,дополнительно введены формирующая диаФрагма, переключатель пучка и измерительная диафрагма, расположенная между дифференциальной кюветой и фотоприемником.Формирующая диафрагма и переключатель пучка могут быть совмещены в единую деталь в виде диска с клиновидными секторами, соединенного с приводом вращения,На Фиг, 1 изображена оптическая...

Номер патента: 1430838

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Кантере, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...выборки и хранения поступают на входы второго устройства 14 деления, Результат этого деления 5 регистрируется регистрирующим устройством 17;(8)-- -=К, Ьх,где К - коэффициент усиления второго делительного устройства 16,Учитывая (1), получим(9),Генератор-синхронизатор 3 такто,вых импульсов генерирует прямоугольные импульсы с частотой 150-200 Гц. При появлении логической единицы на управляющем входе двухпозиционного ключа 2 блок 1 питания подключается к источнику 4 излучения, при этом источник 5 излучения отключен-. На первом и втором фотоприемных устройствах появляются сигналы Бц и П соответственно, делятся на первом делительном устройстве, и результат П, поступает на вход первого устройства 15 выборки и хранения. На вход второго...

Номер патента: 1434335

Опубликовано: 30.10.1988

Автор: Шиляев

МПК: G01N 21/43

Метки: рефрактометр

...от зеркал 5б, световой поток попадает на входной торец автоколлиматора 7 под углом 3, и на расстоянии 1 от его оси и, пройдя его,соберется в фокальной плоскости, совпадающей с выходным торцом, на расстоянии К, от его оси в точке Г . Брезультате, пройдя по одному иэ световодов линейки 8 световое излучение высветит на шкале 9 значение по- казателя преломления исследуемой жидкости55При изменении показателя преломления жидкости световой поток иэ автогколлиматора 3 попадет на зеркало 6под углом М, (фиг. 2), отличающимся от М При многократном отражении отзеркал 5 и 6 это приводит к таму,чтона выходной торец автоколлиматора 7излучение попадает под углом (3 и нарасстоянии 1 от его оси, причем1 . 111 =( - - - - -)Цо СВ о,где Ь 1 - величина...

Номер патента: 1453265

Опубликовано: 23.01.1989

Автор: Бабий

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, рефрактометр

...и 6.Оптический элемент 9 модулятора 10 предназначен для периодического изменения оптических разностей хода в измерительных (рабочих) и опорном (эталонном) плечах интерферометра. Он расположен в вакуумированной камере 19. Блок 11 управления служит для выработки периодического электрического сигнала для управления перемещением оптического. элемента 9 модулятора 10. Мехайиэм 8 перемещения вала 3 представляет собой, например, винтовую пару и приводит-. ся в движение электродвигателем (не показан). В качестве источника 1 излучения можно использовать гелийнеоновый лазер.Устройство работает следующим образом. Заполняют контрольную кювету 18 исследуемым веществом. Луч света от источника 1 излучения светоделительным блоком 2 расщепляется на три...

Номер патента: 1497519

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Кантере, Карабегов, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/41

Метки: автоматический, рефрактометр

...может быть использован фотодиод фЛ 24 и др.При введении в световой пучок полукруга большего радиуса модулятора 5, часть пучка, например половина, перекрывается и фотоприемное устройство 7 регистрирует сигналС=К (- а+х) Ь Е 0 КФ,1где 5 х = 1 Ц; Ы. (и- и,) - смещениепучка на поверхности фотоприемного устройства 7;1 - расстояние от кюветы до фотоприемного устройства;0 - преломляющий угол кюветы,Сигналы Ци Б по соответствующимсинхроимпульсам от устройства 6 синхронизации запоминаются в устройствах 8 и 9 выборки и хранения, С поступлением сигнала Б дается разрешение на операцию деления в делительном устройстве 10, на выходе которого формируется сигнал1 1 Ц = = ( а + Ьх) Ц, а 2 Этот сигнал поступает в регистрирующее устройство 11, где...

Номер патента: 1516910

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Коновалов, Лебедев, Мамакина, Прытков, Черняков

МПК: G01N 21/45

Метки: рефрактометр

...что насчетчик 7 интерференционных полос попадает только два луча: один лу отразившийся от зеркала 4, а друг гой - отразившийся от грани АВ кюве-, ты 3 исследуемого образца или отра"1 вившийся от зеркала 5Одновременно юстировкой добиваются того, что на счетчик 8 интерференционншх полос попадает тоже только два луча: один луч, отразившийся от грани АВ кюветы 3 исследуемого образца, а другой от зеркала 5. Такая, .юстировка возможна различными способами. Можно например, диафрагмировать или сместить зеркала 4 и 5 таким образом, что на счетчик 7 попадает только излучение, отраженное от грани АВ клина и зеркала 4, а на счетчик 8 - отраженное от зеркала 5 и отраженное от грани АВ клина. Если источник 1 когерентного излучения испускает...

