Спектрометр скользящего падения с фокусировкой по роуланду

ZIP архив

Текст

(19) С 013318 ГОСУД АРСПО ДЕЛ ИЕ У СВ ПИС БРЕТЕНИ ТЕЛЬСТ АВТОРСН 2. Спектро ч а ю щ и й с расширения ре етр по п. я тем, чт истрируемо нутые дифр ены в виде блеска, в о л ильюазона с о дил волн, в ки выпо мн угла ционны реше эшелетт сбраннымираница эф азн ак,о длинноволновая фект совп вногоадает с тивног летта. ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Институт металлургииим. А.А.Байкова и Специальное конструкторское бюро Института металлургии им. А.АБайкова(54)(57) 1. СПЕКТРОМЕТР СКОЛЬЗЯЩЕГОПАДЕНИЯ С ФОКУСИРОВКОЙ ПО РОУЛАНДУ,содержащий оптически связанные источник излучения, совмещенный с входной щелью, вогнутую дифракционнуюрешетку, выходную щель и детекторизлучения, а также механизм сканирования по спектру, в который входятнаправляющая, соединяющая источникизлучения с вогнутой дифракционнойрешеткой, направляющая, соединяющаяисточник излучения с выходной щелью,и платформа с размещенными на нейвогнутой дифракционной решеткойи выходной щелью, кинематически связанная с указанными направляющими,отличающийся тем, что,с целью увеличения светосилы и разрешающей способности, в него введены дополнительная вогнутая дифракционная решетка, оптически связаннаяс источником излучения и выходнойщелью и имеющая одинаковые с основнойдифракционной решеткой радиус кривизны и расстояние между штрихами, атакже дополнительный детектор излу,чения, оптически связанный с выходной щелью, причем механизм сканирования по спектру содержит дополнительную направляющую, соединяющую источник Излучения с дополнительной дифракционной решеткой, и дополнительную платформу с размещенной на нейдополнительной вогнутой дифракционной решеткой, кинематически связанную с дополнительной направляющейи направляющей, соединяющей источник излучения с выходной щелью, при 7этом платформы соединены общейосью, которая расположена на направляющей, соединяющей источник излучения с выходной щелью, и которая проходит через выходную щель. ражения одного эшелетт оротковолновой границе отражения другого эше1 12Изобретение относится к областиоптического спектрального приборостроения.Целью изобретения является увеличение светосилы, разрешающей способности и расширение регистрируемогодиапазона длин волн.На чертеже изображена оптическаясхема спектрометраСпектрометр скользящего падениясодержит источник 1 излучения, совмещенный с входной щелью, вогнутыедифракционные решетки 2 и 3, платформы 4 и 5, общую ось платформы 6,дополнительные оси 7 и 8, каретку 9,выходную щель 10, направляющие 1113, детекторы 14 и 15 излучения,предварительные усилители 16 и 17,основной усилитель 18, положение окружностей Роуланда, соответствующихрешеткам 2 и 3, отмечено цифрами 19,20,Углы дифракцю 1 , а также расстояния 1 от вершины решеток до выходной щели одинаковы и постоянны,их выбирают в соответствии с условиями фокусировки Роуландат = К впУ, 1 = К в 3 пЧ,где Ч- скользящий угол падениялучей на дифракционную решетку;Ч - скользящий угол дифракции,г - расстояние от источника довершин дифракционных решеток,1 - расстояние от вершиндифракционных решеток до выходной щели. Спектрометр работает следующимобразом.Оптическая схема спектрометравключает источник излучения 1, вогнутые дифракционные решетки 2 и 3,выходную щель 10, детекторы излучения 14 и 15. В спектрометре обе вог=нутые дифракционные решетки 2 и 3 одновременно фокусируют на выходнующель 10 излучение одинаковой длиныволны, в результате чего возрастаетвдвое общий поток излучения, попадающий в выходную щель,Сканирование по спектру осуществ"ляют посредством одновременного перемещения платформ 4 и 5 и каретки 9с выходной щелью 10 относительно источника 1. При этом в любом из возможных положений платформ 4, 5 и каретки 9 их общая ось б располагаетсяна центральной прямолинейной направляющей 11, проходящей через источник,23050 2а дополнительное оси 7, 8 - на боковых направляющих 12 и 13, также проходящих через источник 1 и образующихе центральной направляющей 11 одинаковые углы, равные углу дифракции.