Способ изготовления контрольных образцов для дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 787980
Автор: Скорик
Текст
Сокзз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 101078 (21) 2672729/25-28с присоединением заявки йо(51)М, КлЗ С 01 й 27/84 Государственный комитет СССР оо делам изобретений н открытий(72) Автор изобретеиия Б. С. Скорик Всесоюзный проектно-конструкторский технологический институт атомного машиностроения и котлсстроения(51) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КОНТРОЛЬНЫХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПИИ Изобретение относится к области неразрушающего контроля и можетбыть использовано при дефектоскопии в различных областях машиностроения,Известен способ изготовления конт рольных образцов для дефектоскопии, заключающийся в том, что к образцу в виде пластины с азотированным на определенную глубину слоем, прикладывают изгибающее или растягиваю О щее усилие до образования в азотированном слое трещин 11.Недостатком известного способа является множественность и разнонаправленность трещин, что не позволяет обеспечить точность контроля, так как точность изготовленных дефектовтрудно оценить. Наиболее близким к изобретению 29 по технической сущности является способ изготовления контрольных образцов для дефектоскопии, заключающийся в том, что на образец воздействуют возрастающим усилием до получе ния необходимой величины раскрытияи искусственного дефекта 2.Недостатками известного способа являются неопредеденность расположения и Форма деФекта, их число и 30 2глубина. Подповерхностные дефекты указанным способом выполнить нельзя.Цель изобретения - повышение точности выполнения параметров дефектов.Поставленная цель достигается тем, что до приложения возрастающего усилия на поверхности образца выполняют искусственные дефекты, образец нагревают в нейтральной среде до температуры пластической деформации материала образца, а после приложения возрастающего сжимающего усилия механической обработкой доводят глубину дефекта до заданной.На фиг. 1 показан образец с одйнаковой по длине трещины глубиной; на фиг. 2 - образец с разномерно изменяющейся глубиной дефекта на фиг.З и 4 - образцы с различной ориентацией дефекта; на фиг. 5 - образец с дефектом типа трещины ограниченной протяженности.Способ осуществляется следующим образом.Обраэец выполняют из материала, соответствующего контролируемому иэделию, Поверхностные дефекты типа трещин различного направления и глубины изготовляют в виде канавок, например дисковой фрезой. Для получения подповерхностного дефекта отверстия выполняют, например сверлом параллельно или под углом к поверхности контроля. Затем образец нагревают до температуры пластической деформации материала образца. Нагрев осуществляют в нейтральной среде, на" пример аргоне, для уменьшения окисления металла и влияния слоя окислов на ширину раскрытия дефекта, ПОсле этого образец в нагретом состоянии сжимают возрастающим усилием, например, гидравлическим прессом в направ. ленни, перпендикулярном стенкам искусственного дефекта.Горячую деформацию материала осуществляют обычно при температурах 13 выше температуры рекристаллиэации, т.е. при температуре 0,7-0,75 температуры плавления. При этих температурах снижается сопротивление пластической деформации, появляется воз- Я можность получить рекристаллизованную структуру, т.е. не имеющую следов деформации, таких, как внутреннее напряжение, анизотропия, и др что позволяет получить образец со свойствами, аналогичными свойствам контролируемых изделий.Ширину раскрытия дефекта определяют последовательным измерением, на" пример оптическими средстваья, и при достижении заданной величины раскрытия прекращают сжатие. Затем образец механически обрабатывают до получения необходимой глубины поверхност" ного или подповерхностного дефекта.После механической обработки для 33 снятия внутренних напряжений, а также придания образцу свойств контролируемого изделия проводят термообработку по режиму контролируемогО изделия и окончательное измерение ши О рины раскрытия дефекта, его аттестацию и маркировку. Вид механической обработки и термообработки и их очередность определяется операциями, при:нятыми для контролируемого изделия.Это необходимо для получения свойств,: аналогичных реальным контролируемым изделиям, что особенно существенно при изготовлении образцов для электромагнитных методов контроля.Неучтенные факторы, например чистота поверхности, могут привести к тому, что результаты, полученные на образце, могут не соответствовать в процессе контроля иэделий,Использование способа позволяет упростить технологию изготовления контрольных образцов с высокой точностью, обеспечить получение заданной величины параметров как поверхностных, так и подповерхностных дефектов, при этом образцы могут быть выполнены иэ цветных металлов.Применение способа позволит комплектовать средства нераэрушающего контроля с заданным техническими условиями уровнем чувствительности.формула изобретенияСпособ изготовления контрольных образцов для дефектоскопии, заключа- ющийся в том, что на образец воздействует возрастающим усилием до получения необходимой величины раскрытия искусственного дефекта, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности выполнений параметров дефектов, до приложения возрастающего усилия на поверхности образца выполняют искусственные дефекты, образец нагревают в нейтральной среде до температуры пластической деформации материала образца, а после приложения возрастающего сжимающего усилия механической обработкой доводят глубину дефекта до заданной.Источники информации,принятые во внимание при экспертизеАвторское свидетельство СССР 9266331, кл. С 01 Н 27/84, 1968.2, йвторское свидетельство СССР 9555329, кл. 6 01 М 27/84, 1976 (прототип).Тираж 1019 Государственного елам изобретений и Москва, Ж, Раушолгова Коррект Подписнтета СССРрытийнаб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
2672729, 10.10.1978
ВСЕСОЮЗНЫЙ ПРОЕКТНО-КОНСТРУКТОРСКИЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ АТОМНОГО МАШИНОСТРОЕНИЯ И КОТЛОСТРОЕНИЯ
СКОРИК БОРИС СЕМЕНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/84
Метки: дефектоскопии, контрольных, образцов
Опубликовано: 15.12.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-787980-sposob-izgotovleniya-kontrolnykh-obrazcov-dlya-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления контрольных образцов для дефектоскопии</a>
Предыдущий патент: Устройство для визуализации магнитного рельефа на поверхности объекта
Следующий патент: Способ количественного определения функциональных амидных групп в полимерах
Случайный патент: Система автоматического регулирования