Номер патента: 1608508

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Бржазовский, Найденов, Ражев, Старинский

МПК: G01N 21/45

Метки: рефрактометр

...от монохроматического45 источника 6 направляется в интерферометр, образованный зеркалами 1 и 2, и одновременно с помощью полупрозрачного зеркала 7 - в дополнительный интерферометр, образованный зеркалами 3 и. 4. После прохождения обоих, интерферометров пучки лучей с помощью полупрозрачного зеркала 7 направляются в блок 8 регистрации, где можно наблюдать с помощью автокаллиматора (не показан) совмещенную от обо их интерферометров картину, представляющую собой две системы колец равного наклона. Перед началом измерений,в отсутствие в основном интерферометре образца, с помощью механизма 5линейного перемещения регулируют базы обоих интерферометров до совпадения в них значений длины оптическогопути, В этом случае расстояние дмежду...

Номер патента: 1631373

Опубликовано: 28.02.1991

Автор: Амстиславский

МПК: G01N 21/45

Метки: пластин, прозрачных, рефрактометр

...проходя подложку туда и обратно по нормали (опорный пучок), а луч 18 рассеивается на прямом пути - до отражения и проходит поверхность 14 туда и 5 10 15 20 25 30 35 40 45 45 50 обратно под углом (предметный пучок), Так как лучи 17 и 18 возникают в результате рассеяния на одной и той же частице, тоУ / дополнительные скачки фаз д р и д р обусловленные рассеянием, имеют одну и(1ту же величину, т,е. д р идар, и на разность хода Ллучей 17 и 18 они не влияют. Поэтому можно добиться высокой степени взаимной когерентности этих лучей.Перекрывание опорного и предметного пучков при условии их когерентности приводит к формированию интерференционной картины, В силу осевой симметрии расположения она имеет вид системы светлых и темных...

Номер патента: 1673925

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Коновалов, Лебедев, Мамакина, Прытков

МПК: G01N 21/45

Метки: рефрактометр

...3, Как известно, свет взаимно ортогональных поляризаций не интерферирует. Все перечислен н ые отражен н ые пучки сводятся светоделителем 2 в один, направленный на двулучепреломляющую призму 9. Призма 9 выделяет из падающего на нее излучения два пучка ортогональных поляризаций, направленных под углом друг к другу на счетчики интерференционных полос 10 и 11, Она установлена таким образом, что направления поляризации исходящих иэ нее пучков совпадают с направлениями поляризации, задаваемыми скрещенными поляризаторами 4 и 7. В результате на одном иэ счетчиков полос наблюдается интерференция пучка, отраженного зеркалом 3, с соответствующей поляризационной компонентой пучка, отраженного от стенки б, а на другом - интерференция пучка,...

Номер патента: 1673926

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Коновалов, Лебедев, Мамакина, Прытков

МПК: G01N 21/45

Метки: рефрактометр

...грани АВ кюветы 3, и излучение, прошедшее кювету 3 и отразившееся "назад" от зеркала 4, э на счетчик 8 интерференционных полос - излучение, прошедшее кювету 3 и последовательно отразившееся от зеркала 4 и грани ВС кюветы 3, и излучение, прошедшее через полупрозрачную пластину 5 и отразившееся от зеркала 6. Входные апертуры счетчиков 8, 9 и 10 интерференционных полос ориентируют таким образом, чтобы максимально осла 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 бить возможные паразитные интерференционные сигналы, Для этих же целей допустима раэьюстировка на 1-3 полупрозрачной пластины 5.После юстировки перемещают кювету исследуемого вещества 3 в плоскости грани ВС. При этом происходит изменение оптической разности хода (ОРХ) между лучами,...

Номер патента: 1684629

Опубликовано: 15.10.1991

Автор: Дворников

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...9, распространяется в обратном направлении и после светоделителя 5 поступает на фотоприемник 10, сигнал с выхода которого подается в блок 12 обработки информации. в котором вычисляется отношение сигналов фотоприемников 10 и 11 М 1=01 И Аналогично луч света от источника 3 проходит через светоделитель 4, при этом часть света попадает на фотоприемник 11, соединенный с блоком 12 обработки информации, а оставшаяся часть света проходит через светоделитель 5, распространяется по волоконному световоду 6, отражается интерференционным покрытием 7, распространяется в обратном направлении и после светоделителя 5 поступает на фото- приемник 10, сигнал с выхода которого подается в блок 12 обработки информа ции, в котором вычисляется отношение...

