Патенты с меткой «дефектометрии»
Способ вихретоковой дефектометрии
Номер патента: 632946
Опубликовано: 15.11.1978
МПК: G01N 27/86
Метки: вихретоковой, дефектометрии
...состоящего иэ возбуждающей катушки и двух пар измерительных катушек, значительно отличающихся своими диаметрами, расположенных по обеим сторонам генераторной катушки и включенных попарно встречно с целью компенсации сигнала от первичного поля. Возбуждаюшую катушку подсоединяют к генератору гармонических колебаний, измерительные катушкик двум милливольтметрам. Сканируя дат. чиком по поверхности контролир,емогаз 6545/35 Тираж 1070 Подписное ЦНИИПИ Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная,4 иэделия, фиксируют максимальные значения ЭДС в каждой иэ катушек, а также точку на поверхности иэделия, надкоторой ЭДС в измерительных катушкахпроходит через нуль. Это будет искомая точка над дефектом. Глубину залегания дефекта определяют с...
Способ дефектометрии объектов в электри-ческом высокочастотном поле
Номер патента: 845074
Опубликовано: 07.07.1981
Авторы: Бурая, Дежкунова, Довгялло, Кожаринов, Любый, Перепелкин, Шрамков, Щукин
МПК: G01N 27/62
Метки: высокочастотном, дефектометрии, объектов, поле, электри-ческом
...определяют глубинудефекта.15 Сущность предлагаемого способа поясняется чертежом, где представлена схемаконтроля.Схема контроля зключает электрод 1,выполненный в виде разрядной обкладкии подключаемый к генератору высокой частоВ ты, оптико-электронный индикатор 2, последовательно соединенные соленоид 3, оськоторого перпендикулярна поверхности экрана оптико-электронного индикатора, источник 4 постоянного тока, регулировочный резистор 5 и измеритель 6 тока.Предлагаемый способ реализуется следующим образом. Объект 7 контроля включают в цепь высокочастотного разряда, размещая его на электроде 1, и наблюдают полученное изображение с помощью оптико- электронного индикатора 2. Ток через соленоид 3, создаваемый источником 4 постоянного тока,...
Способ вихретоковой дефектометрии не-ферромагнитных обектов
Номер патента: 847176
Опубликовано: 15.07.1981
МПК: G01N 27/86
Метки: вихретоковой, дефектометрии, не-ферромагнитных, объектов
...следующим образом.В объекте контроля возбуждают вихревые токи, сканируют его поверхность и воспроизводят в комплекснойплоскости годограф вектора магнитнойиндукции вихревых токов с помощьюэкрана векторметра или двухкоординатного самописца,Измеряют расстояние АС между двумя наиболее удаленными точками годографа, угол б, наклона прямой АС коси координат комплексной плоскостии отношение отклонения ОВ годографаот середины прямой АС к длине этойпрямой, то есть ОВ/АСЭкспериментально установлено, чтомежду измеренными величинами и параметрами дефектов существует взаимнооднозначное соответствие.По отношению ОВ(ДСспомощью экспериментально полученных диаграмм определяют угол между плоскостями дефектаи контролируемой поверхностью, по углу сС -...
Способ вихретоковой дефектометрии
Номер патента: 875272
Опубликовано: 23.10.1981
МПК: G01N 27/90
Метки: вихретоковой, дефектометрии
...дефекта в контроли руемом металле.Способ. осуществляется следующимобразом.Синусоидальный сигнал генератора 1поступает на преобразователь 2, откуда сигнал преобразователя поступает на вход первого сумматора 3. В сумматоре 3 осуществляется векторноесложение сигнала с преобразователя 2и, сигнала первого добавочного напряжения, амплитуда и фаза которого формируется регуляторами амплитуды иФазы 8 и 9. Аналогично на втором сум 15 маторе 4 осуществляется сложение второго добавочного напряжения с регуляторов фазы и амплитуды 10 и 11 с сум-,марным сигналом первого сумматора 3.Второй суммарный сигнал с сумматора 4и сигнал генератора 1, пройдя черезфазовращатель 7, поступают на фазовый детектор 5 и далее на индикатоо 6.При установке...
