Пробоотбирающий электрод для спектрального анализа

СОЮЗ СОВЕТСНИХиРЕСПУБЛИК ОЮ 01) ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНМВИЕТВЛй ь,, Фу К 54 чес ельство СССР/10.974. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(21) 3378184/24-25 (22) 05,01,82 (46) 23.10.84. Бел. з 39 (72) О.Н.Воронкова, Д.Б.Князько и А.С.Климова (53) 535,8(088.8) (56) 1. Таганов К.И. Спектральн анализ металлов и сплавов с пре рительным отбором пробы, "Иеталл гия", 1968, с. 49-57.2. Авторское свидет9 519601, кл. С 01 Л 3 тем,тивнкихрабопориал,водя 57) ПРОБООТБИРАЮЩИЙ. ЭЛЕКТРОД ПЕКТРАЛЬНОГО АНАПИЗА металлих образцов, выполненный в форержня, о т л и ч а в щ и й с я что, с целью повцвения эффексти отбора проб от металличесбразцов без их разрущения, на ей части электрода закреплен тый электронепроводящий матери азмещенный внутри электронепро ей опорной оправки, выступакще ей, и пропитанный электролитом1 11291Изобретение относится к спектральному анализу с предварительным отбором пробы, а именно для отбора пробыв малых дозах вещества.Известны электроды для спектрального анализа с предварительным отбором пробы электрическим разрядом,представляющие собой ыеталлические,графитовые или угольные стержни,на которые происходит отбор пробы , 1 Опутем разряда конденсатора междуэлектродом и металлическим образцом,При этом некоторая часть металлического образца под действием электрического разряда переносится йа отбирающий электрод 1 3Однако возникающие значительные.механические и термические удары,в местах действия электрического разряда приводят к дефекту образцов.2 рКроме того, электроды не обеспечивают возможность отбора пробы оттонкостенных хрупких деталей и отметаллических пленок на непроводящихподложках.Имеетместо также йзменение 2состава перенесенного вещества посравнению с анализируемой пробой засчет испарения легколетучих компонентов.Наиболее близким по техническойсущности к предлагаемому являетсяпробоотбирающий электрод для спектрального анализа металлических образцов, выполненный в форме стержня 2 1.Недостатком является малая эффективность отбора пробы и разрушение35хрупких образцов при отбореЦель изобретения - повышение эффективности отбора пробы от металлических образцов без их разрушения. 4Поставленная цель достигается. благодаря тому, что в пробоотбирающем электроде для спектральногоФанализа металлических образцов, выполненном в форме стержня, на рабо 4 Ячей части электрода закреплен пористый электропроводящий материал, раэ"мощенный Ьнутри электронепроводящейопорной оправки, выступающей над нейи пропитанный электролитом.На чертеже изображен электрод. ОЭлектрод. включает стержень 1,на торце которого закреплена насадка.веРшина конуса выступает в отверстиеопорной оправки 3,Сборка электрода производитсяследующим образом. На рабочую часть стержня закрепляется насадка из пористого материала путем касания основания насадки к разогретому до 200 С торцу данного стержня. Закрепленная пористаянасадка пропитывается электролитом погружением в него с прижимом и отпуском. Затем на конец стержня .поверх пористой насадки осторожно надевается опорная оправка.Пробоотбирающий электрод работает следующим образом.Электрод устанавливается на металлический образец опорной оправкойтак, чтобы выступающая часть пористойнасадки плотно прилегала к нему. Затем пробоотбирающий электрод подключается в качестве катода в электроцепь с источником постоянного тока,вольтамперметром и амперметром; ано"дом является непосредственно металлический образец, который посредством подводящего электрода (щуп) формирует цепь. Контролируется ток и время электролитического отбора пробы.Для проведения последующегоспектрального анализа с пробоотбирающего электрода осторожно снимается опорная оправка и постепенным нагреванием сушится, а затем оплавляется пористый материал. С использованием электродов с эталонным составом проводится спектральный анализ по раз- работанным методикам.Применение пробоотбирающего электрода дает возможность отбирать пробу от металлических образцов для спектрального анализа без их разрушения, Отбор пробы происходит без разогревания.образца. Проба может бытьотобрана в любых малых дозах, достаточных для проведения спектрального анализа: (10 4-1 О ф:г) . Электрод обеспечивает отбор пробы отдельныхметаллических деталей, связанных в конструкции, без ее нарушения и целостности всего изделия,Пробоотбирающнй электрод обеспечивает значительную эффективность отбора проб металлических образцов без их разрушения и возможность отбора пробы от образцов, изготовленньв как иэ твердых сплавов, так и легкоплавких.Отбор пробы не зависит от формы и толщины образца. Так, например, отбор пробы от вогнутой части неровной поверхности детали, от тонких3 1120 177 4металлических пленок на непроводя- монтажа. Кроме того, пробоотбирающих подложках, от тонкостенных и щий электрод позволяет производить хрупких деталей, от деталей навесного дозированный отбор пробы.ЪСоставитель Л.ГойхманРедактор Е.Лушникова Техред Л.Мартяшова Корректор ГЯгарЗаказ 7729/29 Тираж 822 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП "Патент",.г.Ужгород, ул.Проектная, 4