Патенты с меткой «дейтерированных»
Способ получения дейтерированных -диазокарбонильных соединений
Номер патента: 560879
Опубликовано: 05.06.1977
МПК: C07C 113/00
Метки: дейтерированных, диазокарбонильных, соединений
...которые нельзя было синтези- Оровать известными ранее способами вследствие разрушения либо большой склонностик гидролизу.П р и м е р 1. 1 - 2 -диазоацегофепОн. 51 г (0,0068 г-моль, диазоацетофенонарастворяют в 18 мл дейтерометанола(СНЗО .1 ), добавпяют 0,1 г (0,00086 гмоль свежеприготовленного триэтиламинаи полученный раствор оставляог в темнсте на 8 час при 20-25 оС. После удаления дейтерометалола и триэтиламина в ва.ууме и перекрисгаллизации дейтерированного диазэкетона из гексана был полученобразец, содержащий 91 % дейтерированного препарата. Выход 0,8 г (80%). Т.пл.46 - 48 оС ( гексан),П р и м е р 2. Метиловый эфир Д - диазоуксусной кислоты.Раствор 5 г (0,05 г-моль) метилового эфира дЪазоуксусной кислоты и...
Способ изготовления оптических элементов из кристаллов дигидрофосфата калия и его дейтерированных аналогов
Номер патента: 1730223
Опубликовано: 30.04.1992
Авторы: Васев, Зайцева, Пополитов, Спицына
МПК: C30B 29/14, C30B 33/04
Метки: аналогов, дейтерированных, дигидрофосфата, калия, кристаллов, оптических, элементов
...К на длинах волн светового излучения 200 и 700 нм, 10 - полоса поглощения при 220 нм; на фиг, 4 - зависимости изменения величин К части призмы кристалла КДР, содержащего полосу поглощения при 280 нм и слабую полосу при 220 нм, от дозы гамма-излучения, где 11 - интенсивность ПП при 280 нм; на фиг, 5 - зависимости изменения величин КЛ-среза пирамиды кристалла ДКДР, содержащего ПП при 220 и 280 нм, от дозы гамма-излучения; на фиг, 6 - зависимости изменения величин К части призмы кристалла ДКДР, содержащего ПП при 220 и 280 нм, от дозы гамма-излучения,Наиболее распространенные изделия из кристаллов КДР и ДКДР - удвоители и утроители частоты лазерного излучения. В этих изделиях наиболее полно используются ИК- и УФ-области спектра. Поэтому...