Патенты с меткой «радиусов»

Номер патента: 679430

Опубликовано: 15.08.1979

Авторы: Вернидуб, Соколов

МПК: B43L 11/00

Метки: больших, дугами, окружностей, построения, прибор, радиусов, сопряжений

...1 изображен вид спереди на прибор; на фи ид сверху; на фиг, 3 - разрез А-А на фиг, 4 - разрез Б - Б фиг. 2; на фиг, 5 - разр В фи; наразрез Г - Г фиг фиг - кинемапщеская схем прибораПрибор состоитиз опорных игл 1, криво- шипа 2, предстаиляюшего собой линейку, на концах которой имеются ползуиы 3 и 4, шарнирно связанные с кулисами 5 и 6, которые перь мешаются в ползунах 7 и 8, ползуны шарнирно соединены со стойками опорных игл. Ползуны 9 и 10 образуют диаду, снабженную пишущим элементом 11. Полэуны на кривошипе фикси. руются винтами 12,фДля построения сопряжения, например внешнего, окружностей с и ( (фиг. 7) поступают следующим образом, Исходя из конкретных условий, с помощью прибора определяют точки сопряжения З, и Зг, а также точку...

Номер патента: 765026

Опубликовано: 23.09.1980

Авторы: Добродеев, Полищук, Торопов

МПК: B43L 9/00

Метки: больших, вычерчивания, дуг, окружностей, прибор, радиусов, разверток

...на фиг. 3 - сечение Б - Б на фиг. 1. Прибор состоит из основания 1, гибкой линейки 2, свободно перемещающейся в цапфах 3, фиксаторов 4, фиксирующих гибкую линейку 2 в заданном радиусе, которые контрятся фиксирующими винтами 5. В основание 1 вмонтирована микро- метрическая головка 6, которая через валик 7 шарнирно соединена с гибкой линейкой 2 и фиксируется в заданном положении винтом 8. тв В бобышки на конце основания 1 вмонтированы цапфы 3, выполненные в виде .цилиндрического валика с резьбовым концом и пазом 9 для гибкой линейки. Гайки 10 фиксируют цапфы 3. Каждый фиксатор 4 состоит из скобы 11, установленной на линейке 2, валика 12, соединенного со скобой 1 и установленного в основании 1, и фиксирующего винта 5, расположенного в...

Номер патента: 867691

Опубликовано: 30.09.1981

Автор: Долганов

МПК: B43L 9/00

Метки: больших, вычерчивания, дуг, окружностей, прибор, радиусов

...1.Прибор для вычерчивания дуг окружностей больших радиусов имеетпластину 1 с дугообразной на направляющей 2, каретку 3 с направляющими штифтами 4 и окошком 5.. На каретке 3 в опорах б установлена градуированная линейка 7, закрепленная в опорах б винтами 8, ификсирующее устройство 9, состоящееиз скобы 10, пружины 11 и штифтов12 с иглами 13. На линейке 7 установлен ползун 14 с пишущим элементом 15. Для закрепления на линейке7 ползун 14 снабжен винтом 16.Прибор используют следующим образом.При подготовке прибора к работеначало отсчета на градуированной линейке 7 при помощи окошка 5 совмещают с кромкой дугообразной направляющей 2, радиус которой известен,и закрепляют линейку 7 в опорах бвинтами 8,Ползуи 14 с пишущим элементом 15...

Номер патента: 870200

Опубликовано: 07.10.1981

Авторы: Добродеев, Полищук, Торопов

МПК: B43L 9/00

Метки: больших, вычерчивания, дуг, окружностей, прибор, радиусов, разверток

...А-А на фиг 1; на фиг. 3 - сечение Б-Б на фиг. 1 р на фиг. 4 вид В с местным сечением на Фиг. 1; на Фиг, 5 - вид Г с местным сечением на фиг. 1; на фиг. б - сечение Д-Д на Фиг. 1. вПрибор имеет основание в штан 1, гибкую линейку 2, на концах которой закреплены опоры Зв которых выполнены отверстия 4 с канавками 5, в которые вставлены цапфы б и 7 с запор- ными кольцами 8. В отверстия 9 цапф б и 7 вставлен фиксатор 10, один конец которого в цапфе б зафиксирован штифтом 11, а другой конец зажимается винтом 12. На штанге 1 выполнены отверстия 13, в которые вставлены подвижные Фиксаторы 14, в гнездах 15 которых вставлена по подвижной посадке втулка 16, имеющая донную часть 17 с выполненными отверстиями 18 под оси роликов 19. Ролики 20 с...

