Устройство для контроля поверхности оснований резисторов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
- 1 с "КД. /о.; пя т,д .р 286744 О П ИС АЙ-И Е Союз Советских Сониалистических Республик.71.1968 (,1 т 1 е 1244873/26 М. Кл. Н 01 с 17 аявлено присоед нем заявки Ме -Комитет по делаю аооретеиий и открытий ори Совете Министров СССР,иковано 08,11973, Бюллстс 11 ь Л 1 6 та опубликования описания 17.11,1973 Авторыизобретени итонов, А, ф. Рожков и В, В. Китаев ндреев, Г. аявител УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ОСНОВАНИЙ РЕЗИСТОРОВИзобретение относится к технолосчш производства радиоаппаратуры, а именно к устройствам для контроля внешней поверхности цилиндрических керамических оснований резисторов по качеству поверхности н для отбраковки керамических оснований с дефектами и может применяться также для проверки качества поверхности нецилиндрическнх деталей, имеющих на своей поверхности изъяны в виде рисок, раковин, инородных вклю 1 енцШ, отличающихся цветом сколов, деталей.Известные устройства для контроля качесгва поверхности сферических и цилиндрических деталей, применяемые в производстве шарикоподшипников, обеспечивают, в основном, определение качества поверхности металлических изделий, обладающих малоразвитой поверхностью, и не могут применяться для контроля керамических изделий. Эти устройства громоздки, малопроизводительны и не сортируют летали по дефектам, отличающимся размерамп и формой.Целью изобретения является разрабогка устройства для контроля поверхности керамических основашш, обладающего высокой производительностью. Для этого используют дисковые укладчики и снабженный барабаном манипулятор, предназначенный лля укладки деталей на позицию осмотра, развертки поверхности по направляющей, лля осмотра бегающим лучом по принципу кадровой и строчной развертки, для раскладки контролируемых деталей на годные и брак и для автоматического выбрасывания осколков н деталей, тнпоразме ры которых отличаются от заданных.Конструкция устройства изображена на чертеже.Устройство состоит цз бункера 1, служащегоЛля загрузки камер осмотра керамическими 1 о основаниями, общего, вынесенного за пределыкамер, осветителя 2 н двух илн нескольких самостоятельных камер осмотра керамических оснований резисторов по качеству поверхности, Каждая камера содержит наклонный лоток 3 с 15 регулирующей подачу штабиков заслонкой 4заборника б н трубки о заборника, имеющей форму цилиндра с образующей в виде язычка у верхнего основания, служащей для захвата и поштучной выдачи цилиндрических деталей 20 в накопитель /, который выполнен в виде нескольк 11 х вертикальных проволок, образчющих канал, лля направления цилиндрических деталей и частичного выброса мелких осколков, укладчик, состоящий цз диска 8 с пазами, цме ющцми форму нсравцобедрецной трапеции,наклонный скос пазов служит для саморазгрузкп 1 вкатьтвация) цилиндрических деталей в горизонтальной позиции паза. и закрывающего лцск полпрхжпненного кожуха 9 с закреплен ными ца нем ца 1 доннойаправля 1 ощей УО и5 1 О 15 20 25 Ю .10 5 50 нажцмцым контактом 11 для включения реверса электродвигателя.Манипулятор 12 снабжен вращающимися консольными валиками 13, которые имеют коничсский скос и выступы на концах, служащие для выброса керамических осколков и штабиков с заниженным размером по диаметру или длине, и исполнительное устройство 14 разгрузки, служащее для раскладки штабиков ца годные и брак. Фотоэлектронный умножитель 15 служит для преобразования светового С 5 гнала в электрический.Цилиндрические детали навалом засыпаются в бункер 1 и из него по наклонному лотку 3 по мере расхода ссыпаются в заборник, где направляются и захватываются язычком трубки 6 заборника и через нее в вертикальном положении поступают в накопитель 7. Из накопителя детали поступают в пазы равномерно вращающегося диска 8 и перемещаются им в горизонтальное положение. При совпадении паза диска с щелью на кожухе 9 деталь по наклонному скосу паза диска 8 ц наклонной направляющей 10 выкатывается на консольные валики И манипулятора ц устанавливается между ними.