Устройство для построения проверяющего теста и диагностирования бесповторных комбинационных схем

Союз Советских Социалистических РеспубликОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ нщ 775732(22) Заявлено 1%0778 (21) 264704 О/18-24с присоединением заявки Нов(51)м. Кл,С 06 Е 11,22 0 06 Г 15/46 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОСТРОЕНИЯ ПРОВЕРЯЮЩЕГОТЕСТА И ДИАГНОСТИРОВАНИЯ БЕСПОВТОРНЫХКОМБИНАЦИОННЫХ СХЕМ Изобретение относится к автомати ке и контрольно-измерительной технике и может быть использовано при создании автоматических устройств контроля и поиска неисправностей 5 дискретных автоматов.Известно устройство Ц поиска неисправностей логических схем, основанное на измерении реакции диагностируемого автомата на наборы теста, 1 О вырабатываемого генератором случайных чисел и сравнении ее с сигналом контрольного автомата.Недостатками этого устройства являются большое время контроля, пос кольку посылаемые на вход наборы соответствуют случайным числам, а также трудности определения места неисправности, т.е. дешифрация результатов контроля. 20Известно автоматическое устройство контроля и поиска неисправностей 2). основанное на сравнении выходного сигнала диагностируемого автомата на наборах проверяющего и диагности ческого тестов с эталонным его значением, Недостаток этого устройства - большой объем вычислительных операций, связанных с получением диагностического и проверяющего тестов, что ЗО приводит к большому времени контроляразличных диагностируемых схем.Наиболее близким по техническойсущности к изобретению является устройство контроля и поиска неисправностей бесповторных комбинационныхсхем 31 . Оно содержит источник питания, подключенный к входу блокауправления, один выход которого подключен к входу первого коммутатора,а другой выход - к входу второгокоммутатора, блок фиксации неисправностей, вход которого подключен квыходу генератора эталонных сигналов, и электронные ключи, выходыкоторых соединены с выходами устройства,Недостаток данного устройства заключается в том, что для обнаружениялогических неисправностей бесповторных комбинационных схем в нем используются избыточные проводящие наборы,что приводит к большому расходу ресурса диагностируемой схемы и необоснованному увеличению времени диагностирования.Цель изобретения - повышение быстродействия устройства.Указанная цель достигается тем,,что устройство содержит блок памятисостояний входов диагностируемой схемы, блок памяти обработанных переменных, элемент И и индикатор проверяющего теста. При этом выходы второгокоммутатора подключены к одним входамблока памяти состояний входов диагностируемой схемы, а выходы первого коммутатора - к другим входам блока гамяти состояний входов диагностируемойсхемы и к первым входам блока памятиобработанных переменных, выходы которого через элемент И соединены свходами индикатора проверяющего теста и с управляющими входами электронных ключей, подсоединенных информационными входами к выходам блокапамяти состояний входов циагностируемой схем, а выход -блока фиксациинеисправностей подключен к вторсмувходу блока. памяти обработанных переменных,При построении проверяющего теста бесповторный комбинационный схемы в устройстве используются прямаяи инверсная дизъюнктивная формафункции ДНФ выхода схемы, Для элементарной конъюнкции ДНФ строится про веряющий набор по правилам. Дляполучения полного теста схемы достаточно построить проверяющие наборыдля такого множества конъюнкций прямой(инверсной) ДНФ, в которое входятвсе переменные функции выхода. В настоящем устройстве используется указанное свойство.На чертеже представлена функциональная схема устройства,Устройство содержит источник 1питания, блок 2 управления, первыйкоммутатор 3 для переменных элементарных конъюкций, блок 4 памяти обработанных переменных, блока 5 памятисостоячий входов диагностируемой схемы 8, второй коммутатор б для переменных логической функции, электронные ключи 7, 8, 9, диагностируемуюсхему 10, элемент И 11, индикатор 12проверяющего теста, блок 13 фиксации неисправностей, генератор 14эталонных сигналов.Устройство работает следующимобразом.С,помощью блока 2 подается напряжение источника 1 на вход коммутаторов 3 и б, с помощью которых соответствующие команды проходят на входыблока 5. С выхода блока 5 сигналы,соответствующие элементарным конъюнкциям прямой (инверсной) дизъюнктивной нормальной формы логической функции, дополненные переменными инверсной прямой функции выхода схемы через ключи 7, 8, 9, поступают навходы схемы 10. При этом блок 4 фиксиОрует наличие ( но несостояние) обработанных переменных в конъюнкцияхдизъюнктивных нормальных форм прямойи инверсной логических функций, т.е.тех конъюнкций, на основе которых 65 формируются проверяющие наборы, например сначала разрыв, а потом шунтирование. Выходной сигнал с выхода схемы 10 сравнивается в блоке 13 с сигналом, поступившим с генератора 14.При несовпадении этих сигналов индикатор 12 фиксирует неисправность,Наличие переменных в элементарныхконъюнкциях прямой дизъюнктивной нормальной форме логической функциизапоминается блоком 4 памяти и посылается на входы элемента И 11,который осуществляет счет использованных ими обработанных переменных. Кактолько будут обработаны все переменные для прямой функции, с выходаэлемента И 11 сигнал поступит на закрытие ключей 7, 8, 9, Этим самым исключается подача проверяющих наборов,сдответствующих остальным элементарным конъюнкциям, т.е. выдача проверяющих наборов для прямой ДНФ прекращается, Схема возвращается в исходное состояние и начинается аналогичная проверка конъюнкций обратнойДНФ,Если диагностируемая схема нейсправна, то с выхода блока 13 подается сигнал на разблокировку блока 4,т.е, в этом случае возможно использование остальных наборов.Преимуществом предлагаемого устройства перед известным являетсясокращение времени контроля диагностируемых аВтоматов за счет исключения реализации проверяющих наборовдля лишних конъюнкций прямой и обратной ДНФ,Формула изобретенияУстройство для построения проверяющего теста и диагностирования бесповторных комбинационных схем, содержащее источник питания, подключенный к входу блока управления, один выход которого подсоединен к входу первого коммутатора, другой выход к входу второго коммутатора логической функции, блок фиксации неисправностей, вход которого подключен к выходу генератора эталонных сигналов, и электронные ключи, выходы которых соединены с выходами устройства, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения быстродействия устройства, оно содержит блок памяти состояний входов диагностируемой схем, блок памяти обработанных переменных, элемент И и индикатор проверяющего теста, причем выходы второго коммутатора подключены к одним входам блока памяти состояний входов диагностируемой схемы, а выходы первого коммутатора - к другим входам блока памяти состояний входов диагностируемой схемы и к первым входам блока памяти обработанчев Корре Пожо аж 751о комитета СССй и открытийская наб., д. 66/62 ВНИИПИ Государст по делам изоб 35, Москва, Жказ 7 Тир енно етен Рауш одписно илиал ППП "Патент", г. ужгород, ул, Проектная ных переменных, выходы которого через элемент И соединены с входамииндикатора проверяющего теста и суправляющими входами электронныхключей, подсоединенных информационными входами к выходам блока памятисостояний входов диагностируемойсхемы, а выход блока фиксации неисправностей подключен к второму входублока памяти обработанных переменных. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1 . Патент США 9 3614608,кл. 324 -73, опублик. 1972.2. Кострыкин А.И. Логический конт 5 роль релейно-контактных схем. М.,"Связью, 1970, с. 80-863. Авторское свидетельство СССРМ 526834, кл. 6 06 Р 11/02, 06,09.74