Номер патента: 908619

Опубликовано: 28.02.1982

Автор: Панчук

МПК: B43L 11/00

Метки: кривизны, прибор, радиусов, центров, чертежный

...на котором вычер"чены окружностные центроиды с радиу сами В и В,1 и с центрами 01 и О,точка их касания Р, являющаяся полюсом зацепления, положение точкиконтакта К сопряженных профилей,устанавливается прибор таким образом,чтобы установочная игла крестообразного полэуна 5 совпала с полюсомзацепления Р, Перемещая линейку 4 вкрестообразном полэуне 5 добиваютсятакого ее положения, когда нулевоеделение линейной шкалы совпадает сзаданной точкой контакта К. В этомположении производится фиксированиелинейки 4 при помощи стопора 10. Затем, перемещая ползун б по линейке4, устанавливают при помощи линейнойшкалы и нониуса установочное отверс.тие полэунов б и 7 при помощи, например, иглы на величину, равнуюзаданному радиусу кривизны БК одногоиэ...

Номер патента: 1048308

Опубликовано: 15.10.1983

Авторы: Волков, Голод, Данилевич, Киваев, Скворцов, Элькинд

МПК: G01B 11/27

Метки: измеритель, оптических, поверхностей, радиусов, сферических

...и предметный стол, измерительная марка выполнена в виде двух сеток, установленных друг от друга на расстоянии двойной глубины резкости автоколлимационного объектива и симметрично относительно его фокальной плоскости, одна из сеток выполнена в виде светлого перекрестия на темном фоне и четырех светлых штрихов, расположенных под углом 45 к светлому перекрестию.При этом на окулярную сетку нанесена окружность, и она установлена с возмож3ностью перемещения вдоль измерительной шкалы.Кроме того, измеритель снабжен сменной кюветой, устанавливаемой на предметном столе и выполненной в виде цилиндрического стакана с водой или физиологическим раствором с защитной стеклянной пластиной, установленной перпендикулярно оптической оси...

Номер патента: 1049605

Опубликовано: 23.10.1983

Автор: Скалов

МПК: E01B 35/02

Метки: железнодорожной, колеи, кривизны, плане, радиусов

...ее скорость и нормальное ускорение с помощью скоросте мера и акселерометра, установленных на этой тележке, измерительную тележку перемещают второй раз по тому же участку с другой скоростью, фиксируя ее ускорение и радиус кривизны определяют по формуле 40Ч 2 Ч 2Н Н2где В - радиус кривизны железиодорожной колеи;и Ч - скорость тележки на указан"1ном участкесоответственнопри первом и втором перемещениях;50 ан ион - нормальное ускорение на2 укаэанном участке соответственно при первом ивтором перемещениях.При перемещении тележки по железнодорожному пути на инерционную массу акселерометра действует нормальная сила(5) Составляющую от ускорения силытяжести исключаем путем прокатывания тележки по одному и тому жеучастку железнодорожного пути...

Номер патента: 1095027

Опубликовано: 30.05.1984

Авторы: Аграновский, Коган, Раскин

МПК: G01B 5/08

Метки: объектов, радиусов

...вычисляют радиус, связанный известной математической зависимостью с хордойи измеренным параметром, изменяютвеличину хорды сегмента, а в качестве измеряемого параметра берутразность высот сегментов.На фиг.1 показана установка накладного устройства на объекте насегмент с хордой 1; на фиг.2 - тоже, с измененной длиной хорды Ь;на фиг.З и 4 - частные случаи проведения измерений при ограниченномдиапазоне перемещения контактногонаконечника измерителя,Накладное устройство, с помощьюкоторого реализуется способ, содержит основание 1 с рядом отверстий2, расположенных в основании 1 симметрично относительно оси 1-Т, проходящей через центр основания 1,ролики 3 с диаметром 3 , устанавливаемые в отверстия 2, и измеритель4 линейных перемещений с...

