Способ изготовления контрольногообразца для дефектоскопии

Номер патента: 849059

Авторы: Ворошилкин, Дорофеев, Ионкина, Казаманов, Макеев

ZIP архив

Текст

СоюзСоветскииСоциалистическииРеспублик ОП ИСАЙИ ЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ и 849059(53) УДК 620, 79. .14 (088.8) по делам изобретений и открытий(7) Заявитель СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КОНТНОЛБНОГО ОБРАЗЦА ДЛЯ ДЕфЕКТОСКОПИИ а редствам жет быть для метро ктоскоя стенедстви свобо ефект ления конами, конапример, оэррозионточ- ы а Поставленная при обжатии бодны образц екта.ель д грани в нап тигается тем,вают степеньвлении глубинь ся чт св ба явл ближен ны иза нагруесс- разрез с раз йся один ООтполуытия Изобретение относится кнеразрушающего контроля иприменено в машиностроениилогического обеспечения дефпической аппаратуры.Известен способ изготовтрольных образцов с надрезторые могут быть выполненытонкими фрезами или электрным способом Г 1 ,Недостатком этого спосото, что надрезы весьма привоспроизводят модель трещиее большого раскрытия,Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности являетсясоб изготовления контрольного обца для дефектоскопии, заключающив том, что на образце выполняютили несколько надрезов и обжимаюобразец возрастающим усилием дочения необходимой, величины раскрискусственных дефектов Г 2 Недостатком известного спос является то, что обжатие произ в направлении, перпендикулярном кам искусственного дефекта, вс чего образец имеет две степени ды, что не позволяет получить д со строго определенной глубино Цель изобретения - повышени ности получения зад иной глуби дефекта.На фиг. 1 представлена схем жения образца с надрезами в пр Форме, вид сверху; на фиг. 2 - А-А на фиг. 1.Способ осуществляется следующим образом.На образецнаносят надрезы на требуемую глубину и замеряют ее с по мощью специальных щупов или микроскопа, Образец 1 устанавливают в разь3.емную матрицу 2 которую затем вкладывают в обойму 3. На образец устанавливаютпуансон 4, после чего производят обжатие прессом. Обойма 3 и внешняя поверхность разъемной матрицы 2 имеют сопряженные конические поверхности. Это обеспечивает отсутствие зазора между разъемными частями матрицы. Ширина в заготовке образ ца равна расстоянию между внутренними стенками собранной матрицы 2.После обжатия ширина в образце не изменяется, а дефект имеет заданную глубину.Образцы, изготовленные согласно изобретению, могут найти широкое применение для проверки и метрологической оценки дефектоскопической аппаратуры,Формула изобретенияСпособ изготовления контрольного образца для дефектоскопии, заключа 849059 фющийся в том, что на образце выполняют один или несколько надрезов иобжимают образец возрастающим усилием до получения необходимой вели 5чины раскрытия искусственных дефектов, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения точности получения заданной глубины дефекта,при обжатии ограничивают степеньщ свободы образца в направлении глубины дефекта,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Инструкция по эксплуатации прибора "Эддипроб МК".2. Авторское свидетельство СССР по заявке 9 2 б 72729/28,кл. 6 01 М 27/84, 1978 (прототип).849059 и 4,2 Составитель Н Техред Н, Ков говава Корректор М.Шароши едактор О.Черничен а дписно 4/ ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектн Фил 082 56 Тираж 907 ВНИИПИ Государственного комитета СС по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб.

Смотреть

Заявка

2715418, 22.01.1979

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6209

ВОРОШИЛКИН ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, ДОРОФЕЕВ АЛЕКСАНДР ЛЕОНТЬЕВИЧ, ИОНКИНА ТАТЬЯНА ГРИГОРЬЕВНА, КАЗАМАНОВ ЮРИЙ ГРИГОРЬЕВИЧ, МАКЕЕВ АЛЕКСЕЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, контрольногообразца

Опубликовано: 23.07.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-849059-sposob-izgotovleniya-kontrolnogoobrazca-dlya-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления контрольногообразца для дефектоскопии</a>

Похожие патенты