Детали с габаритными размерами, большимп, чем размеры щели ца кожухе 9, или большими отклонениями от цилиндрической формы, продолжая вращаться вместе с диском 8, выпадают в нижнем положении паза. В случае попадания (за 1 сусыва 1 ц 51) осколка цли детали неправильной формы между пазом диска 8 и наклонной направляющей 10, кожух 9 под действием возцикшсй нагрузки начинает перемещаться совместно с дис 1 сом 8, и цажцмцой 1 соцтакт 11 косуха 9 производит реверс электродвигателя привода манипулятора 12, Дпск 8 начинает вращаться в обратную сторону, освобокдая зажатый предмет, а кожух 9 под децствием цр, цсццы 16 возвращается в цсходцос положсццс, Выключая реверс электродгцгателя.Если оч 1 стка це произошла, то процесс повторяется до полной самоочцсткц, после чего продолжается цормальцая работа устройства.Керамические основания 17 (штабики) резисторов, попавшие ца консольные валики 1 периодически вращаясь вместе с барабаном 18 манипулятора 12, поступают В позццшо осмотра. Контроль поверхности оснований резисторов, происходит при неподвижном барабане 18 ц вращающихся консольных валиках 15. КоцтрОлцруемОС 1 ерамцческос Осцсгваццс производит за цикл измерения один полный поворот вокруг своей оси. Луч света от осветителя 2 поступает на зеркало петлевого гальванометра 19, на который подается синусоидальный сигнал развертки определенной амплитуды. От зеркала петлевого гальванометра луч проектируется на контролируемое керамическое основание 17 в виде строки.Тас как основание 17 вращается и делает полный оборот за один цикл измерений, то происходит полный осмотр площади боковой поверхности керамического основания. Прц осмотре сканирующий луч, отражаясь от поверхности контролируемого основания, попадает ца фотокатод фотоэлектронного умножителя 1 а. Изменение светосилы отраженного луча за счет поглощения или частичного рассецьация Встречающимися на поверхности керамического основания различного рода дефектами преобразуется умцожителем 15 в импульсы положительной полярности, которые в зависимости от характера дефекта будут различны по длительности и амплитуде. Эти импульсы поступают в электронный блок 20 измерения параметров, которьш после соответствующих црсобразоьаццй выдает команду исполнцтельцому устройству 14 ца годные и брак. Предмет изобретен ця Устройство для контроля поверхности Оснований резисторов, содержащее загрузоч цыц механизм, транспортер, укладчик, взаимодействующий с манипулятором, осветитель, механизм сканирования луча, фотоэлектронный умцожцтель, злестрогвы 1 блок оцределенг 51 51 арамстров цовсрхцостц резисторов ц приводноц двигатель, отгичающееся тем, что, с цель 0 повышения производительности работы устройстВа, укладчик выполцец в виде диска с пазами, имеющими форму церав 1 обедреццой трацсцгцц и закрыт перемещающимся вокруг своей с 5 сц подпружиненным кожухом, цмеющцм фс 1 рму ц 1;ццдрц"Сс 1 с 01 1 срыш 1 сц с Вырезом ца ОокОВОц цоверхцост 11, окном В сновании ц выступом, управляющим переключателем реверсировацця приводного двигателя, а манипулятор снабжен барабаном с располокеццымц по сго Окружности перпецдцсл 51 рцо торцовой ПОВсрхцостц вращающимися валиками коццческсгй формы с ьыстуцом ца конце, хехацичес 1 сц св 51- заццым с диском укладчика, цацримср с помо- ЩЬЮ 1 СОЦЦ СС 1 СИХ ЦЕстЕРЕ 1.
СмотретьЗаявка
1244873
Ю. Н. Андреев, Г. Ф. Антонов, А. Ф. РожковВ. В. Катаев
МПК / Метки
МПК: H01C 17/00
Метки: оснований, поверхности, резисторов
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-286744-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-poverkhnosti-osnovanijj-rezistorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля поверхности оснований резисторов</a>
Предыдущий патент: Хирургический криоаппликатор
Следующий патент: Ленточный микрофон
Случайный патент: Способ диагностирования эксцентри-кового подшипника эксцентриковогомеханизма