Устройство для электромагнитной дефектометрии
Номер патента: 945769
Опубликовано: 23.07.1982
Авторы: Ануфриков, Горбатов, Трахтенберг, Шкатов
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектометрии, электромагнитной
...генераторов в контролируемый объектВ 50создают в последнем токи протекающиечерез контролируемый участок,При этом законы распределения плотностей токов в зоне контроля известныиз предваритепьного анализа соответствующих математических моделей. Токи,55протекающие через контролируемый объект, создают певоэмушенное магнитноеполе, Измерительный преобразователь 4 ориентируют относительно невоэмущенно .го магнитного поля таким образом, чтобы оно не взаимодействовало с измерительным преобразователем, Рекомендуется для улучшения подавления невозмущенного магнитного поля использоватьдифференциальный измерительный преобразователь магнитного поля, При взаимдействии токов, протекающих через контролируемый объект, с дефектом возникаетвозмущенное...
Способ дефектометрии в высокочастотном электрическом поле
Номер патента: 960614
Опубликовано: 23.09.1982
МПК: G01N 27/62
Метки: высокочастотном, дефектометрии, поле, электрическом
...получая значения интегральной метрических размеров дефекта. интенсивности излучения Э бездефектнойОЭтв цель достигается тем, что, сог- поверхности, и по разности этих значеласно способу дефектометрии в высоконий Э- Эо, введенной в устройство 5 частотном электрическом поле, заключающемуся в воздействии на объект контроля высокочастотным разрядом, измерении интенсивности излучения с обьектеи сравнении интегральной интенсивностиизлучения нв дефектной и бездефектнойповерхностях, производят измерение ло-,кальной интенсивности излучения, определяют расстояние между соседними максимальными значениями локальной инсРавнения определяют глубину дефекта. В случае необходимости дальнейшего повышения точности при определении глубины дефектов, длина...
Способ электромагнитной дефектометрии
Номер патента: 1024819
Опубликовано: 23.06.1983
Авторы: Брон, Власов, Лапшин, Лепешкин, Мужицкий
МПК: G01N 27/87
Метки: дефектометрии, электромагнитной
...дефекта при,двух различных фиксированных зазорах7 и 22 в точках, расположенных на 5 нормали к поверхности позволяет повысить точность измерения глубины дефекта и осуществить автоматическую разбраковку дефектов по глубине. Изобретение относится к неразрушающему контролю и может использоваться для определения качества Ферромагнитных изделий в черной металлургии и машиностроении.Известен способ определения глубины дефектов в Ферромагнитных изделиях, заключающийся в том, что изделие намагничивают и определяют тангенциальную составляющую поля. рассеяния дефекта1Однако такой способ не позволяет произвести отстройку от мешающих факторов - наклепа,изменение зазора и т.д.Наиболее близким по технической .сущности к изобретению является спо...
Система для автоматической дефектометрии
Номер патента: 1190253
Опубликовано: 07.11.1985
Авторы: Дрейзин, Филист, Якиревич
МПК: G01N 29/04
Метки: автоматической, дефектометрии
...смещеннпо фазе друг от друга. Величинащения определяется максимальнымменем распространения ультразвукдо дефекта и обратно. Запоминающий блок 6 и блоки 12 и 18 памямогут быть реализованы на базестандартных модулей полупроводнвой памяти, например, микросхемК 134 РУ 6. Типовая функциональная схема блока памяти на базе этихмикросхем приведена в монографии,Запоминающий блок используется вкачестве ОЗУ блока 8 управления.Интерфейсный 7 блок может бытьвыполнен на базе стандартного программируемого параллельного интерфейса К 580 ИК 55, настроенного в режим стробируемого или потенциального вывода информации, при этомнастройка интерфейса К 580 ИК 55 иуправление его работой осуществля 50 55,ются блоком 8 управления по его блок 8-6 управления...
Способ вихретоковой дефектометрии
Номер патента: 1330538
Опубликовано: 15.08.1987
Авторы: Волков, Иванченко, Федоров, Шепелев
МПК: G01N 27/90
Метки: вихретоковой, дефектометрии
...началукоординат (точка К) соответствуеткомпенсация сигнала преобразователяпри его установке в воздухе, т.е.при г - 00,На. правых фрагментах (фиг. 2) рядзначений глубин трещин (на кривых Ь)соединен прямыми с расчетными значениями соответствующего зазора г. (накривых г), Расчет значений г для с, 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 жение точки переноса начала координат для каждого значения Ь совпадает с соответствующим расчетным значением г, лежащим на пересечении соответствующей прямой и кривой (г).Величина максимального фазового сдвига от трещины Ь при местоположениикоординат в расчетной точке г+ обозначена ас . Бездефектный участок металла обозначен точкой М,Способ осуществляется следующимобразом.Синусоидальный сигнал генераторапоступает на...
