Проектор для измерения параметров сечения кристалла
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(191 9/ 1) 4 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТПРИ ПНТ СССР К А ВТОРСМОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Киевское производственное объединение Изумруд(54) ПРОЕКТОР 71 ЛЯ ИЗИЕРЕНИРОВ СЕЧЕИИЯ КРИСТАЛЛА(57) Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению параметра сечения кристапла.Цель изобретения - повьпаение производительности измерения эа счет быстрого и удобного закрепления кристаллаи обеспечения свободного доступа ккристаллу в плоскости сечения. Проек тор содержит проектирующую систему1, экран 2, держатель 3 кристалла,набор лучеобразно расположенных полэунов 4, имеющих возможность радиального перемещения относительно оптической оси проектора, и измерительныенаконечники 6 укрепленных в однойплоскости на ползунах 4, источник 7света, оптические волокна 8, которые с одной стороны расположены вовзаимном контакте и соединены торцами с источником 7 света, а с противоположной стороны каждое волокнозакреплено на отдельном ползуне 4 параллельно оптической оси. Торцы всехволокон расположены в одной полости, приближенной к проектирующей системе относительно ппоскости расположения измерительных наконечников6 2 илИзобретение относится к измерительной технике, и может быть использовано, в частности для измерения параметров сечения кристалла. 5Цель изобретения - повышение производительности измерения за счет быстрого и удобного закрепления кристалла и обеспечения свободного доступа к кристаллу в плоскости сечения. 10На фиг.1 изображена принципиальная схема проектора; на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1.Проектор содержит проектирующую систему 1, экран 2, держатель 3 крис талла, набор лучеобразно расположенных ползунов 4, имеющих возможность перемещения по направляющим 5, измерительные наконечники 6, укрепленные на ползунах 4, источник 7 света и 20 оптические волокна 8, которые с одной стороны соединены друг с другом и с источником 7 света, а с другой стороны каждое волокно 8 укреплено с по - мощью кронштейна 9 на отдельном ползуне 4, причем так, что ось волокна 8 параллельна оптической оси проектора, а расстояние ее от оптической оси равно расстоянию от соответствующего острия наконечника 6 до оптической оси, Индексом 10 обозначен крист алл. На фиг.1 показаны равные расстояния а и о соответственно от оптической оси проектора до острия наконечника 6 и от оптической оси проектора до оси волокна 8, а также направление свободного доступа к кристаллу 10, которое совпадает с направлениями перемещения ползунов 440 с измерительными наконечниками 6 и лежит в плоскости исследуемого сечения кристапла 1 О - в плоскости Б-Б.Проектор работает следующим образом,45 Ползуны 4 с измерительными наконечниками 6 разводят и устанавливают в держателе 3 кристалл 1 О, после чего ползуны 4 с наконечниками 6 прижимают к поверхности кристалла 10. Благодаря равенству расстояний от острия наконечника 6 и от соответствующего оптического волокна 8 до оптической оси проектора торцы оптических волокон своим расположением повторяют контур сечения, кристалла 10, Изображения светящихся торцов оптических волокон 8 проектируются с помощью проектирующей системы 1 в увеличенном виде на экран 2, где можно наблюдать обозначенный светящимися точками контур сечения кристалла 1 О.Формула изобретения Проектор для измерения параметров сечения кристалла, содержащий осветитель, проектирующую систему, экран и держатель кристалла, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности измерения, он снабжен набором лучеобразно расположенных ползунов, установленных с возможностью радиального перемещения относительно оптической осипроектора, измерительными наконечниками, расположенными в одной ппоскости на полэунах, и оптическими волокнами, одни концы которых взаимно контактируют и соединены торцами с осветителем, а каждый противоположный конец волокон закреплен на соответствующем полэуне параллельно оптической оси проектора на одинаковом с острием соответствующего измерительного наконечника расстояния от этойоси, а их торцы расположены в одной плоскости, находящейся между ппоскостью расположения измерительных наконечников и проектирующей системой.Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гага Заказ 3739/44 Тираж 683ВНИИПИ Государственного комитета по из113035, Москва, Ж,Подписноеетениям и открытиям при ГКНТ Сшская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
4349195, 30.11.1987
КИЕВСКОЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "ИЗУМРУД"
АПТЕКМАН АЛЕКСАНДР АРОНОВИЧ, БОСЕНКО СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ, ЖИТНИЦКИЙ АЛЕКСАНДР ПИНЕВИЧ, СОЛОГУБ ВАДИМ ЕВСТАФЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/08
Метки: кристалла, параметров, проектор, сечения
Опубликовано: 30.06.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1490464-proektor-dlya-izmereniya-parametrov-secheniya-kristalla.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Проектор для измерения параметров сечения кристалла</a>
Предыдущий патент: Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Следующий патент: Способ измерения размеров объекта
Случайный патент: Загрузочное устройство