Способ определения структуры магнитной поверхности

(5 твенк ет сссРиоткРЫтии Е ИЗ ЕТ(53) 621 нии магронного точек с плос теьы и 6 доль силовой литочечного электеленке положениятраектории пучкаия магнитной сисемени прихода пучка вчки плоскости, о т лс я теи, что, с цельочности измерения, пов одной из точек перории пучка с плоскостоводят доолнительную(56) Вере ние струк ледова- ра ностей ч2168, увкр ю еллат е а и 1 СОЮЭ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК жецкий И.С. и др. Истуры магнитных лонера. - ЖТф, 35, В 12,(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ С РЫ МАГНИТНОЙ ПОВЕРХНОСТИ в з той иагнитной системе, заключ инжекции итвого поля учка, опред ересечения остью сечензмерение вр зличные тоа ю щ и йеличения тайней мереения траект мереннй пр нжекцию пуч Ж12380 Э 5 Изобретение относится к технике . измерения свойств магнитного поля в замкнутых магнитных системаХ плазменных ловушек, -например стеллараторов,В таких ловушках силовая линия 5магнитного поля может совершать много обходов вдоль магнитной системы. Ино" жество таких. силовых линий образуют семейство вложенных магнитных поверхностей. Область существования магнит-ных поверхностей является рабочей областью магнитного поля плазменной ло" вушки, т,е. областью. удержания плаз" мы. Свойства магнитных поверхностей (их форма, размер, положение относи тельно обмоток магнитного поля и стенок вакуумной камеры, порядок заполнения магнитной поверхности силовой линией и т.п,) обуславливают качество магнитной системы как ловушки для 20плазмы.Цель изобретения - увеличение точности измерения структуры магнитных поверхностей.Поставленная цель достигается увеличением количества надежно регистрируемых обходов электронного пучка вдоль магнитной системы.Способ осуществляют следующим образам. ЭОВ камеру магнитной системы (стелларатора) инжектируют точечный пучок электронов вдоль силовой магнитной линии. Электронный пучок проходит в замкнутой камере магнитной системы .несколько оборотов. Фиксируют точки и порядок прохождения. электронного пучка через плоскость сечения камеры. В одной из точек плоскости, где на-. дежно зафиксировано прохождение элект ронного пучка, вновь инжектируют пучок электронов вдоль силовой магнитной линии. По порядку прохождения пучка через плоскость сечения камеры и координатам точек пересечения судят 45 о структуре магнитной поверхности,На Фиг. 1 и 2 изображены схемы реализации способа, где 1 - участок торроидальной вакуумной камеры, А и И - сечение камеры, 2-.3 - зонды б пушки для инжекции и измерения элект 09 3ронного пучка, 4 - перегородка сомножеством локальных диодов.Схема реализации, изображенная нафиг, 1, работает следующим образом.Электронной пушкой 3 инжектируютэлектронный пучок. После М обходовкамеры зонд-пушка 2;фиксирует электронный пучок в т. аДалее зонд:-пушка 2 инжектирует. из т. а дополнвтель"ный электронный пучок. В:т.сечения В зонд-пушка 3 фиксирует этотдополнительный пучок. После этого изт. ь пушкой 3 инжектируют еще пучокэлектронов, который проходит еще Яоборотов,Схема реализации, изображеннаяна Фиг. 2, предназначена для магнитных систем, где возможна регистрациятолько одного обхода пучка. В сечении А вакуумной камеры размещают перегородку. На одной стороне перегородки устанавливается подвижная пушка,на другой - множество зондов. Каждыйзонд имеет заранее определенные координаты и связан со считывающим устройством. Посыпаемый пушкой 3 элект"ронный пучок, обойдя по силовой линиивдоль системы, .попадает на один излокальных зондов. Считывающее устройство определяет номер этого зонда.Таким образом определяется первая измеренная точка А пересечения силовойлинии с плоскостью измерений, Втораяточка А определяется точно так жев результате инжекции электронногопучка из точки А, куда перемещаютпушку 3 (на фиг. 2 показана точками)и т.д.При измерении структуры магнитнойповерхности в замкнутой магнитнойсистеме при однократном инжектированни электронный пучок может совершить.в камере 5. в . 15 оборотов вследствиерассеивания на остаточном газе, Способ позволяет повысить число надежных оборотов электронного пучка всистеме, а следовательно, увеличитьчисло фиксируемых точек на поверхности измерения. Это обеспечивает повышение точности измерения структурымагнитной поверхности.