Устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 570897
Авторы: Бессмертных, Ишков
Текст
Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 18,02.75 (21) 2107802/2 с присоединением заявки Л Государственныи комит Совета Министров СССата опубликования описания 08.09(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ТЕСТО БЕСПОВТОРНЫХ КОМБИНАЦИОННЫХ СХЕМ онкций, индикатор рвый выход блока правляющнм вхонных логической нъюнкций, выходы ляющими входами ементарных коньодов коммутатора оныонкций подсоеов индикатора теюнкции, коммутатор коны тестовых наборов, причем пе управления подключен к у дам коммутатора переме 5 функции н коммутатора ко которого соединены с управ коммутатора переменных эл юнкций, первая группа вых переменных элементарных к 10 динена к первой группе вход стовых наборов 2. Недостатком д невозможность по ряющих тестов, в Б ческнх. При контроле комбинаци образно реализовать набо теста, а при обнаружении сти - оставшиеся наборы,20 проверяющим составляют п ский тест. Это уменьшит вр Цель изобретения - рас нальных возможностей устр лучения полных проверяю 25 щих в получаемый диагно имеющих наименьшую длин Это достигается, тем, что дены группа элементов И менных логической функц 30 блока управления соедннеонных схем целесоры проверяющего факта неисправно- которые в сумме с олный диагностичесмя контроля.ширение функциоойства за счет пощих тестов, входястическни тест и у.в устройство ввеи индикатор перени, причем выход н с управляющим Изобретение относится к вычислительной технике, а именно к устройствам контроля и поиска неисправностей в бесповторных комбинационных схемах.Известно устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управления, коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элементарных конъюнкций и индикатор тестовых наборов. Блок управления соединен с коммутаторами переменных логической функции и переменных элементарных конъюкций, выходы коммутатора переменных логической функции подкзпочены к одноименным входам коммутатора переменных конъюнкций, нагрузкой которого является индикатор тестовых наборов 1.Недостатком данного устройства является необходимость выполнения логических преобразований для получения полного проверяющего теста, особенно минимального, когда приходится решать комбинаторные задачи, связанные с перебором числа конъюнкций и нахождением минимальных покрытий матриц.Известно также наиболее близкое по техническому решению к изобретению устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управления, коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элементарных коньанного устройства является лучения минимальных прове ходящих в число диагностивходом индикатора переменных логической функццп, вторая группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций -- с группой входов индикатора переменных логической функции и с первыми входами группы элементов И, вторые входы которых связаны с выходами коммутатора переменных логической функции, выходы группы элементов И подключены к второй группе входов индикатора тестовых наборов.На фиг. 1 изображена структурная схема устройства; на фиг. 2 - принципиальная электрическая схема одного из возможных вариантов его технической реализации.Устройство содержит блок 1 управления, коммутатор 2 конъюнкций, коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций, индикатор 4 переменных логической функции, коммутатор 5 переменных логической функции, группу элементов И 6, индикатор 7 тестовых наборов.Коммутатор 2 конъюнкций и коммутатор 5 переменных логической функции подключены к одному из выходов блока 1 управления, индикатор 4 переменных логической функции - к другому выходу блока управления. Одна группа выходных шин коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций подсоединена к одноименным входам индикатора 7 тестовых наборов, другая - к одноименным входам индикатора 4 переменных логической функции, к входам группы элементов И 6, стоящих между выходами коммутатора 5 переменных логической функции и входами индикатора 7 тестовых наборов,Блок 1 управления представляет собой устройство, выполненное на коммутирующих элементах, с помощью которых осуществляются подача и снятие напряжения источника питания на входы коммутатора 2 конъюнкций, коммутатора 5 переменных логической функции и индикатора 4 переменных логической функции. Один из выходов блока управления, связанный с входами коммутатора конъюнкций и коммутатора переменных логической функции, служит для подачи напряжения в устройство на время считывания наборов теста, другой, связанный с индикатором переменных логической функции - для снятия напряжения при приведении устройства в исходное положение.Коммутатор 2 конъюнкций - это набор коммутирующих элементов, соответствующих элементарным конъюнкциям, с помощью которых осуществляется подключение входа коммутатора 2 к соответствующему выходу.Коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций выполнен матричным с двумя группами выходных шин. Коммутирующие элементы, объединенные входными шинами, соответствуют переменным элементарным конъюнкций, а объединенные выходными шинами - переменным логической функции. Выходные шины одной из групп, соединенные с входами индикатора 7 тестовых наборов, подключаются к входным в положении коммутп 5 1 О 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 рующих элементов, соогвстствующем пали шю переменных независимо от их;нн ического. Выходные шины другой группы, соединенные с входами индикатора 4 переменных логической функции, подключаются к входным в положении тех же коммутирующих элементов, соответствующем переменным без инверсии,Индикатор 4 переменных логической функции изготовлен на индицирующих элементах памяти, сохраняющих информацию о переменных при получении всех наборов теста, Каждый индицирующий элемент соответствует переменной логической функции.Коммутатор 5 переменных логической функции выполнен на коммутирующих элементах, соответствующих переменным логпческой функции, Во включенном положении коммутирующих элементов вход коммутатора подключается к соответствующему выходу.Группа элементов И 6, число элементов И в которой соответствует количеству переменных логической функции, на которое рассчитано устройство, в исходном положении открыта и соединяет собственные входы с выходами. При подаче напряжения на первые входы элементы И закрываются и разобщают выходы от входов.Индикатор 7 тестовых наборов представляет собой набор индицирующих элементов, соответствую;цих переменным в наборах теста, а состояние элементов соответствует состоянию этих переменных в наборах.Устройство работает следующим образом.В исходном положении устройства все коммутирующие элементы находятся в выключенном состоянии. Для приведения в исходное положение элементов памяти индикатора переменных логической функции необходимо с помощью коммутирующих элементов блока управления снять напряжение источника питания с входа индикатора переменных логической функции. Для получения наборов разрыва с помощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций в устройство вводится логическая функция в дизыонктивной нормальной форме, а с помощью коммутатора 5 набираются переменные инверсной логической функции,Затем с помощью коммутатора 2 выбирается одна из конъюнкций включением соответствующего коммутирующсго элемента. При подаче напряжения с блока 1 управления индикатор 7 тестовых наборов отображает информацию о состоянии переменных в наборе разрыва, а индикатор 4 переменных логической функции - информацию о контролируемых этим набором переменных. Далее последовательно выбираются включением соответствующих коммутирующих элементов коммутатора 2 следующие конъюнкции, все переменные которых или их часть пе контролируются получаемыми наборами. При последовательной подаче питания с блока управления каждый раз считывают информацию с индикатора тестовых наборах.50 55 60 05 Выбор конъюнкций и получение наборов разрыва происходит до тех пор, пока не останется переменных, пс контролируемых полученными наборами. Фиксируют все наборы разрыва, которые в сумме контролируют все переменные логической функции. Эти наборы войдут в проверяющий тест. Затем устройство приводится в исходное положение.Для получения наборов шунтирования с помощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкцией в устройство:вводится инверсная логическая функция в дизыонктивной нормальной форме, а с помошью коммутатора 5 переменных логической функции набираются переменныс логической функции, Затем с помогцыо коммутатора 2 выбирается одна из конъюнкций инвеосной логической функции включением соответствующего коммутирующего элемента.При подаче напряжения с блока 1 управления индикатор 7 тестовы наборов отображает информацию о состоянии переменных в наборе шунтирования, а индикатор 4 переменных логической функции - информацию о контролируемых этим набором переменных. Затем последовательно путем включения соответствующих коммутирующих элементов коммутатора 2 выбираются следующие конъюнкции, все переменные которых или часть переменных не контролируются получаемыми наборами. Эти не контролируемые наборами переменные считываются с индикаторами 4 переменных логической функции. При последовательной подаче питания с блока 1 управления каждый раз считывается информация с индикатора 7 о тестовых наборах. Выбор коныонкций и получение наборов разрыва проводятся до тех пор, пока не останется переменных логической функции, не контролируемых получснными наборами шунтирования, Эти полученные наборы войдут в проверяющий тест.Объединяя все зафиксированные наборы разрыва и шунтирования, получают полный проверяющий тест, Г 1 ри переборе конъюнкций в различной последовательности можно получить различные полные проверяющие тесты.