Электромагнитный дефектоскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
) 4 С 01 Я 27/ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИК А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ нного в виде фор интерналов, вхок выходам вспо вател и выполнвременныхподключепреобразметок и 1 которого огательных онвателеи, трех генератороводключенных к ним трех вом счетчиков мето рвые выходы кот ОСУДАРСТВЕННЫИ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ(71) Центральное межотраслевоеструкторско-технологическое бюрбототехники с опытным производсИнститута физики АН ЛатССР(56) Авторское свидетельство ССМ 678401, кл, С 01 И 27/90, 197Авторское свидетельство СССРМ 1040402, кл, С 01 Я 27/90, 19(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии малогабаритных электропроводящих деталей,Цель изобретения - повышение надежности за счет отстройки от влияниядестабилизирующих факторов и чувствительности дефектоскопа за счетсужения участков контроля достигается введением в дефектоскоп блокаформирования меток, позволяющегоразбить сигнал от детали на участки рых подключены к входам логическогоблока, а вторые выходы - к управляющим входам генераторов меток, которые подключены к выходам формирователя временных интервалов, блоканормализации коэффициентов, включенного между блоком вычисления коэффициентов и блоком сравнения и позволяющего вычислять нормированноезначение коэффициентов Р по всемучасткам контроля, и блока анализаи корректировки пределов контроля,выходы которого подключены к входамблоков вычисления, нормализации исравнения и образующего вместе с указанными блоками вычислитель, который позволяет осуществлять такой алгоритм вычисления коэффициентов Г.значения которых не зависят от влияния дестабилизирующих факторов.4 ил.10 15 20 25 ЗО 35 40 45 50 Изобретение относится к нераэрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии малогабарит, ных электропроводящих деталей.Цель изобретения - повышение надежности путем отстройки от влияниядестабилизирующих факторов и чувствительности дефектоскопа путем сужения участков контроля.На Фиг. 1 представлена структурная схема предлагаемого электромагнитного дефектоскопа; ца фиг, 2огибающая высокочастотного сигналапри перемещении деталей (дефектныхи эталонных) через измерительныйпреобразователь; на фиг. 3 - характеристика преобразователя напряжение-частота; на фиг. 4 - циклограммаработы дефектоскопа.Электромагнитный дефектоскопсодержит измерительный и компенсационные преобразователи 1 и 2, подключенные к ним первый и второйизмерительные блоки 3 и 4, блок 5вспомогательных преобразователей,логический блок 6, выполненный нвиде дешифратора 7, входы которогоявляются управляющими входами логического блока 6, первую и вторуюсхемы 8 и 9 совпадения, подключенныепервыми и вторыми сигнальными входамик выходам первого и второго измерительных блоков 3 и 4 соответственно, а управляющими входами - к первому ивторому выходам дешифратора 7, третью и четвертую схемы 10 и 11 совпадения, каждая из которых соединена двумя своими входами с соответствующими выходами первой и второйсхем 8 и 9 совпадения через счетчики 12-15 импульсов, управляющиевходы третьей и четвертой схем 10и 11 совпадения соединены с третьими четвертым выходами дешифратора 7,а их выходы являются выходами логического блока 7, подключенные к последним последовательно соединенныеблок 16 вычисления коэффициентов,блок 17 нормализации коэффициентов,управляемый блок 18 сравнения и блок19 разбраковки,Дефектоскоп содержит также блок20 Формирования меток, выполненныйн виде, Формирователя 21 временныхинтервалон, входы которого подключены к выходам блока 5 вспомогательных преобразователей, трех генераторов 22-24 меток и подключенных к ним трех счетчиков 25-27 меток, первыевыходы которых подключены к входамлогического блока 6, а вторые выходы - к управляющим входам генераторон 22-24, которые подключецы к выходам формирователя 21 временныхинтервалов, и блок 28 анализа и корректировки пределов контроля, выходыкоторого полк.пючены к входам блока16 вычисления коэффициентов, блока17 нормализации коэффициентов ( управляемого бдока 18 сравнения, управляющий вход которого подключенк пятому выходу дешифратора 7, Блоки 16-18 и 28 образуют вычислитель 29.Электромагнитный дефектоскоп работает следующим образом,При движении контролируемой детали через измерительный преобразователь 1 на выходе измерительногоблока 3 появляется частотный сигналГ, а на выходе измерительного блока 4 - сигнал Г который возникаетвследствие преобразования огибающейсигнала на выходе автогенератораизмерительных блоков 3 и 4 (фиг. 2)с использованием преобразователя напряжение-частотаНаличие дефектовна детали вызывает отклонения 30 отФормы огибающей и соответственноизменения в частоте сигнала 31(фиг, 4).При движении конца контролируемой детали между фотодатчиками А и Вблока 5 вспомогательных преобразователей Формируется первый интервале, -с, (4 б) и запускается генератор22 меток. Счетчик 25 меток отсчитывает заданное количество меток Я.По мере дальнейшего перемещения детали в интервале с, -с(фиг. 4 в) запускается генератор 23 меток, счетчик 26 меток отсчитывает Р меток; винтервале с, -с работает генератор24 и счетчик 27 меток отсчитываетК меток (фиг. 4 г),После отсчета заданного количества меток счетчики 25-27 меток поцепи обратной связи запирают соответствующие генераторы 22-24 меток.