Номер патента: 1128115

Опубликовано: 07.12.1984

Авторы: Иванов, Иванова, Учуваткин

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: большой, кривизны, радиусов, сфер

...сравнения, а. другая - образована после отражения другого когерентного пучка от контролируемой.поверхности и является рабочей волной, и наблюдают интерференционную картину, получающуюся в результате наложения этих двух волн, устанавливают шаблон интерференционной картины установленного размера, перемещают интерференционную картину до совпадения ее размеров с размерами шаблона и по величине этого перемещения определяют размер контролируемого радиуса сферы.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего предлагаемый способ контроля радиусов сфер большой кривизны,Устройство содержит двухлучевой микроинтерферометр ИИИ1, плоскую образцовую поверхность 2, винт 3, фотоокуляр 4, экран 5, шаблон 6 интерференционной картины,...

Номер патента: 1187920

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Луговкин, Майоров, Минченко, Миронов

МПК: B23B 5/40

Метки: автоматической, обточки, подачей, радиусов, станке, токарном

...жестко смонтирована установочная плита 9 с осью 210, на которой с возможностью поворота относительно оси 1 О установлена планка 1 1 со сквозными маркированными отверстиями 12 по ее центральной продольной оси, Итырь 7 пол- Ззуна 4 соединяет ползун 4 с однимиэ сквозных отверстий 12 планки 11.гУстройство работает следующимобразом.Перед началом работы установочная Зплита 9 жестко крепится на поперечный суппорт 8 станка, а на ось 10установочной плиты 9 крепится планка11 посредством одного из сквозныхотверстий 12Затеи в реэцедержатель 13 эажимается державка 1 с ползуном 87920 24, который штырем 7 соединяется черезодно из сквозных отверстий 12 спланкой 11, При включении станка поперечный сУппорт 8 с собранным устройством подводится к...

Номер патента: 1196179

Опубликовано: 07.12.1985

Автор: Зорин

МПК: B23G 1/00

Метки: малых, радиусов, резьбы, сопряжений

...по делам изобретений Москва, Ж, Раушск Подписнокомитета СССРи открытийя наб., д. 4/5 1303 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проек 1 1Изобретение относится к технологии машиностроения, точнее к технологии изготовления резьбы и сопряжений малых радиусов на деталях, раф ботающих при усталостном нагружении,Цель изобретения - повышение усталостной прочности деталей путем дополнительной абразивной обработки основания резьбы, повышающей чистоту поверхности и создающей неровности, направленные параллельно силовым линиям внешней нагрузки на деталь, т.е. вдоль ее оси вращения, в результате чего они не являются концентраторами напряжения и потенциальными очагами начала микротрещин усталости.На фиг. 1 изображено основание резьбы при...

Номер патента: 1224545

Опубликовано: 15.04.1986

Автор: Субботин

МПК: G01B 5/213

Метки: кромок, притупления, радиусов

...по лини1224545 1перемещения измерительного штока 4и вычисляют радиус 1 скруглениякромок по формуле Способ измерения радиусов притупления кромок деталей с помощью базовой призмы и отсчетного узла, измерительный шток которого установ лен по биссектрисе базовой призмы,заключающийся в том, что настраивают на начало отсчета отсчетный узел и производят измерение, о т л и - ч а ю щ и й с я тем, что, что, с 25 целью расширения номенклатуры измеряемых параметров, настраивают на начало отсчетный узел по линии пересечения сторон базовой призмы,Я б Изобретение относится к измерительной технике, в частности кконтролю радиусов притупления кромок плоских деталей.Цель изобретения - расширение 5номенклатуры измеряемых параметров,На чертеже изображена...

Номер патента: 1355855

Опубликовано: 30.11.1987

Авторы: Субботин, Чащухин

МПК: G01B 5/213

Метки: кромок, притупления, радиусов

...фиг. 1 изображено устройство для осуществления способа измерения радиусов притупления кромок, образующихся сторонами детали под прямым углом; на фиг. 2 - то же, под тупым углом; на фиг. 3 - то же, под острым углом.Способ измерения радиусов притупления кромок деталей осуществляют следующим образом.Отсчетное устройство 1 с измерительным штоком 2 настраивают на начало отсчета в точке О пересечения рабочих граней базовой призмы 3 таким образом, чтобы образующая 4 конуса измерительного штока 2 составляла с биссектрисой 5 угла базовой призмы прямой угол. В базовую призму 3 устанавливают измеряемую деталь б с радиусом К притупления кромки. Измерительный шток 2 перемещают в осевом направлении до упора образующей 4 конуса в кромку детали 6....