Номер патента: 1702258

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Авзалов, Думболов, Ларичев, Литвиненко, Черников, Широков

МПК: G01N 21/41

Метки: оптоволоконный, рефрактометр

...на измерительном участке вызывает экспоненциальный характер затуханияи перехода светового патака в среду вследствие потерь на излучение, т,е.Р:Р е где Р - мощность светового потока на входеволоконного световада передающего элемента;Ро - мощность светового патока на входе;Е - длина измерительного участка;ц - коэффициент затухания на поверхностных микронеоднораднастях,Анализируя укаэанную формулу, можнопредположить, что мощность светового потока, образованного вытекающими модами,будет равнаРв.м. = Ро - Р,где Рв - мощность светового потока вытекающих мод передающего элемента,Таким образом, наибольшее перетекание, а значит и чувствительность будут максимальными при приближении Рв.м. к Ро,Это возможно, если световой поток...

Номер патента: 1723502

Опубликовано: 30.03.1992

Авторы: Павельев, Порядин

МПК: G01N 21/43

Метки: волоконно-оптический, газов, жидкостей, рефрактометр

...в каждой секции, при этом световод выполнен в виде плоской спирали и уложен в канавку, выполненную в корпусе,На чертеже представлена схема рефрактометра.Рефрактометр содержит непрозрачный корпус 1 с канавкой 2, в которую уложен световод 3 без оболочки, закрепленный с помощью диафрагм 4 с отверстиями, сквозь которые он проходит и которые разделяют канавку на отдельные секции. В каждой секции размещен фотоприемник 5. Один фото- приемник соединен с концом световода, имеющим минимальный радиус кривизны. Противоположный конец световода соединен с излучателем б. Увеличение точности измерения достигается применением способа одновременной регистрации интенсивности в секциях и на конце световода и эа счет устранения ошибок измерения,...

Номер патента: 1755123

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Авзалов, Ларичев, Литвиненко, Широков

МПК: G01N 21/41

Метки: оптоволоконный, рефрактометр

...с пленкой жидкости, Или, другими словами, в анализе жидкости "участвует" на более 5-7светового потока, образованного вытекающими через боковую поверхность оголенного передающего элемента модами,Цель изобретения - повышение чувствительности и точности определения,Поставленная цель достигается тем, чтов оптоволоконном рефрактометре; содержащем последовательно расположеннь 1 е источник излучения, волоконно-оптический световод с чувствительным элементом, вь 1- полненным в виде передающего и приемного поверхностно-микронеоднородных участков световода одинаковой длины и приемник излучения, выходной торец передающего и входной торец приемного элементов вь 1 полнены светоотражающими,при этом передающий элемент размещен внутри приемного...

Номер патента: 1783388

Опубликовано: 23.12.1992

Авторы: Пеньковский, Петрановский

МПК: G01N 21/43

Метки: портативный, рефрактометр

...помощью шарнира по ра; на фиг.2 - сечение рефрактометра в пло- звал яет закры вать то входную граньскоси одного из клиньев; на фиг.З - осветительной призмы 2, то входную граньсечение рефрактометрэ в плоскости сетки. измерительной призмы 1.Рефрактометр портативный содержит Портативный рефрактометр работаетизмерительную призму 1 иэ прозрачного 40 следующим образом,материала с известным показателем пре- . Естественныйсветилисветотискусстломления, например из стекла ТФ 4 с повенногоисточникэ проходитосветительную=1,7398, осветительную призму 2 из любого призму 2(фиг.1) и в виде рассеянного пучкапрозрачного материала; между которыми падает на границу разделаисследуемой:находится исследуемая среда 3 с искомым 45 среды 3 с рабочей поверхностью...

Номер патента: 1498192

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Мищенко, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, рефрактометр

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ РЕФРАКТОМЕТР, содержащий два интерферометра, первый из которых включает источник коллимированного белого света, оптически связанный с первой светоделительной пластиной и установленными по ходу прошедшего первую светоделительную пластину излучения измерительной кюветой, первым зеркалом, а также установленным по ходу отраженного от первой светоделительной пластины излучения вторым зеркалом, второй светоделительной пластиной, оптически связанной с первым фотоприемником, соединенным выходом с входом блока регистрации нулевого положения ахроматической полосы, а второй интерферометр включает источник монохроматического излучения, оптически связанный с третьей светоделительной пластиной и установленным по ходу прошедшего третью...