Способ дефектометрии поверхности изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
) 11) 5 6 О 1 й 27/82 ГОСУДАРСТВЕ Н 11 ЫИ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРБТИПРИ ГКНТ СССР;)Л",ц) д ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ проектнститут сследоконтрник пороени ВЕР я, у - угол между ля ми-градиенто(21) 4498040/28(56) Приборы для неразрушающеголя материалов и иэделий. Справочред. В,В.Клюева, кн,2, М,: Машиност1976, с.141.Авторское свидетельство СССРМ 1486908,кл. С 01 М 27/00, 1987.(54) СПОСОБ ДЕФЕКТОМЕТРИИ ПНОСТИ ИЗДЕЛИЙ Изобретение относится к неразрушающему контролю качества поверхности иэделий и может быть использовано в линиях отделки металлургических и машиностроительных заводов при автоматическом контроле изделий, например листового и сортового проката.Цель изобретения - повышение точности за счет устранения изменения величины сигнала от дефекта в зависимости от угла поворота преобразователя-градиентометра,На фиг.1 представлена схема осуществления способа: на фиг.2 - различные положения преобразователей-градиентометров относительно трещины, где Ч - направление(57) Изобретение относится к автоматизированному неразрушающему контролю качества изделий металлургического и машиностроительного производства. Цель изобретения - повышение точности. В способе дефектометрии поверхности изделий контролируемая поверхность сканируется одновременно двумя идентичными преобразователями-градиентометрами, имеющими общую ось симметрии, но повернутыми относительно друг друга на угол 900, Измеренные величины сигналов каждого преобразователя-градиентометра возводят в квадрат, суммируют квадраты, а иэ суммы квадратов извлекают корень квадратный, по значению которого определяют величину дефекта, 2 ил. движения преобразователтрещиной и преобразоватеметрами.Схема содержит два преобраэователяградиентометра 1 и 2, включающих соответственно полузоны 3, 4 и 5, 6.Способ осуществляется следующим образом.На поверхность контролируемого иэделия устанавливают два идентичных преобразователя-градиентометра, которые располагают в плоскости, параллельной поверхности иэделия, Оба преобразователяградиентометра имеют общую вертикальную ось (ось симметрии), но повернуты один относительно другого на угол1612 ЛТ 2 30 10 1 лим образом, оба преобрэзователягрлдиентометра представляют единый модуль, который вращается по заданному радиусу (фи г.2).Сигналы Е и Е 2 преобразователей-градиентометров 1 и 2 в зависимости от их относительного положения к трещине (фиг,2) различны и зависят от угла у, Когда первый преобразователь-градиентометр 1 расположен вдоль трещины, то второй преобразовательн радиентометр ориентирован поперек трещины (фиг.2 а). Сигнал Е 1=0, а сигнал Ер=-Е, При повороте на 90 вдоль дефекта располагается второй преобразователь-градиентометр 2, а поперек дефекта первый преобразователь-градиентометр 1 (фиг.2 б). При этом Е 1=Е, а Е 2=0. На фиг.2 в положение первого и второго пеобраэователей-грэдиентометров 1 и 2 промежуточное, и величины их сигналов отличаются от граничных, При повороте преобразователей-грэдиентометров нэ угол у их сигналы соответственно равны Е 1 = Е сов у; Ег = Е в 1 п уВозведя значения Е 1 и Е 2 в квадрат, просуммировав и извлекая квадратный корень иэ суммы квадратов, получим искомую величину Е независимо от угла у поворотапреобразователей-градиентометровЕ 1+ Е 2- Е соя у Е ып у- Е(соэу 1.1 эп у) отсюда Е = Е 1+ ЕФормула изобретения Способ дефектометрии поверхности из делий, заключающийся в том, что поверхность контролируемого иэделия сканируют вращающимся преобразователем-грэдиентометром, установленным в плоскости, параллельной контролируемой поверхности, и 15 по величине сигнала Е 1 преобразователяградиентометрэ судят о величине дефекта, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности, одновременно контролируемую поверхность сканируют вто рым, идентичным первому,преобразователем-градиентометром, установленным в той же плоскости так, что угол между преобразоавтелями-градиентометрами составляет 90 О, а их оси симметрии 25 совпадают, измеряют величину Ег сигналавторого преобразователя-градиентометра, а величину де екта определяют иэ соотношения Е = Е 1 + Е 2, г Фиг Составитель И.РекуноваТехред М.Моргентал Корректор М.Кучерявая дакт труше Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 каз 2835 ВНИИПИ Гос Тираж 379твенного комитета по изоб 113035, Москва, Ж, Рау Подписноетениям и открытиям при ГКНТ СССкая наб 4/5
СмотретьЗаявка
4498040, 26.10.1988
УКРАИНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ПРОЕКТНЫЙ И ПРОЕКТНО КОНСТРУКТОРСКИЙ ИНСТИТУТ "МЕТАЛЛУРГАВТОМАТИКА", НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ИНТРОСКОПИИ
БРОН ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ, МУЖИЦКИЙ ВЛАДИМИР ФЕДОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектометрии, поверхности
Опубликовано: 23.08.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1672342-sposob-defektometrii-poverkhnosti-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дефектометрии поверхности изделий</a>
Предыдущий патент: Способ обнаружения дефектов в конструкционных изделиях из неметаллических материалов
Следующий патент: Намагничивающее устройство для магнитного контроля ферромагнитных изделий
Случайный патент: Способ старения линейных стеклянных штриховых шкал