Устройство для формирования тестов бесповоротных комбинационных схем

Оп ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социапистических Республик(т 06 Р 11/О явк с присоединением (23) Приоритет -евуавратавнеын невнтет Саввтв Мнннатрае СССР еа,данам ннабретеенй н атнрытнй(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФОРМИРОВАНИЯ ТЕСТОВ БЕСПОВТОКОМБИНАЦИОННЫХ СХЕМ устройств, ических пре дизъюнктивсной логит достаточщего уровня тройством. Изобретение относится к области,вычислительной техники и может бытьиспоЛьзовано в устройствах диагностики бесповторных комбинационных схем.,Известно устройство для Формирования диагностических тестов бесповторных дискретных автоматов, содержащееблок управления, коммутатор переменнЫхлогических функций, коммутатор переменных логических подфункций элементар ных подсхем, дешифратор тестовых наборов и индикатор тестовых наборов 11 .Наиболее близким техническим решением к изобретению является устройство для Формирования тестов бесповторных комбинационных схем, содержащееиндикатор тестовых набОров и блокуправления, выход которого соединенс управляющими входами коммутатора переменных логической Функции и коммутатора переменных элементарных конъюикций 2,Недо ст ат ком и з вест ных вляется необходимость ло бразований для поЛучения ой нормальной Формы инве еской Функции, что требу ых навыков и соответству одготовки работающих с у Целью изобретения является повышение эффективности устройства за счет обеспечения получения диагностических тестов бесповторных комбинационных схем без получения дизъюнктивной нормальной форыы инверсной логической функции.Поставленная цель достигается тем, что в устройство введены блок инвер-. торов и коммутатор шунтирования, причем выходы коммутатора переменных логической Функции соединены с входами блока инверторов, выходы которого соединены с входами коммутатора переменных элементарных конъюнкций и с первой группой входов коммутатора шунтирования, выходы коммутатора переменных элементарных конъюнкций соединены с второй группой входов коммутатора шунтирования, выходы которого соединены . с входами индикатора тестовых наборов,Структурная схема устройства приведена на чертеже.Выход блока управления 1 подключен к входам коммутатора 2 переменных логической функции, выходы которого через блок 3 инверторов подключены к входам коммутатора 4 переменных элементарных конъюнкций и коммутатора 5 ,переменных шунтирования. Кроме того,выход блока управления подключен к управляющему входу коммутатора переменных элементарных конъюнкций, выходы которого соединены с второй группой входов коммутатора переменных шунтирования. Выходы последнего соединены 5 с входами индикатора б тестовых набо ров.Блокуправления 1 служит для подачи напряжения лсточника питания на входы коммутатора 2 переменных логи О ческой функции и коммутатора 4 переменных элементарных конъюнкций.Коммутатор 2 предназначен для ввода информации о состоянии переменных логической функции, реализуемой диагноцтической схемой, и представляет собой набор коммутирующих элементов, при включенном состоянии которых осуществляется подача напряжения источника питания на соответствующие выходы. 20Блок 3 иннерторов служит для изменения логического знака сигналов навыходах коммутатора переменных логической Функции,о 5Коммутатор 4 служит для ввода ин-формации, о состоянии переменных в элементарных конъюнкциях и выполнен в вде рядов коммутирующих элементов, например двухполюсных переключателей с Зфиксированным нейтральным положением.Ряды коммутирующих элементов соответствуют конъюнкциям, а сами коммутирующие элементы - переменным в конъюнкциях. В нейтральном положении переключаталей входы индикатора б тестоных наборон подключаются через инверторыблока 3 к одноименным выходам коммутатора 2 переменных логической Функции, а н одном из выключенных положений - к выходу блока управления 1.40Коммутатор 5 переменных шунтирования преднаэйачен для определения наборОн шунтирования диагностическоготеста и выполнен в виде переключателей с двумя устойчивыми состояниями. 45В выклюЧенном состоянии переключателей входы индикатора тестовых наборовподключены к выходам коммутатора 4переменных элементарных конъюнкций,во включенном - через инверторы к вы ходам коммутатора переменных логической Функции.Индикатор б тестовых наборов выполнен в виде светового табло, каждый индицируюший элемент которого, например электрическая лампочка, соответствует переменной в наборе диагностического теста и ее загорание говорит о состоянии этой переменной в данном60 наборе без инверсии.устройство работает следующим образом,В исходном положении все коммутирующие элементы находятся в нейтральном или выключенном положении. 65 С помощью коммутатора 2 набирают все переменные логической функции, с ломощью коммутатора 4 - переменные всех элементарных конъюнкций, содержащих контролируемую переменную.Для определения набора, контролирующего разрыв элемента, соответствующего выбранной переменкой, необходимо с блока управления 1 подать питание на коммутатор переменных логической функции и коммутатор переменных элементарных конъюнкций. Тогда индикатор б тестовых надзоров отобразит информацию о состоянии переменных н наборе разрыва.Для определения набора, контролирующего шунтирование элемента, соответствующего выбранной переменной, необходимо дополнительно включить одноименный переключатель коммутатора 5., Тогда индикатор тестовых наборов отобразит информацию о состоянии переменных в наборе шунтирования.Остальные наборы диагностического теста, выявляющие разрыв и шунтирова" ние элементон диагностируемой схемыполучают последовательным набором всех конъюнкций логической функции, содержащих переменные, соответствующие остальным элементам схем, принеизменном положенич коммутирующих элементов коммутатора 2 переменных логической Функции.Для получения полного диагностического теста необходимо объединить наборы разрыва и наборы шунтирования, контролирующие все переменные логической функции.В предлагаемом устройстве для получения диагностических тестон не требуется получения дизъюнктинной нормальной формы инверсной логической Функции диагностической схемы. Исключение логических преобразований для получения инверсной функции, требующих теоретической подготовки и определенных навыков, снижает уровень подготовки и квалификацию обслуживающего персонала, уменьшает время, необходимое для получения тестов.При. использовании устройстна в автоматических системах диагностики последние упрощаются, так как не требуют пРименения блоков для получения инверсной логической функции.Формула изобретенияУстройство для формирования тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее индикатор тестовых наборов и блок управления, выход которого соединен с управляющими входами коммутатора переменных логической функции и коммутатора переменных элементарных конъюнкций, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения эффектин607220 Составитель В.Крыловаедактор Т,Юрчикова Техред 3. Фанта Корректор С.Гараси Заказ 2585/37ЦНИИПИ Тираж 826 сударственного комитета Совет по делам изобретений и от 35, Иасква, Ж, РаушскаяПодписноеМинистров СССРрытийнаб. д. 4/5 130 илиал ППП Патент, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 ности, в устройства введены блок инверторов и коммутатор шунтированияпричем выходы коммутатора переменяыхлогической функюии соединены с входами блока инверторов, выходы которогосоединены с входами коммутатора переменных элементарных конъюнкюий и спервой группой входов коммутатора жуйтирования, выходы коммутатора переменных элементарных конъюнкций соединены с второй группой входоя коммутаторашунтирования, выходы которого соединЕны с входами индикатора тестовых наборов.Источники инФормации, принятые вовнимание нри экспертизе:1. Авторское свидетельство СССРВ 388261, кл. С 06 Ф 11/00, 1971.2. Авторское свидетельство СССРР 458830, кл. Ц 06 Р 15/20, 2973.10