363904
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 363904
Автор: Ком
Текст
, Союа СоеетскихСОциалистическихРеспублик ависимое от авт. свидетельства- аявлено 23,.ЧН 1.1971 (йй 169511826 М.Кл. С 01 п 2322 исоединением заявкиКомите по делам аобретений и открыти при Саеете Мииистрое СССР,Х 11,1972, Бюллетень4за 1973 я описания 2 1 И.1973 Авторыизобретения И. Комяк и Э. А. А т явите УСТРОЙСТВО РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЪНОГО АНАЛИЗ Изобретение относится к приборам для реитгеноспектрального анализа,Известные приборы для рентгеноспектрального анализа позволяют использовать только один из возбуждающих агентов: либо рентгеновские кванты, либо электроны, либо ионы. Так для возбуждения образца тяжелыми донами используют прибор, содержащий герметичпьш корпус, внутри которого соосно через ускорительпый промежуток установлены ионньш источник с горячим катодом и антидинатронный электрод с анализируемыми образцами.Цель изобретения - оптимизация условий возбуждения собственного рентгеновского из. лучения образца.Цель достигается за счет того, что ионный источник с горячим катодом выполнен с возможностью преобразования в электронную пушку, а в ускорительном промежутке установлен прозрачный для рентгеновского излучения экран с центральным отверстием, электрически связанный с ацтидинатронным электродом, на поверхности которого, обращенной в сторону ионного источника, нанесены чередующиеся, например, радиальными слоямц, материалы анода, При этом экран установлен с возможностью выведения его из зоны ускорительного промежутка без внесения в промежуток ка- кРх-лтбо искажений, например, птем примыкания к антидииатронному электроду. 11 а чертеже представлена схема предлагаемого устройства.Оно содержит корпус 1, ионный источшк 2с горячим катодом, например, типа Пешцьнга, прозрачный для рентгеновского излучения экранас центральным отверстием; устройство 4 для смещения экрана; слои 5 материалов анода; антидицатроцный электрод 6; анализируемый образец (образцы) 7; детектор 8 О рентгеновского излучештя; регистрирующееустройство 9; блок 10 питания; вакуумную систему 11 для откачки; шлюз 12 для смены образцов; регулятор 1 т натекация газов; хранилище 14 газов (например, баллонов); магнит 5 или электромагнит 15, расположеццыи внутриилц вце корпуса 1.Устройство действует следующим образом.Анализируемый образец через шлюз 12 устанавливают внутри корпуса 1, после чего с по 2 о мощью вакуумной системы 11 получают нужный вакуум (10 - " - 10 - ,ц.ц рт, ст.). Подавая нужные напряжения на электроды ионного источника 2 и положительный потенциал ца антидинатронцый электрод 6 и держатель обз разца 7 (относительно ионного источника), облучают образец электронами, если экран д поставлен в положение, показанное на чертеже пунктиром (т. е. выведен цз ускорительцого промежутка). Прц этом степень фокусировки бо электронного луча не имеет принципиального3значения. Перемещая экран 3 с помощью приспособления 4 (например, вращением шлифа или путем использования магнитного привода) в положение, показанное на чертеже сплошной линией, можно осугцествить три варианта облучения образца:облучение только электронами, для чего электронный луч должен быть сфокусирован так, чтобы проходил через центральное отверстие в экране 3;облучение только рентгеновскими квантами того илп иного выбранного спектрального состава, для чего электронный луч должен быть отклонен внешним полем так, чтобы оп, не проходя через центральное отверстие, полностью тормозился на материале анода из числа нанесенных на экран, причем спектр излучения определяется скоростью электронов (напряжением мехсду ионным источником и экраном) и тем, на каком из материалов происходит торможение;облучение одновременно электронами и рентгеновскими квантами выбранных энергий, для чего достаточно расфокусировать электронный луч так, чтобы часть его через центральное отверстие в экране попадала непосредственно на образец, а часть тормозящаяся на анодном слое 5 экрана 3, давала рентгеновское излучение, попадающее на образец через прозрачный для этого излучения материал экрана 3, например, тонкий бериллий.При необходимости осуществлять облучение ионами того или иного типа достаточно из хранилища 14 через регулятор (редуктор) И наполнить объем ионного источника нужным газом и изменить потенциалы на электродах ионного источника так, чтобы обеспечить получение не электронов, а ионов, При этом потенциалы на держателе образцов и антидинатронном электроде должны быть отрицательными относительно ионного источника. При получении в ионном источнике тяжелых отрицательных ионов можно совместить облучение образца электронами, рентгеновским излучением и ионами, периодически меняя потенциалы на электродах ионного источника и оставляя положительный потенциал на образце и антидинатронном электроде.Меняя в определенной последовательностипотенциалы на электродах, можно осуществ лять практически любые комбинации различных облучений образца. В прибор можно помещать по нескольку различных образцов, определяя затем непосредственно эффективпост; того или иного типа возбуждения плп их ком". бинации с помощью детектора 8 и регистрирующего устройства 9, обеспечивающих в каждом случае определение как полезного сигнала, так н помех (фона).20 Предмет изобретения1. Устройство для рентгеноспектральногоанализа, содержащее герметичный корпус, внутри которого соосно через ускорительные промежуток установлены ионный источник с подогревным катодом и антидинатронный электрод с держателем образца, отлыаюгцееся тем, что, с целью оптимизации условий возбуждения, ионный источник выполнен с возможностью преобразования в электронную пушку, а в ускорительном промежутке установлен прозрачный для рентгеновского излучения экран с центральным отверстием, электрически связанный с антидинатронным электродом, причем на поверхность экрана, обращенную в сторону ионного источника, нанесены чередующиеся, например, радиальными слоями, материалы анода.2. Устройство по и. 1, отличаюгг 1 ееея тем,что экран установлен с возможностью выведешгя его из зоны ускорительпого промежутка.агорская типография Зак. М 2 ЦНИИПИ Изд. зак. 1078 Тираж 404итета по делам изоб 1)етеьиш и открытий при Совет Москва, Ж, Раушская иаб., д. 4/5 1 одписноеМииистрон СССР
СмотретьЗаявка
1695118
Н. И. Ком, Э. А
МПК / Метки
МПК: G01N 23/223
Метки: 363904
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-363904-363904.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">363904</a>
Предыдущий патент: Способ контроля процессов сульфирования органических
Следующий патент: Способ определения содержания марганца в стали
Случайный патент: Способ получения р-карболинов