Устройство для получения кривой распределения локальных значений интенсивности

О П И С А Н И Е 165918изоы етения Союз Советских Социалистических Республик(л, 42 г, 9 го гЧПК 6 011 тет Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССРУДК Опубликовано 26,Х,1964, Бюллетень М 2 Дата опубликования описания 23.Х 1,1964 ВСЕО 1 В 311. ЯО Б 11 ЙА 11 гА " . Лвторизобретения овская За СТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ КРИВОЙ РАСПРЕДЕЛЕН ЛОКАЛЬНЫХ ЗНАЧЕНИЙ ИНТЕНСИВНОСТИодггисггая гругггга М 1 Я Устройства для получения кривой распределения локальных значений интенсивности излучения вдоль радиуса поперечного сечения асимметричного потока газа или плазмы по их осредненным значениям вдоль ряда хорд 5 этого поперечного сечения по разности двух фототоков, содержащие лампу накаливания, два ооъектива, фотоэлемецт с микроампер- метром для отсчета фототоков, известны, Для определения локальных значений интенсивно сти излучения, непосредственно связанных с физическими параметрами исследуемых объектов, необходимо либо проводить расчет, связанный с решением системы многих уравнений, либо пользоваться методом 15 окрагпивания пламени, который, однако, применим только в случае достаточно протяженных объектов с температурой до 2000 С.Предлагаемое устройство позволяет непосредственно получать распределение локаль ных значений интенсивности излучения по их осреднецным значениям и резко уменьшать затраты труда и времени на проведение этих измерений, Это устройство отличается тем, что между двумя объективами, направляющц ми параллельный пучок света от источника па фотоэлемент, помещена кассета для установки непрозрачных диафрагм с номерами, соответствующими номерам исследуемых точек на радиусе поперечного сечения потока ЗО газа пли плазмы, на которых выполнены прозрачные полосы, расположенные соответственно положению исследуемых точек на радиусе поперечного сечения потока газа или плазмы и ширина которых соответственно пропорциональна постоянным коэффициентам известных уравнений, связывающих локальные значения интенсивности излучения с их осреднецными значениями, а также для установки профилированного непрозрачного вкладыша, верхняя часть контура которого соответствует форме кривой распределения осредненных значений интенсивности излучения, Одна из каждой пары диафрагм имеет одну прозрачную полосу, а другая имеет и-пг прозрачных полос, где гг - число исследуемых точек, а пг - номер диафрагмы.На фиг. 1 изображена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - диафрагмы; на фиг, 3 - диафрагма с профилированным вкладышем.Распределение локальных значений интенсивности излучения получается следующим образом. С помощью пирометра получают распределение осредненных значений интенсивности излучения вдоль хорд поперечного сечения исследуемого объекта, строят соответствующую кривую и по ее контуру вырезают, например, цз непрозрачной бумаги профилированный вкладыш. Этот вкладыш вместес одной (из пары) диафрагмой, имеющей одну прозрачную полосу, расположенную соответственно той точке па радиусе поперечного сечения исследуемого источника излуче. ния, в которой производится измерение ин. тенсивности излучения, помещают в кассету 1, расположенную между объективами 2 и 8, направляющими параллельный пучок света от лампы накаливания 4 на фотоэлемент б с микроамперметром б. Непрозрачный вкладыш ограничивает световой поток, проходящий через прозрачную полосу на диафрагме, в соответствии с формой кривой распределения осредненных значений интенсивности излучения. По микроамперметру отмечают некоторое значение фототока. Затем на место первой диафрагмы помещают вторую диафрагму из той же пары, имеющую и-т проз. рачных полос, ширина которых соответственно пропорциональна постоянным коэффициентам (начиная со второго) известных уравнений, связывающих локальные значения интенсивности излучения с их осреднепными значениями, и таким же образом по микроампер- метру отсчитывают значение фототока. Раз. ность значений фототоков и дает локальное значение интенсивности излучения, т. е, интенсивность излучения в данной точке. Для получения значений интенсивности излучения в других точках проделывают те же операции с другими парами диафрагм, имеющими номера, соответствующие выбранным точкам. Количество исследуемых точек, а следовательно, и количество пар диафрагм определяется требуемой точностью и структурой поля исследуемой величины. Предлагаемое устройство позволяет получить непосредственно распределение локальных значений интенсивности излучения, по которым можно изучать структуру поля разнообразных физи 5 ческих величин: температуры, концентрациии других, При этом отпадает необходимость решения сложных систем уравнений.Предмет изобретения 10 Устройство для получения кривой распределения локальных значений интенсивности излучения вдоль радиуса поперечного сечения асимметричного потока газа или плазмы по их осредненным значениям вдоль ряда хорд 15 этого поперечного сечения по разности двухфототоков, содержащее лампу накаливания, два объектива, фотоэлемент с микроампер- метром для отсчета фототоков, отличаюш е е с я тем, что, с целью упрощения мето дики измерений, между двумя объективамипомещена кассета для установки непрозрачных диафрагм с номерами, соответствующими номерам исследуемых точек на радиусе поперечного сечения потока газа или плазмы, на 25 которых выполнены прозрачные полосы, расположенные соответственно положению исследуемых точек и ширина которых соответственно прочорциональна постоянным коэффициентам известных уравнений, связывающих ло кальные значения интенсивности излученияс их осредненными значениями, а также для установки профилированного непрозрачного вкладыша, верхняя часть контура которого соответствует форме кривой распределения 35 осредненных значений интенсивности излучения.