Механизм сканирования работаетследующим образом.Вращением ходового винта перемещают каретку 9 с осью 6 и щелью 1010 вдоль направляющей 11, одновременноперемещая и разворачивая вокругоси 6 платформы 4 и 5 дифракционными решетками 2 и 3. Дополнительныеоси платформ 7 и 8 движутся при этом15 вдоль направляющих 12 и 13 соответственно. Одновременно происходит разворот решеток с изменением углов падения первичных пучков на решетки,что при неизменном угле дифракциии неизменном расстоянии от центроврешеток до центра щели приводит кизменению длины волны Д , на которую настроен спектрометр согласноуровнению25 Сов Ф - Сов М = ш /6,где 6 - постоянная дифракционнойрешетки; ш - порядок дифракции, Влюбом из возможных положений механизма сканирования (на чертеже показаны два таких положения) выполняются строго условия фокусировки Роуланда, т.е. источник 1, оси решеток 7 и 8 и ось щели 10 находитсяна фокальньгх окружностях Роуланда 1935и 20 соответственно, радиусы которых равны половине радиуса кривизнырешеток К,За щелью 10 на платформах 4 и 5установлены детекторы излучения 14и 15. В непосредственной близостиот детекторов на платформах 4 и 5установлены предварительные усилители 16 и 17, с выхода которых импульсы поступают на вход основного уси 45лителя 18 и далее - в счетно-регист"рирующее устройство спектрометра.Спектрометр дает возможность прииспользовании двух идентичных решеток увеличить вдвое телесный уголсбора излучения из источника и, как50следствие, увеличить вдвое йнтенсивности спектральных линий, регистрируемых детекторами без ухудшения ихконтрастности, снизить в Г 2 разпорог обнаружения элементов приспектральном анализе, увеличить разрешающую способность по длинам волн,благодаря возможности работы с болееузкими щелями.3 12230504При использовании в спектрометре второго эшелетта равной длинноволно скользящего падения решеток-эшелет- вой границе отражения для первого, тов с разными углами блеска эффектив- т,е. полагая 2 А, = 0,7,где - но регистрируемый интервал длин волн длина волны, соответствукщая условиможет быть увеличен почти в четыре 5 ям блеска для второго эшеллета, раза, поскольку область наиболее эф- получаем, что длинноволновая грани- фективного отражения эшелетта зани- ца области эффективного отражения в мает интервал длин волн от 0,73 спектрометре с двумя решетками-эшедо 2 Л , где Я - длина волны, со- леттами становится равной 4 А /0,7 щ )ответствующая точному выполнению ус5,7 , , т.е. общий интервал эфловий блеска, Выбирая коротковолновую фективного отражения возрастает нриграницу эффективного отражения для мерно вчетверо. Составитель Е,Ивано Техред И.ГайдошСтрельник оррек едак кмар Подписное аказ 1702/43 Тир ВНИИПИ Государственн по делам изобрете 113035, Москва, Ж

Смотреть

Заявка

3772194, 27.07.1984

ИНСТИТУТ МЕТАЛЛУРГИИ ИМ. А. А. БАЙКОВА, СПЕЦИАЛЬНОЕ КОНСТРУКТОРСКОЕ БЮРО ИНСТИТУТА МЕТАЛЛУРГИИ ИМ. А. А. БАЙКОВА

КОЗЛЕНКОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, БОГДАНОВ ВЛАДИМИР ГРИГОРЬЕВИЧ, КУЛАПОВ АНАТОЛИЙ КОНСТАНТИНОВИЧ, ШИШИН ВИКТОР МИХАЙЛОВИЧ, БЫСТРОВ АНАТОЛИЙ БОРИСОВИЧ, БОНДАРЕНКО КОНСТАНТИН ПЕТРОВИЧ, ШУЛЬГИН АНДРЕЙ ИГОРЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01J 3/18

Метки: падения, роуланду, скользящего, спектрометр, фокусировкой

Опубликовано: 07.04.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1223050-spektrometr-skolzyashhego-padeniya-s-fokusirovkojj-po-roulandu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Спектрометр скользящего падения с фокусировкой по роуланду</a>

Похожие патенты