Номер патента: 1368616

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Субботин, Чащухин

МПК: G01B 5/08

Метки: кромок, плоских, притупления, радиусов

...установленным на планке параллельно основному измерительному наконечнику.На фиг,1 представлено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1; на фиг.3 разрез Б-Б на фиг.1; на фиг.4 - видВ на фиг.1; на фиг,5 - схема настройки и измерения.Устройство содержит основание 1, корпус 2 с базовой плоскостью 3 25 и неподвижным упором 4, измерительный наконечник 5, передающее звено 6, отсчетную головку 7, подпружиненные контакты 8, шарнирно установленные в окне основания 1 на кронштейне 9, планку 10 с упором 11 с установлен- ным на ней с возможностью возвратно- поступательного перемещения дополнительным измерительным наконечником 12, передающее звено 13 и отсчетную голов 35 ку 14. Планка 10 установлена на двух подпружиненных...

Номер патента: 1413402

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Линдер, Отто, Очередько

МПК: G01B 5/213

Метки: кривизны, радиусов

...внутренних по верхностей при контроле изделий.Цель изобретения " повышение точности измерений и расширение номенклатуры измеряемых деталей.На фиг. 1 представлено устройство, 10 общий вид; на фиг.2 - разрез А-А на фиг. 1; на фиг, 3 - разрез Б-Б на фиг. 1.Устройство содержит корпус 1 и три размещенных в нем стержня 2-4. Все стержни имеют в средней части зубчатую 15 нарезку, взаимодействующую с зубчатой шестерней 5, имеющей шкалы 6 и 7 и стрелки 8 и 9. В опорной пластине 10 выполнены отверстия, в которые установлены боковые стержни 3 и 4, охва тывающие стержень 2 с противоположных сторон, Стержень 2 снабжен индикато-ром 11 касания.Устройство работает следующим образом. 25Перед началом работы устройство настраивают по эталону,...

Номер патента: 1420340

Опубликовано: 30.08.1988

Автор: Евдокимов

МПК: G01B 5/08

Метки: вогнутых, поверхностей, радиусов

...нерхние отражающие 2 Оповерхности, известные длины С, иС и неизвестное расстояние гг междупластинами 1 и 2. Дополнительнуюпластину 4 устанавливают между основными 1 и 2. Пластина 4 имеет длину 25ЕГ и отражающую поверхность. Угол омежду одной иэ основньгх пластин 1,2и дополнительной пластиной 4 определяют посредством автоколлиматора 5.Пластина 2 имеет отверстия для прохождения лучей А и 1) от автоколлиматора 5, луч В отражается от пластины .Способ заключается в следующем.На сферическую понерхность объекта 3 устанавливают пластину 1 и параллельно ей пластину 2 с магнитносвязанной пластиной 4. По автокаллиматору 5 при помощи лучей А и В контролируют параллельность установкипластин 1 и 2, а при помощи лучей Э40измеряют уголмежду пластиной...

Номер патента: 1421990

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Ларионов, Лукин, Маврин, Мустафин, Рафиков, Федорова

МПК: G01B 9/02

Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиусов

...держателяобразцовый оптический элемент 8 иустанавливают в держатель контролируемый оптический элемент 11, после чего перемещают держатель в положение, при котором обеспечиваетсяавтоколлимационный ход лучей в устройстве, при этом контраст интерференционных полос на экране регистрирующего блока будет максимальным,после чего снимают второй отсчетизмерителя 9 перемещений, По разности двух отсчетов определяют знаки величину отклонения радиуса кривизны контролируемой поверхности отноминального значения,/Установка корригирующей голограммы 7 позволяет уменьшить сферическую аберрацию телескопической системы 4, что приводит к повышению контраста интерференционной картины, аследовательно, и точности измерения за счет повьюпения точности продольной...