Длительность временных интервалов зависит от разброса скоростейконтролируемой детали, поэтому час-тота каждого генератора 22-24 метоквыбирается исходя из того, чтобыобеспечить необходимое число метокда(е при максимальной скорости кон 1250930тролируемой детали, Оставшиеся части временных интервалов ь С АС Ю (фиг. 4 б, 4 в, 4 г) отсчитываются от последних меток в группах Б, Р, К до срабатывания фотодатчиков 5 В, С, Р от концов движущейся детали, поэтому при уменьшении скорости движения, эти части интервалов увеличиваются по величине, но при этом работоспособность устройства сохра няется. По мере поступлен.1 я меток логический блок 6 вырабатывает командные сигналы на схемы 8 и 11 совпадесния, на блок 18 сравнения и блок 17 нормализации. 15 В требуемой последовательности импульсы ио и иот четных и нечетных интервалов между метками Б, Р и К поступают в блок 16 вычисления 20 коэффициентов, где решается уравне- ние 35 лы контроля. 55При наличии дефектов на детали (фиг. 2 и 4 а) наблюдается отклонение от укаэанных пределов, при этом ии. - иБлок 17 нормализации позволяет 25осуществить следующий алгоритм:1 т Р,Р иАср . ш - Кфс.- Кгде Р, - среднеарифметическое значение коэффициентов на участках 30контроля от К до ш, соответствующихцилиндрической части детали;вычисляет величинуиГ и -и;Ц- -ш-К1:Кгде Р . - нормированное значение коэффициентов повсем участкам контрои, , и, - количество импульсов,поступающих на счетчики на -ом участкеконтроля, соответственно от компенсационного и измерительного преобразователей.Результаты вычисления нормированных коэффициентов поступают в блок18 сравнения, который вычисляет систему неравенств Р . с Р, ( Ргде Р . и Р . - соответственн мил кмаксно минимальный и максимальный предеср:батывает блок 19 разбраковки и отсортировывает дефектную деталь.Использование блока 28 анализаи корректировки пределов контроля в вычислителе 29 позволяет в комплексе оценивать работоспособность всех узлов и блоков; набирать статистику значения коэффициентов Г. Йа каждом из участков; проводить корректировку (расширение или сужечие) пределов контроля Г и Р, ; осуществлять сравнение значений Г, с предельными значениями и определять абсолютные значения отклонения от заданных пределов;осуществлять рабочий режим автоматического сравнения коэффициентов в реальном масштабе времени, учет общего количества проконтролированных деталей, а также бракованных и годных деталей в каждой партии.Лефектоскоп отличается высокой надежностью контроля, достаточной чувствительностью к мелким дефектам и прост при наладке и эксплуатации. Это поясняется графиком. При отклонениях частрт Г, и Е при влиянии дестабилизирующих факторов Ц Г,) дефект 31 имеет величину Р;, соизмеримую с отклонением Р. от влияния дестабилизирующих факторов (фиг. 4 д). Нормализованные коэффициенты Р практически не изменяются при изменениях Й, и Г и их соотношений, а дефект 31 вызывает отклоне- ние Р , достаточное для его надежного распознавания (фиг. 4 е).Формула изобретенияЭлектромагнитный дефвктоскоп, содержащий измерительный и компенсационный преобразователи, подключенные к ним первый и второй измерительные блоки, блок вспомогательных преобразователей, логический блок, выполненный в виде дешифратора, входы которого являются управляющими входами логического блока, первой и второй схем совпадения, подключенных первыми и вторыми сигнальными входа. ми к выходам первого и второго измерительных блоков соответственщ, а управляющими входами - к первому, и второму выходам дешифратора, третьей и четвертой схем совпадения, каждая из которых соединена двумясвоими входами с соответствующими выходами первой и второй схем совпадения через счетчики импульсов, управляющие входы третьей и четвер-той схем совпадения соединены с третьим и четвертым выходами дешифратора, а их выходы являются выходами логического блока, подключенный кпоследним блок вычисления коэффициентов и последовательно соединенные управляемый блок сравнения, подключенный управляющим входом к пятому выходу дешифратора, и блок разбраковки, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения надежности и чувствительности дефектоскопа, он снабжен блоком формирования меток, выполненным в виде формирователя , временных интервалов, входы которого подключены к выходам вспомогательных преобразователей, трех генераторов меток и подключенных к ним трехсчетчиков меток, первые выходы которых подключены соответственно квходам логического блока, а вторыевыходы - к управляющим входам генераторов меток, которые подключенык выходам формирователя временныхинтервалов, блоком нормализациикоэффициентов, включенным междублоком вычисления коэффициентов иблоком сравнения, и блоком анализа 15 и корректировки пределов контроля,выходы которого подключены к входамблока вычисления коэффициентов, блока сравнения и блока нормализации,управляющий вход которого подключен 2 О,к пятому выходу дешифратора.ическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4 роизводственно-пол(Ми Тираж 778 ИПИ Государственно по делам изобрете 035, Москва, Ж, тийнаб.,
СмотретьЗаявка
3856200, 06.12.1984
ЦЕНТРАЛЬНОЕ МЕЖОТРАСЛЕВОЕ КОНСТРУКТОРСКО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ БЮРО РОБОТОТЕХНИКИ С ОПЫТНЫМ ПРОИЗВОДСТВОМ ИНСТИТУТА ФИЗИКИ АН ЛАТВССР
ДЕМИДОВ МИХАИЛ ВЛАДИМИРОВИЧ, ПРИДАЧА ГРИГОРИЙ ЯКОВЛЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскоп, электромагнитный
Опубликовано: 15.08.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/5-1250930-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп</a>
Предыдущий патент: Магнитный дефектоскоп
Следующий патент: Способ раздельного измерения магнитной проницаемости и удельной электрической проводимости и устройство для его осуществления
Случайный патент: Направляющая труба с внутренней футеровкой для подачи пруткового материала в металлообрабатывающих станках