Способ определения кристаллографической ориентации монокристаллов с оцк-решеткой

Номер патента: 1000477

Автор: Измаилов

ZIP архив

Текст

ЬП ИСАНИЕИЗЬВРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик(11)1000477 1) Дополнительное к авт. свид-ву -51 1) 3271374/23-26 2) Заявлено 01.04,С 30 В 33/О исоединением заявк Гесударстеелньа кемлте 23) Приорите 3) УДК 621.315.ано 28.0 бл 2.83. Бюллетенья описания 05.03.83 да делам лзебретекий и еткрмтийДата опубликова 72) Авт И, Измаил зобре Ленина и ордена Октяб нергетический институт кой орде люции) Заявитель 54) СПОСОб ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКО ОРИЕНТАЦИИ МОНОКРИСТАЛЛОВ С ОЦК-РЕШЕТКОЙ и мо- огра- крисНаляется талла, тем из Этим с наиболческих Изобретение относится к производству монокристаллов и кристаллографии жет быть использовано для кристалл фической ориентации изделий из микро таллов с ОЦК-решеткой.Для кристаллографической ориентации монокристаллических тел в настоящее время применяют методы рентгенографического анализа. Из них наболее известен и широко распространен метод Лауэ или метод неподвижного кристалла, который заключается в съемке неподвижных монокристаллов в полихроматическом излучении для выявления симметрии характерных точек и их ориентировки 11.Указанный способ ориентации кристаллов отличается трудоемкостью, для его реализации требуется сложное дорогостоящее оборудование. иболее близким к предлагаемому явспособ определения анизотропии крис- в том числе и с ОЦК-решеткой, пуменения микротвердости по Кнупу. пособом можно выявить направление ьшей твердости на кристаллографиплоскостях 2. Однако в общем случае известный способ не позволяет выявить кристаллографическую плоскость или кристаллографическое направление с низкими миллеровскими индексами.Цель изобретения - идентификациякристаллографических плоскостей и направлений с низкими индексами Миллера.Поставленная цель достигается тем, чтосогласно способу определения кристалло графической ориентации монокристалловс ОЦК-решеткой путем измерения микро- твердости на плоскости образца по методу Кнупа микротвердость измеряют в пределах 180 по кругу, строят розетку микро- твердости с зеркальным отображением полученных результатов на весь круг и сравнивают ее с известными розетками микротвердости для плоскостей с низкими индексами Миллера.Образцы-шаблоны получают измерением 2 о микротвердости по Кнупу и построением розеток на образцах с известной ориентацией.На фиг, 1 представлена розетка микротвердости для плоскости (100); на фиг. 2 - то же, для плоскости (110). на фиг. 3 - то же, для плоскости (111).1000477118 УО 12;гСоставитель А. Коломийцев Редактор В. Петраш Техред И. Верес Корректор А. Дзятко Заказ 1284/25 Тираж 368 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

3271374, 01.04.1981

МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА И ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ИЗМАИЛОВ ФЕРИД ИБРАГИМОВИЧ

МПК / Метки

МПК: C30B 33/00

Метки: кристаллографической, монокристаллов, ориентации, оцк-решеткой

Опубликовано: 28.02.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1000477-sposob-opredeleniya-kristallograficheskojj-orientacii-monokristallov-s-ock-reshetkojj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения кристаллографической ориентации монокристаллов с оцк-решеткой</a>

Похожие патенты