Номер патента: 1453155

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Гуревич, Киселев

МПК: G01B 5/22

Метки: кривизны, поверхностей, радиусов

...- расширение диаг 1 азона измерения и обеспечение воз 5ложности считывания результата измерения непосредственно со шкалы отсчетйой головки,На чертеже изображено устройство,сбщий вид.10 Устройство состоит из отсчетной головки 1 с гильзой 2, внутри которой оходит измерительный стержень с нанечником 3. Устройство снабжено умя соосно установленными втулками и 5, первая из которых закреплена а гильзе 2, а вторая - на измериельном стержне, Баэирующий элемент ыполнен в виде двух наконечников б, 20 симметрично расположенных относительо измерительного стержня, на которых шарнирно закреплены тяги 7 и 8., связывающие наконечники с втулками 4 и 5 Соответственно. Тяги закреплены на 25 втулках шарнирно, В зависимости от гого, выпуклая либо вогнутая...

Номер патента: 1460598

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Сойту, Трегуб

МПК: G01B 11/27, G01B 9/02

Метки: интерферометр, кривизны, отражающих, поверхностей, радиусов

...поверхности совпадал с центром кривизны высокоточной поверхности сравнения мениска 7. Отра зившись от контролируемого объекта 1 световой поток, не измеяя своего сферического волнового фронта (при качественном изготовлении контролируемого объекта), возвращается в строго обратном направлении и на высокоточной поверхности сравнения мениска 7 интерферирует с вторым световым потоком, образуя интерференционную картину, которая при помощи линз 6 и 4, светоделительной пластины 3 и окуляра 5 рассматривается в поле зрения окуляра 5.Микросмещени-. ем контролируемого объекта 11 в направлении, перпендикулярном оптической оси, добиваются наличия в цоле зрения окуляра 5 определенного (в зависимости от метода обработки интерференционной картины)...

Номер патента: 1502956

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Махлина, Полукарова, Юрасов

МПК: G01B 5/22

Метки: вогнутых, выпуклых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических

...где к радиус кривизны выпуклойконтролируемой поверхности;г - радиус кривизны соответст 2вующей вогнутой эталоннойповерхности. 15 пЬ, - Ь 2ф радиус кривизны вогнутой контролируемой поверхности; радиус кривизны соответствующей выпуклой эталоннойповерхности; где К,ь,и Ь - перемещения контролиру 2емой детали относительно Составитель Е. РодионоваТехред И,Дидык Корректор Н. Король Редактор Н. Рогулич Заказ 5076/52 Тираж 683 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб ц. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 1. Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей, заключающийся в сравнении...

Номер патента: 1562691

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Парняков

МПК: G01B 11/255, G01B 9/08

Метки: кривизны, поверхностей, радиусов, сферических

...объективов 43 и 43 и в которой проектируются два иэображениямарки 37. При наведении проекционныхсистем на контролируемую поверхностьточка пересечения осей этих системсовмещается с вершиной О сферической поверхности, При отражении отнее оба пучка лучей света проходят вобратном ходе оптические элементыпроекционных систем и с помощью светоделительного зеркала 40 направляются в линзу 45 приемной оптическойсистемы. С помощью линзы 45 и кубпризмы 49 с полупрозрачной гипотенузной гранью два изображения марки проектируются в плоскости марки 50, наблюдаемой через окуляр 51, в плоскости диафрагмы 47, расположенной перед фотоприемником 48. На фиг.2 показан в качестве примера двухэлементный фотоприемник, но вместо него возможно,...

Номер патента: 1670390

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Бубис, Долик, Образцов, Подоба, Серегин, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения, сферических

...пластинку 5 рассеивается, образуя расходящийся рабочий пучок, который освещает образцовое зеркало 6 и контролируемые зеркала 7 и 8. Отразившись от всех зеркал, рабочий пучок возвращается к рассеивающей пластинке 5, проходит через нее и интерферирует с опорной сферической волной. Интерферометр 1 перемещают к центру кривизны образцового зеркала до появления на его поверхности прямых интерференционных полос, Подвижками контролируемых зеркал 7 и 8 выравнивают длины хода опорного пучка и частей рабочего пучка для каждой поверхности до появления на всех поверхностях в белом свете интерференционных полос максимально возможного контраста с одинаковой частотой и ориентацией. После этой операции контролируемые поверхности пересекают...

