Устройство для измерения параметров изоклщьг

Номер патента: 356535

Авторы: Иванова, Казачковский, Пузиков, Чубарев, Яковенко

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических РеслтОлик35 б 535 ОЛ ИСАН ИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства-Заявлено 15, т 11,197 О (М 1468235/18-24) 1. Кл. Ф 01 п 21/44 рисоединением заявки-ввитвт по дел оритет -зобрвтекий и открытори Совете МикистроСССР ДК 681.325(О 88.8) Опубликовано.1972 та опублик Авторыизобретения Иванова, В, В. Казачковскнй, В. А, Пузиков, А. Н. Чубарев и В. А. Яковенко вител УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ИЗОКЛИЙЫОПТИЧЕСКОЙ РАЗНОСТИ ХОДА В ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХАТЕРИАЛАХ С ОПРЕДЕЛЕНИЕМ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВВ ТОЧКАХ ДОПОЛНИТЕЛЬНЫХ СЕЧЕНИЙ принцнпча 2 - диск 3 - диск ательного раммного сече- переИзобретение относится к области измерительной техники и может быть использованов автоматических поляримепрах,Известные .автоматические поляриметры,определяющие оптичеокие параметры по трем 5точкам: в точке исследуемого сечения ив лвух точках дополнительных сечений, отстоящих от исследуемого на расстояние, которое зависит от градиента напряжений,Предлагаемое устройство содержит псточник света, поляризатор, компенсатор ианализатор, расположенные на одной оптической оси, и фотоприемник и отличается тем,что, с целью упрощения процесса измерения,в нем между анализатором и фотодриемником установлены зри подключенные к позиционному приводу перфорированных параллельных диска, первый из которых выполненс набором диафрагм, второй - с набором групповых отверстий, распределенных 20по диску в соответствии с расстояниями доточек дополнительных сечений, третий -с набором опверстий для программного переключения.Введение в автоматичеокий поляриметр 25,специального устройства позволяет получатьинфэрмацию в основной и дополнительныхточках исследуемого сечения с одной установки оптической головки прибора или модели. 30 На фиг, 1 изображена льнаясхема устройства; на фиг. установки диафрагмы; на фиг. установки расстояния до вопомогния; на фиг. 4 - диск прогключения.Устройство содержит источник овета 1,поляризатор 2, носледуемую модель из оптп.чески актнвного материала 3, компенсатор4, анализатор 5 и фотопрпемнпк б. Междуанализатором и фотоприемником установлены при перфорированных диска 7 - 9, расположеьных на одной оси и приводимых в движение позиционным приводом 10.Диск 7 (см. фиг, 2) выполнен с наборомднафрагм различных диаметрав, размещенных на определенных расстояниях. Диск 8(см. фиг. 3) содержит наборы групповых отверстий, диаметр которых превышает максимальный диаметр диафрагмы, Отверстия расположены в определенной последовательности (группами по 3), соопветствующей определенному значению выбранного расстоянияв направлении точек исследуемого сеченияи дополнительных сечений,Диск 9 программного переключения (см.фиг. 4) имеет набор отверстий, который позволяет в заданной последовательности открывать установленные диском 7 и выделенные диском 8 диафрагмы.356535 иг 2 Перед измерением оптических параметров в точках исследуемого сечения оптически чувствительной модели определяются расстояния до дополнительных сечений и их направление, которые у 1 станавливаются с помощью диска 8. Затем устанавливается необходимый диамеор диафрагмы с помощью диска 7, и электронно-оптическая головка (или модель) выводится в исходную точку (первую точку) исследуемого сечения. При соответствующем положении диска 9 поочередно открываются установленные диском 7 диафрагмы с заданным диском 8 расстоянием и определяются оптичеокие параметры для каждой из трех точек. Затем электронно-септическая головка (или модель) перемещается на у 1 становленный шаг для определения оптических параметров в следующих трех точках исследуемого сечения,Та 1 ким образом, с одной установки электронно-оптимической головки поляриметра (или модели) получается информация о напряженном .состоянии в трех точках исследуемойоптически-чувствительной модели,Предмет изобретения Устройсово для измерения параметровизоклины и оптичеакой разности хода в оптически активных материалах с определением Оптических параметров в точках дополни тельных сечений, содержащее источник света, поляризатор, компенсатор и анализатор, расположенные на одной оптической оси, и фотоприемник, отличаюш,ееся тем, что, с целью упрощения процесса измерения, 15 в нем между анализатором и фотоприемником установлены три подключенные к позиционному приводу перфорированных параллельных диака, первый из которых выполнен с набором диафрагм, второй - с набором 20 групповых отверстий, распределенных по диску в соответствии с расстоянием до точек дополнительных сечений, третий - с набором отверстий для программного переключения.Корректор О. Тюри манов еда кто Харьк. фил, пред. Патент Заказ 559/2069 Изд,1596 ЦНИИПИ Комитета по делам изобретенМосква, Ж, Р Тираж 406 Подписно и открытий при Совете Министров ССС шская наб. д 4/5

Смотреть

Заявка

1468235

Н. В. Иванова, В. В. Казачковский, В. А. Пузиков, А. Н. Чубарев, В. А. Яковенко

МПК / Метки

МПК: G01J 4/04

Метки: изоклщьг, параметров

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-356535-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-izoklshhg.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров изоклщьг</a>

Похожие патенты