Способ дефектометрии плоских диэлектрических материалов
Номер патента: 1550407
Опубликовано: 15.03.1990
МПК: G01N 27/24
Метки: дефектометрии, диэлектрических, плоских
...детектора б электромагнитногоизлучения соединен с измерительнымвходом частотного детектора 7, наопорный вход которого подается сигнал с второго выхода блока 10 перестройки частоты, Входы регистратора9 соединены с выходом частотногодетектора 7 и третьим выходом блока10 перестройки частоты,Устройство работает следующимобразом,Плоский диэлектрический материалпомещают между электродами 3 и 4 сизлучателем 2 и приемником 5 электромагнитного излучения, Частота генерации электромагнитного излучения выбирается таким образом, чтобы длинаволны в материале не превышала удвоенной его толщины, Последнее условиеследует из условий распространенияэлектромагнитного излучения в волноводе, заполненном диэлектриком. ПриЪотсутствии дефекта в объеме...
Способ вихретоковой дефектометрии
Номер патента: 1627970
Опубликовано: 15.02.1991
Автор: Учанин
МПК: G01N 27/90
Метки: вихретоковой, дефектометрии
...результирующего электромагнитного поля в двух симметричных точках В и С, равноудаленньх от в;рхней кромки трещины (ВА 1= А 1 С). Выделяют в полученных сигналах составляющие, 01 и 02 обусловленные дефектом. Для этого предварительно проводят компенсацию сигнала на выходе измерительных обмоток 4 и 5 при установке н беэдебектную зону объекта контроля или контрольного образца. Определяют ра ницу сигналов, пропорциональных вертикальной составляющей вектора магнитной индукции поля дефекта в точках В и С, а также отношение полученной разницы сигналов к величине одного иэ них, Укаэанное отношение (01 - 02)/01 определяется няклоном трещины, При этом необходимо пользоваться экспериментальными диаграммами. полученными для конк 5 10 15 20...
Способ дефектометрии поверхности изделий
Номер патента: 1672342
Опубликовано: 23.08.1991
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектометрии, поверхности
...осуществляется следующим образом.На поверхность контролируемого иэделия устанавливают два идентичных преобразователя-градиентометра, которые располагают в плоскости, параллельной поверхности иэделия, Оба преобразователяградиентометра имеют общую вертикальную ось (ось симметрии), но повернуты один относительно другого на угол1612 ЛТ 2 30 10 1 лим образом, оба преобрэзователягрлдиентометра представляют единый модуль, который вращается по заданному радиусу (фи г.2).Сигналы Е и Е 2 преобразователей-градиентометров 1 и 2 в зависимости от их относительного положения к трещине (фиг,2) различны и зависят от угла у, Когда первый преобразователь-градиентометр 1 расположен вдоль трещины, то второй преобразовательн радиентометр ориентирован поперек...
Способ дефектометрии плоских диэлектрических материалов
Номер патента: 1698725
Опубликовано: 15.12.1991
Авторы: Кожаринов, Крутов, Швайко
МПК: G01N 27/24
Метки: дефектометрии, диэлектрических, плоских
...35 40 45 50 55 импульсного напряжения, Выход детектора 6 электромагнитного излучения соединен с измерительным входом частотного детектора 7, на опорный вход .которого подается сигнал с второго выхода блока 10 перестройки частоты. Входы регистратора 9 соединены с выходом частотного детектора 7 и третьим выходом блока 10 перестройки частоты, Возбуждающий элемент 1.1 расположен на поверхности образца и подключен к выходу генератора 12 акустических сигналов, к управляющему входу которого подключен блок 13 перестройки частоты, К второму выходу детектора 6 электромагнитного излучения подключен блок 14 сравнения.Устройство работает следующим образом.Плоский диэлектрический материал помещают между электродами 3 и 4 с излучателем 2 и приемником...