При переборе конъюнкций в указанной последовательности получают полный проверяющий тест наименьшей длины.Для получения наборов полного диагностического теста, содержащего в себе любой из проверяющих тестов, последовательно перебирают все имеющиеся коныонкции логической и инверсной логической функции.На фиг. 2 представлен один из возможных вариантов технических реализаций устройства, расчитанного для комбинационных схем, реализующих логические функции до трех переменных.Г 1 ри увеличении числа переменных логической функции увеличивается только число элементов устройства. Пр, нцип построения и работа устройства не меняются,5 10 15 20 25 30 35 40 45 Ьлок 1 управления выполнен па двух кнопках 8 и 9. При включении кнопки 8 снимастся напряжение источника питания с устройства для его приведения в исходное состояние, При включении кнопки 9 подается питание источника на устройство на время считывания наборов теста.Коммутатор 2 коныонкцпй имеет персключатели 10, 11 н 12, во включенном состоянии которых к входу подключается соогвстствующий выход.Коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций изготовлен матричным. В качестве коммутирующих элементов выбраны переключатели 13 - 21 с фиксированным нейтральным положением. В очном из включенных положений к входным шинам подключаются обе группы выходных шин, а в другом включенном положении - только шины, соединенные с входами индикатора 7 тестовых наборов.Индикатор 4 переменных логической функции состоит из электромагнитных реле 22 - 24, включенных по схеме с самоблокировкой, и комбинационных электрических лампочек, включенных в цепь самоблокировкп.Коммутатор 5 переменных логической функции выполнен на переключателях 25, 26 и 27, во вк.лю:енном состоянии которых соответствующие выходы подключаются к входу коммутатора.В качестве элементов И 6 применены электромапштные реле с нормально замкнутыми и нормально разомкнутыми контактамп.Индикатор 7 тестовых наборов представляет собой световое табло на электрических коммутационных лампочках 28, 29 и 30, соответствуюших переменным в наборах теста.Пгеимуществом предлагаемого устройства перед известным является то, что оно позволяет получить наименьшие проверяющие тесты, входящие составной частью в диагностические, а также наборы полных проверяющих тестов, в том числе и наименьшей длины, упорядоченные по коли.еству обнаруживаемь х ими неисправностей. При контроле схеме это приведет к сокрашению времени контроля,Формула изобретения Устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управления, коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элементарных конъюнкций, коммутатор коныонкций, индикатор тестовых наборов, причем первый выход блока управления соединен с управляющими входами коммутатора переменных логической функции и коммутатора коньюнкций, выходы которого соединены с управляющими входами коммутатора переменных элементарных конъюнкций, первая группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций соединена с первой группой входов индикатора тестоьых наборов, отли.ч аю щ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, в устройство введены группа элементов И и индикатор переменных логической функции, причем выход блока управления соединен с управляющим входом индикатора переменных логической функции, вторая группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций соединена с группой входов индикатора переменных логической функции и с первыми входами группы элементов И, вторые входы которых соединены с выходами коммутатора переменных логической функции, выходы группы элементов Исоединены с второй группой входов индикатора тестовых наборов.5 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССР МО 458830,кл. 6 06 Г 11/00, 1974,2. Авторское свидетельство СССР Мо 388261,10 6 061. 11/00, 1971.Заказ 1942/5НПО одписно Типография, пр. Сапунова,Изд. Уо 711сударственного комитета Спо делам изобретений13035, Москва, Ж, Рауш Тираж 818вета Министровоткрытийкая наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
2107802, 18.02.1975
СЕРПУХОВСКОЕ ВЫСШЕЕ ВОЕННОЕ КОМАНДНОЕ УЧИЛИЩЕ ИМ. ЛЕНИНСКОГО КОМСОМОЛА
БЕССМЕРТНЫХ АНАТОЛИЙ ЯКОВЛЕВИЧ, ИШКОВ НИКОЛАЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G06F 11/00
Метки: бесповторных, комбинационных, схем, тестов
Опубликовано: 30.08.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/5-570897-ustrojjstvo-dlya-polucheniya-testov-bespovtornykh-kombinacionnykh-skhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для получения тестов бесповторных комбинационных схем</a>
Предыдущий патент: Комбинационный сумматор
Следующий патент: Устройство для формирования контрольных разрядов логических операций
Случайный патент: Устройство для технического использования явления поляризации диэлектриков при пропускании через них электрического тока