Ворошилкин

Номер патента: 849059

Опубликовано: 23.07.1981

Авторы: Ворошилкин, Дорофеев, Ионкина, Казаманов, Макеев

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, контрольногообразца

...дефекта, вс чего образец имеет две степени ды, что не позволяет получить д со строго определенной глубино Цель изобретения - повышени ности получения зад иной глуби дефекта.На фиг. 1 представлена схем жения образца с надрезами в пр Форме, вид сверху; на фиг. 2 - А-А на фиг. 1.Способ осуществляется следующим образом.На образецнаносят надрезы на требуемую глубину и замеряют ее с по мощью специальных щупов или микроскопа, Образец 1 устанавливают в разь3.емную матрицу 2 которую затем вкладывают в обойму 3. На образец устанавливаютпуансон 4, после чего производят обжатие прессом. Обойма 3 и внешняя поверхность разъемной матрицы 2 имеют сопряженные конические поверхности. Это обеспечивает отсутствие зазора между разъемными частями...