Номер патента: 1747895

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Богомолов, Борейко, Еськов, Захаренков, Линский, Образцов, Подоба, Серегин, Фирсов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения

...зеркала10 и 11, возвратный отражатель 21, прямаяреперная,линия 22 в поле зрения интерферометра.На фиг.4 показаны пробные стекла иконтролируемые поверхности при значительных отклонениях радиусов кривизныпробных стекол от номинального значения,вид сверху: пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22. На фиг,5 показаны пробные стекла и контролируемые поверхности, размещенные на общей раме, при смещении интерферометра из центра кривизны поверхностей сравнения, вид сверху; пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, жесткая рама 9, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22.На фиг.б приведен пример реализации способа с наклонной осью интерферометра при...

Номер патента: 1779549

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Амиридзе, Еремян, Турманидзе

МПК: B24B 3/60

Метки: вышлифовки, малых, радиусов

...Москва, Ж, Раушская нэб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Изобретение относится к станкостроению. касается шлифования и может быть использовано при изготовлении различных микроинструментов, применяемых при сборке микросхем и монтаже узлов радио электронной аппаратуры.Цель изобретения - расширение технологических возможностей путем обеспечения обработки заготовок различных типоразмеров. 10На чертеже показана схема устройства для вышлифовки малых радиусов.Заготовку 1 обрабатывают шаржированной проволокой 2, закрепленной одним концом посредством пружины 3 на шайбе 4, 15 расположенной между двумя гайками 5 на стойке 6. Стойка 6 размещена на механизме перемещения в виде подвижной каретки...

Номер патента: 1796866

Опубликовано: 23.02.1993

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/08

Метки: радиусов

...предлагаемоеустройство, общий вид.Устройство состоит из двух измерительных элементов 1, выполненных в виде трубок, соединенных между собой общим шарниром 2. Внутри трубок 1 с возможностьюосевого перемещения размещены штоки 3,выполненные в виде магнитных присосок и5 имеющие возможность аксиального перемещения. Они имеютдва варианта исполнения: в виде цилиндров и прямоугольниковсоответственно для измерения сферическихи цилиндрических поверхностей, Баэирую 10 щие поверхности а этих присосок перпендикулярны, а контактные линии с строгокоаксиальны осям 0-0 соответствующихштоков 3. Такое исполнение обеспечиваетвысокоточное базирование устройства на15 контролируемом объекте, На трубках 1 установлены нониусы 5, а основные шкалы.б.нанесены на...

Номер патента: 1796867

Опубликовано: 23.02.1993

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/08

Метки: радиусов

...на фиг.1; на фиг.З - положение устройства ири измерении наружйых радиусов,Устройство состоит из корпуса 1, вь 1 полненного дугообразным с рабочим радиусом г, причем Яг81, где В - радиус внутренних поверхностей; Ь - радиус наружных поверхностей контролируемых деталей. На корпусе 1 с возможностью перемещения установлены каретки 2, на которых в свою очередь размещены полые стебли 3, телескопически сочлененные со штангами 4, Штанги 4 подвйжно соединены с базовыми опорами 5, выполненными в виде сменных магнитных присосок. На стеблях 3 установлены нониусы 6, а на штангах 4 нанесены основные шкалы 7. Штанги фиксируются в стеблях 3 винтами 8, а каретки 2 на корпусе 1 - винтами 9. Устройство снабжено рукоятками 10. От выпадания и разворота...

Номер патента: 1648147

Опубликовано: 27.04.2005

Автор: Шутов

МПК: G01B 11/24

Метки: кривизны, оптических, радиусов

1. Способ контроля радиусов кривизны оптических деталей, заключающийся в том, что формируют коллимированный пучок излучения, устанавливают эталонный оптический элемент, освещают деталь, перемещают ее вдоль оптической оси, измеряют расстояние l между эталонным оптическим элементом и деталью и рассчитывают радиус R кривизны детали, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля деталей с малой апертурой, в качестве эталонного оптического элемента используют плоское зеркало с двумя отверстиями, одно из которых - в центре зеркала, устанавливают зеркало отражающей поверхностью к детали, освещают деталь через второе отверстие в зеркале, совмещают точку пересечения оптической оси...