Устройство для измерения ширины дефектов

Номер патента: 1231381

Авторы: Иванов, Козик, Федоров, Филимонов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛ ИСТИЧЕСНИКРЕСПУБЛИН 1 В 5/О ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ИЗМЕРЕНИЯ ШИ ваюта ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИй(56) Иванов Л.Д. и др. Устройство для измерения малых расстояний между точками изображений или элементами конструкции,/Листок рационализатора 9,153, Л., 1981, с,4(57) Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является расширение области примене.ния путем обеспечения возможности измерения глубины дефектов и повышение точности измерения. Устройство для измерения ширины дефектов содержит основание, полую стойку, установленную жестко на основании, подпружинен 80.1231381 ную ось, расположенную внутри полойстойки с возможностью перемещения вдоль нее, корпус, соединенный состойкой с возможностью вращения и перемещения относительно нее, втулку, установленную на корпусе с возможностью поворота и фиксации и на оси с возможностью поворота, установлен" ную на оси прозрачную плоскопараллельную пластину ео шкалой в виде спирали Архимеда и с круговой шкалой, линзу с риской и стрелку, жестко ус-. тановленные на .подпружиненной оси диаметрально противоположно, риска линзы перпендикулярна стрелке. Дпя . измерения ширины линии (дефекта) уст- Е ройство устанавливают на исследуемый, участок поверхности, добиваются резкого изображения поверхности и краев Сфф дефекта и считывают ширину дефекта. Для измерения глубины дефекта. добится резкого изображения дна дефек 4 ил31381 3 51 О15 10 25 35 40 45 50 5512Изобретение относится к измерительной технике,Цель изобретения - расширение обОласти применения устройства путемобеспечения воэможности измеренияглубины дефектов и повышение точности измерения,На фиг. 1 изображено устройстводля измерения ширины дефектов, общий вид; на фиг.2 - сечение А-А на. фиг. 1; на фиг.3 - вид по стрелке Бна фиг.2; на фиг,4 - вид по стрелкеВ .на фиг.2.Устройство содержит основание 1,.полую стойку 2, установленную жестко на основании 1, подпружиненныйпружиной 3 вал 4, расположенный внут"1 ри полой стойки 2 с возможностью пе-ремещения вдоль нее, корпус 5, соединенный со стойкой 2 с возможностьювращения и перемещения относительнонее, фланец 6 жестко соединенный с,.корпусом 5, втулку 7 с пазом 8, установленную на. корпусе 5 с возможностьюповорота и фиксации стопором 9 и навалу 4 с возможностью поворота, измерительные элементы и отсчетный узел,выполненный в виде установленной навалу 4 с возможностью поворота прозрачной плоскопараллельной пластины 10. со шкалой 11 в виде.спирапи Архимедаи с круговой шкалой 12, линды 13 сриской 14 и стрелки 15, жестко установленные на подпружиненном валу 4диаметрально противоположно, риска 14линзы 13 перпендикулярна стрелке 15.На основании 1 установлены регулировочные винты 16, уровень 17 и ограничитель 18.Устройство работает следующим образом,Для измерения ширины линзы (дефекта) устройство устанавливают на исследуемый участок поверхности так,чтобы при наблюдении линии через линзу 13 Одна из сторон линки совпала сриской 14. При этом вращением пласти. Ны 10 устанавливают нулевое давлениешкалы 12 против стрелки 15. С помощью регулировочных винтов 16 основания 1 и уровня 17. добиваются резкогоизображения поверхности и краев дефекта. При неровной поверхности резким должно быть изображение краевдефекта.Затем, прижимая устройство к поверхности изделия за основание 1 и наблюдая увеличенное изображение участка линии (дефекта) через линзу 13, поворачивают пластину 10 до тех пор, пока одна иэ линий спирали Архимеда шкалы 11 не коснется измеряемой линии с другой стороны. В тот момент, когда исследуемая линия находится между риской 14 и п.-й линией спирали, регистрируют отсчет при помощи делений.шкалы 12 и номера линии спирали.Для измерения глубины дефекта вновь устанавливают нулевое деление шкалы 12 против указателя 15,.Затем перемещают стопор 9 в паэ 8 втулки 7 и тем самым соединяют неподвижно корпус 5 с втулкой 7. Затем, наблюдая увеличенное. изображение участка дефекта через линзу 13, вращают пластину 10 до появления резкого изображения дна дефекта и снимают отсчет пошкале 12 и стрелке 15 в долях единицизмерения,. а целое число единиц изме-.рения определяют при возвращении корпуса 5 в верхнее положение до упорафланца 6 корпуса 5 в ограничитель 18основания. При этом аналогично описанному может быть определена ширина цна дефекта,1формула изобретения Устройство для измерения ширины дефектов, содержащее основание, изф мерительные элементы и отсчетный узел, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью расширения области применения и повышения точности измерения, оно снабжено полой стойкой, установленной жестко на основании, подпружиненном валом, расположенным вну-. три полой стойки с возможностью перемещения вдоль нее, корпусом, соеди ненным со стойкой с возможностью вращения и перемещения относительно нее, втулкой, .установленной на корпусе с возможностью поворота и фиксации и на валу с возможностью поворота, измерительные элементы и отсчетный узел выполнены в виде установленной на валу с возможностью поворота прозрачной плосконараллельной пластины со шкалой в виде спирапн Архимеда и с круговой шкалой, линзы с риской и стрелки, жестко установленными на подпружиненном валу диаметрально противоположно, а риска линзы перпендикулярна стрелке..Огар Техред.В.Кадар Корректор.В.Бутяг Ред з Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4 555/46 Тираж 670ВНИИПИ Гоеударственногпо делам изобретений113035, Москва, Ж, Р Подписноеомитета СССРоткрытийская наб д

Смотреть

Заявка

3707737, 28.02.1984

ВОЕННЫЙ ИНЖЕНЕРНЫЙ КРАСНОЗНАМЕННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Ф. МОЖАЙСКОГО

ИВАНОВ ЛЕОНИД ДЕМЬЯНОВИЧ, КОЗИК АЛЕКСАНДР ЕМЕЛЬЯНОВИЧ, ФИЛИМОНОВ ЕВГЕНИЙ АНТОНОВИЧ, ФЕДОРОВ АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 5/02

Метки: дефектов, ширины

Опубликовано: 15.05.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1231381-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-shiriny-defektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения ширины дефектов</a>

Похожие патенты