Устройство для контроля изделийэлектронной техники по ик излучению

Номер патента: 733437

Авторы: Иванов, Игнатьева, Мазурик

ZIP архив

Текст

) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ ПО ИК-ИЗЛУЧЕНК 6 ля К екоторы бл Изобретение относится к средствам бесконтактного неразрушающего контроля и может быть применено для разбраковки изделий электронной техники (ИЭТ) на группы при контроле их качества.5Известны устройства для контро температуры на поверхности объектов, содержащие двухкоординатный предметный стол, блок управления движением стола, блок преобразования ин 10 фракрасного излучения объекта в электрический сигнал, блоки усиления, измерения и регистрации упомянутого сиг нала, сумматор, включенный между блоками измерения и регистрации, запоминающий блок, подключенный к сумматору, дешифратор поправок, включенный:на вход запоминающего блока поправок, запоминающий блок топограмм, включенный на вход дешифратора поправок, и дешифратор текущих координат, к входу которого подключенок топограмм 11. Недостатком устройства является низкая производительность контропя серийно выпускаемых ИЭТ, так как сканирование изделий осуществляется путем механического перемещения изделий двухкоордннатным столом в поле зрения блока преобразования инфракрасного излучения объекта в электрический сигнал.Наиболее близким к предложенному является устройство для контроля ИЭТ по ИК-излучению, включающее последовательно соединенные ИК-пирометр, блок и+1 компараторов, дешифратор к выходное устройство, а также програм мное устройство, соединенное с блоом и+1 компараторов 2.Этим устройством производится контроль ИЭТ по плотности ИК-излучения., собираемого одновременно со всей поверхности изделия.Устройство не обеспечивает точного контроля, поскольку н е изделия, напоимер мощные транзисторы,733437 51 О 20 25 30 З 5 40 вследствие скрытых дефектов могутобразовывать неравномерное тепловоеполе с бельшими температурными градиентами. Контроль таких изделий упомянутым устройством приводит к тому,что в группы годных изделий попадают дефектные изделия, имеющие тотже уровень ИК-излучения, что и годные ИЭТ.Цель изобретения - повышение точности контроля .Поставленная цель достигаетсятем., что в устройство введен блоккЪмтроля процентного соотношения сиг,налов, а пирометр выполнен в виде блока а+1 спектрозональных устройств.Выходы пирометра соединены с а+ вуодами блока контроля процентного соотношения сигналов, контрольные входыкоторого подключены ко второму выходу программного устройства, к входукоторого подключен выход дешифратора,а выход блока контроля процентногосоотношения сигналов подключен к выходному устройству,В предлагаемом устройстве, как и визвестном 21, производится разбраковка ИЭТ на группы по плотности ИКизлучения . Повышение точности контроля достигается тем, что для каждойиз групп производится дополнительныйанализ ИК-излучения изделия, Для этого в общем спектре .ИК-излучения блоком 111+1 спектрозональных устройстввыделяют ш+ спектральные зоны, Блоком контроля проценгного соотношениясигналов контролируется относительное перераспределение спектральныхплотностей излучения для каждой иззон по отношению к общему суммарному значению плотности . В случае неравномерного теплового поля на поверхности ИЗТ могут быть области с температурой Т Т,и Т Тс, где Тср. -средняя температура поверхности, принятой за эталон; Т и Т -температуры поверхности исследуемых изделий,Наличие областей с Т Тсгприводит кувеличению вклада в общий суммарныйсигнал плотности ИК-излучения с более.короткими длинами волн, который увеличивается с увеличением температуры.В случае когда перераспределениевыходит за пределы допустимых значений, производится вторичная раэбраковка.Такой контроль позволяет выявитьизделия с неравномерным тепловым полем. 4На чертеже показана структурнин схема предлагаемого устройства.Устройство содержит блок а+1 спа яв трозональных устройств 1, н качестве которых могут быть испо.нновины узлы и измерительные каналы цветовых пирометров, последовательно соединенный с первым входом блока и+1 компараторов 2, подключенного к дешифратору 3. Выход дешифратор соединен с выходным устройством 4 и входом программного устройства 5, первые выходы которого соединены со вторымвходом блока и+ компараторов 2, авторые - с контрольными входами блока 6 контроля процентного соотношения сигналов. Входы ш+ блока 6 соединены с выходами блока 1 п+ спектрозональных устройств, а выход подключен к выходному устройству 4, Блок 6контроля процентного соотношения сигналов содержит последовательно соединенные сумматор 7, блок делителей8, блок компараторов 9, схему И 1 О,причем входы сумматора 7 и вторыевхо блока делителей 8 соединеныс щ+ входами блока 6, вторые входыблока компараторов 9 - с контрольными входами блока 6, а выход схемы И 10 - с выходом блока б.