Задатчик тестового воздействия
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
11 0 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯЫПРИ ГННТ СССР ОБРЕТ ИОАН ЬСТВУ ВТОРСНОМУ СВМДА спытанни. Цель изоение области примеутем тестирования 89, Бкп. Ф 9яр и В.А.Филонина5 (088.8)кое свидетельствокл, С 06 Г 15/46, 1е свидетельство ССкл. С 06 Г 15/46,объек делит сиров ИЛИ 4 ССР73,Р984 запус 54) ЗАДАТЧИК ТЕСТОВОГО ВОЗЛЕ57) Изобретение относится ке и вычислительной техникеть использовано для автомат ельность циклов тестирования.идация ручных операций способет аннулированию субъективныхок. 1 з.п. ф-лы, 3 илПи втома"и может ик а РлюРРЫ й/ХЫ(21) 413584 (22) 09. 10. (46) 07,03. (72) А.А.Бо (53) 681. 38 (56) Авторс В 329531,Авторско В 1073778,СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИК тов. Устроист ели сигналов ки тестовых сэлемент 5 с ка, коммутато вированньтх об их контролеприго бретения - расшн нения задатчика резервированных о содержит распр ,2, блок 3 кросгналов, элемент роса, элемент 67. Тестирование ектов повьппает сть, СокращаетсяИзобретение относится к автоматике и вычислительной технике и можетбыть использовано для автоматизациииспытаний.5Цель изобретения " расширение области применения задатчика за счеттестирования резервированных объектовНа фиг, 1 приведена схема задатчика; на Фиг. 2 " схема блока кроссировки тестовых сигналов, на фиг, 3схема коммутатора,На фиг, 1 обозначены первый и второй распределители 1 и 2 сигналов соответственно, блок 3 кроссировки тестовых сигналов, элемент ИЛИ 4, элемент 5 сброса, элемент 6 запуска,коммутатор 7 (элементы сброса 5 изапуска 6 выполнены на основе реле сразмыкающими и замыкающими контактами соответственн 9),На фиг. 2 обозначены группы пио пдов 818.р (где р = 1число групп диодов).На фиг, 3 обозначено реле 9,19,ш и их замыкающие контакты 9 ц (=ФФэщу К 10 оап)6Задатчик работает следующим образом.3 ОПри подаче сигналов на установочный вход и. вход сброса задатчик устанавливается в исходное состояние.При поступлении первого сиггала насчетный вход задатчика на первом выходе первого распределителя 1 сигналов появляется сигнал и через группу диодов 8,1 блока 3 кроссировкитестовых сигналов подается на первыйсигнальный вход коммутатора 7 и первый вход элемента ИЛИ 4.При поступлении 1-го сигнала насчетный вход задатчика сигнал сх-го выхода первого распределителясигналов через группу диодов 8.1блока 3 кроссировки тестовых сигналов подается на соответствующие группы диодов З.х, сигнапьные входы коммутатора 7 и входы элемента ИЛИ 4,При поступлении хотя бы одногосигнала на входы элемента ИЛИ 4 срабатывает элемент 6 запуска и запускает второй распределитель 2 сигналов, который выдает сигналы на управляющие входы коммутатора, подсоединяющего соответствующий Вход коммутатора 7 через замыкаощие контактыреле 9 к соответствующей группе выходов задатчика. При подаче. сигнала на вход сброса задатчика срабатывает элемент 5 сброса и устанавливает второй распределитель 2 сигналов в исходное состояние.Положительный эффект достигается за счет расширения области применения путем тестирования резервированных объектов при этом повышается вх контролепригодность и сокращается длительность циклов тестирования. Ликвидация ручных операций способствует аннулированию субъективных ошибок,Формула изобретения1. Задатчик тестового воздействия, содержащий первый распределитель сигналов, счетньй и установочный входы которого являются счетным и установочным входами задатчика соответственна, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения области применения задатчика за счет тестирования резервированных объектов, в него введены второй распределитель сигналов, блок кроссировки тестовых сигналов, элемент ИЛИ, элемент сброса, элемент запуска и коммутатор, выходы первого распределителя сигналов под; соединены к соответствующим входам блока кроссировки тестовых сигналов, выходы которого подключены к соответствующим сигнальным входам коммутатора и соответствующим входам элемента ИЛИ, выход которого подключен к входу элемента запуска, выход которого соединен с входом запуска второго распределителя сигналов, вход сброса которого соединен с выходом элемента сброса, а выходы - с соответствующими управляющими входами коммутатора, группы выходов которого являются группами выходов задатчика, вход элемента сброса является входом сброса задаъчика.2. Задатчик по и, 1, о т л и ч а ю щ и й с я тем что блок кроссировки тестовых сигналов содержит--- - - групп диодов (по колич- , 1.(-1).ству диодов в каждой группе от 1 до и, где и - количество выходов блока) аноды диодов групп являются соответствующими входами блока катоды диодов соответствующих групп подключены к выходам блока во всех возможных сочетаниях из и по 1 (где 1 - количество диодов в группе).1464 1 74 Составитель И.Алексеевактор А.Ворович Техред А.Кравчук Корректор Л. Пилипенко ак оизводственио-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина,10 82 б/52 Тираж бб 7Государственного комитета по113035, Москва, ЖПодписноеобретениям и открытиям при ГКНТ ССРауюская наб д. 4/5
СмотретьЗаявка
4135840, 09.10.1986
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5728
БОЯР АСКОЛЬД АЛЕКСАНДРОВИЧ, ФИЛОНИНА ВАЛЕНТИНА АЛЕКСАНДРОВНА
МПК / Метки
МПК: G06F 11/22
Метки: воздействия, задатчик, тестового
Опубликовано: 07.03.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1464174-zadatchik-testovogo-vozdejjstviya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Задатчик тестового воздействия</a>
Предыдущий патент: Устройство для поиска информации
Следующий патент: Устройство для контроля электрического монтажа
Случайный патент: Комплекс для изготовления термореактивных композиций