Устройство отбора пробы металла от металлического образца на пробоотбирающий электрод

Номер патента: 1385003

Автор: Сайченко

ZIP архив

Текст

(19) 601 И 1/ ею.,ЗПГОрцщцКИОДО гну АНИЕ ИЗОБРЕТЕ елью я а и ности и й эфия дуи обпрос ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ(54) УСТРОЙСТВО ОТБОРА ПРОБЫ МЕТАЛЛАОТ МЕТАЛЛИЧЕСКОГО ОБРАЗЦА НА ПРОБОТБИРАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОД(57) Изобретение относится к обла онтроля состава вещества яется повышение точности уменьшение разрушения поверхследуемого образца. Положительньфект достигается путем подавленги размывания между электродомразцом приводящей к выгораниюдуктов переноса (пробы) и электроэррозионному разрушению поверхности оразца. Подавление дуги размыканияосуществляется управляющим полупроводниковым элементом, фотоэлементоми усилителем. 1 ил.Изобретение относится к областиконтроля состава вещества, в частности к отбору пробы от монолитного образца металла для спектрального ана 5лиза.Целью изобретения является повышение точности анализа и уменьшениеразрушения поверхности исследуемогообразца за счет гашения дуги размыкания.На чертеже. изображена схема предлагаемого устройства,Схема пробоотборника включаеттрансформатор 1, реле 2 времени, 15кнопку 3 включения, выпрямительподводящий электрод 5, исследуемыйобразец 6, пробоотбирающий электрод7, соленоид 8, фотоэлемент 9 усилитель 10 и полупроводниковый управляемый элемент 11.Устройство работает следующим образом.Пробоотборник устанавливают на исследуемый образец 6 таким образом, 25что подводящий электрод 5 и пробоотбирающий электрод 7 соединены с исследуемым образцом 6, а фотоэлемент9 ориентирован светоприемником к месту контакта пробоотбирающего электрода 7 с образцом 6.При нажатии кнопки 3 включениявключается реле 2 времени и замыкаетпервичную цепь питания, напряжениесети через трансформатор 1 поступает35на выпрямитель 4, а затем напряжениеположительного полупериода питающегонапряжения через соленоид 8 поступает на электрод 7. Так как электроды5 и 7 замкнуты через образец 6, то в 4цепи отбора вторичная обмотка трансформатора 1 - выпрямитель 4 - соленоид 8 - электрод 7 - образец 6 - электрод 5 начинает течь ток, возрастающий по синусоидальному закону. В результате прохождения тока через соленоид 8 пробоотбирающий электрод втягивается в него и тем самым отводитсяот образца 6, далее цепь отбора пробы размыкается, воздействие соленоида 8 на пробоотбирающий электрод 7прекращается и он вновь приходит всоприкосновение (контактирование) сисследуемым образцом, При восстановлении цепи питающего напряжения процесс повторяется в течение всего периода включения реле 2 времени,Каждый цикл замьекания и размыкания цепи отбора сопровождается следующим процессом.Контактирующие участки пробоотбирающего электрода 7 и исследуемого образца б разогреваются до образования между ними слоя расплавленной стали исследуемого образца. В момент отведения электрода 7 от образца 6 материал последнего переносится на пробоотбирающий электрод 7. Одновременно в момент отведения электрода 7 между ним и исследуемым образцом 6 возникает электрическая дуга. Световое излучение дуги регистрируется фотоэлементом 9 сигнал от фотоэлемента 9 усиливается усилителем 10 и подается на управляемый полупроводниковый элемент 11, который открывается и шунтирует электроды 7-5, что приводит к гашению дуги. Тиристор закрывается в момент отсутствия управляющего напряжения при спаде до нуля питающего однополупериодного напряжения,Таким образом, в предлагаемом пробоотборнике стали для спектрального анализа продолжительность горения дуги сокращена до минимума и.определена быстродействием электронных приборов. Отбор пробы стали без выгорания продуктов переноса (благодаря гашению дуги) обеспечивает повышение точности анализа и уменьшает эррозионное разрушение исследуемого образца.Формула изобретенияУстройство отбора пробы металла от металлического образца на пробоотбирающий электрод по авт. св. 781657, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности анализа и уменьшения разрушения поверхности исследуемого образца за счет гашения дуги размыкания, между пробоотбирающим и подводящим электродом подсоединен управляемый ключевой полупроводниковый элемент, управляющий электрод которого через усилитель соединен с фотоэлементом, причем последний ориентирован светоприемником к зоне контакта пробоотбирающего электрода с исследуемым образцом.1385003 8 7 Составитель Б.ШироТехред М.Ходанич Корректор А.Тяс бодяник едакто каз 1406/40 писно 5 Тираж 847 ВНИИПИ Государственного комитета С по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб

Смотреть

Заявка

4032462, 03.12.1985

ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "ТАШКЕНТСКИЙ ТРАКТОРНЫЙ ЗАВОД ИМ. 50-ЛЕТИЯ СССР"

САЙЧЕНКО ЯКОВ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 1/28

Метки: металла, металлического, образца, отбора, пробоотбирающий, пробы, электрод

Опубликовано: 30.03.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1385003-ustrojjstvo-otbora-proby-metalla-ot-metallicheskogo-obrazca-na-probootbirayushhijj-ehlektrod.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство отбора пробы металла от металлического образца на пробоотбирающий электрод</a>

Похожие патенты