Устройство работает следующим образом.Блок 1 п+ спектрозональных устройствсобирает ИК-излучение одновременно со всей поверхности исследуемого изделия, выделяет из широкого спектра ИК-излучения 01+1 спектральных зон и преобразует соответствующую этим зонам плотность ИК-излучения в электрический сигнал . Последовательно выделенные электрические сигналы с выхода блока спектрозональных устройств 1 поступают наблок и+1 компараторов 2, которыйсравнивает каждый полученный сигналс установленными граничными значениями, поступившими ранее иэ программного устройства 5, и опредецяет какой иэ- и групп соответствует данный50 сигнал. Результат сравнения обрабаты; вается дешифратором 3 и поступает на выходное устройство 4 и программное устройство 5Эталонные граничные значения для выявленной группы от 55 программного устройства 5 поступают на контрольные входы блока 6 контроля процентного соотношения сигнало и далее на вторые входы блока,компараторов 9.73343 10 фбрмула изобретения Электрические сигналы, соответствующие плотностям ИК-излучения выбранных ш+1 спектральных зон, пос -тупают с другого выхода блока п 1+спектральных устройствна в+1входы блока 6 контроля процентногосоотношения сигналов, откуда они идутна сумматор 7 и вторые входы блокацелителей 8. Блок делителей обрабатывает полученные сигналы таким образом, что его выходные сигналы равны отношению электрического сигналакаждой из ш+1 спектральных зон к общей сумме этих сигналов, выданнойсумматором 7, Эти выходные сигналы 15поступают на первые входы блока компараторов 9. В .блоке компараторов 9сигналы, поступившие по первым и вторым входам, сравниваются, и результаты сравнения поступают на схемуИ 10.Возможны два варианта срабатывания схемы И 10.1. Поверхность исследуемого изделия нагрета равномерно до температуры ТсГ 25 принятой за эталон, уровень плотности ИК-излучения (номер группы, выданной блоком и+1 компараторов 2) и процентное соотношение сигналов, выданное олоком делителей 8, соответствует об 30 ласти допустимых значений, в этом случае на входы схемы И 10 поступают логические "1" и на ее выходе появ 1ляется логическая 12Уровень плотности ИК-излучения35 соответствует эталонному значению, а процентное соотношение сигналов не соответствует эталонному, что свидетельствует о неравномерном тепловом: поле, в этом случае на входы схемы И1 11 40 О поступают как логические 1 , так и логические 0 , и на выходе схемы И 10 появляется логический 0".Сигнал с выхода схемы И 10 поступает на выходное устройство 4, где он45 индицируется, регистрируется, а затем формируется управляющий сигнал для исполнительного механизма.Г 7 6Таким образом, описанное устройство для контроля ИЭТ по ИК-излучению за счет дополнительного анализа ИК-излучения обеспечивает более высокую точность и достоверность контроля, чем прототип. Это позволяет использовать предлагаемое устройство для высокопроизводительной сортировки ИЭТ со сложной топологией и с большим числом активных элементов, выделяющих тепло, таких как интегральныесхемы и транзисторы,Устройство для контроля изделийэлектронной техники по ИК-излучению,включающее последовательно соединен-.ные ИК-пирометр, блок и+1 компараторов, дешифратор и выходное устройство, а также программное устройство, соединенное с блоком и+1 компараторов, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью повышения точности контроля, в устройство введен блокконтроля процентного соотношения сигналов, а пирометр выполнен в виде блока и 1+ спектрозональных устройств,выходы которого соединены с и 1+ входами блока контроля Процентного соотношения сигналов, контрольные входыкоторого подключены к второму выходупрограммного устройства, к входу которого подключен выход дешифратора,а выход блока контроля процентногосоотношения сигналов подключен к выходному устройству,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР У 34 б 596, кл. 6 01 5/12, 972.2. Авторское свидетельство СССРМ 534127, кл. С 01 й 29/00, 19771 прототип).ая, 4 ул. ПроР Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССпо делам изобретений н открытий3035, Москва, ЖРаушская наб.

Смотреть

Заявка

2685563, 16.11.1978

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1298

ИВАНОВ Ю. В, ИГНАТЬЕВА Н. В, МАЗУРИК Б. И

МПК / Метки

МПК: G01J 5/60

Метки: изделийэлектронной, излучению, техники

Опубликовано: 07.08.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-733437-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-izdelijjehlektronnojj-tekhniki-po-ik-izlucheniyu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля изделийэлектронной техники по ик излучению</a>

Похожие патенты