Способ определения спектральной плотности энергетической яркости ик-излучения тепловых источников
Формула | Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1477053
Авторы: Виноградов, Калинин, Саприцкий
Формула
Способ определения спектральной плотности энергетической яркости ИК-излучения тепловых источников, заключающийся в сравнении модулированных монохроматизированных потоков излучения от исследуемого источника и модели черного тела (МЧТ) с известной температурой, соответствующей реперной точке температурной шкалы МЧТ, путем синхронного с частотой модуляции детектирования сигналов приемника излучения и определения значения спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) по найденному в результате сравнения отношению, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительно осуществляют сравнение потоков исследуемого источника и МЧТ путем попеременного оптического сопряжения излучения источника и МЧТ с интегральным приемником излучения по трактам с идентичными оптическими характеристиками, причем сопряжение производят с указанной частотой синхронного детектирования, уравнивают указанные потоки, затем сравнивают попеременно с частотой синхронного детектирования монохроматизированные при длине волны потоки излучения источника и МЧТ с температурой T1, оптически сопрягаемые со спектрометром по тем же, что и для интегрального приемника, трактам, измеряют сигнал
R1(
), пропорциональный разности указанных монохроматизированных потоков, измеряют температуру МЧТ до значения T2, соответствующего соседней реперной точке температурной шкалы МЧТ, измеряют сигнал
R2(
), пропорциональный разности потоков источника и МЧТ, и с учетом значений
R1(
) и
R2(
) находят значение спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) источника Lu(
) по зависимости
где L( ,Ti) = C1[
5i
(exp C2/
Ti-1)]-1 [Вм/стер
м3] СПЭЯ МЧТ при температуре T1 по закону Планка;
C1, C2 - первая и вторая постоянные по закону Планка.
Описание
Целью изобретения является повышение точности.
На чертеже представлена блок-схема установки для реализации способа.
Установка для реализации способа содержит источник 1 теплового ИК-излучения, модель черного тела (МЧТ) 2, зеркало-модулятор 3 с приводом 4, проектор 5, спектрометр 6 с фотоприемником 7 на выходе и синхронный детектор 8 с усилительной системой, вход которого связан с фотоприемником 7, а синхронизирующий выход - с приводом 4 модулятора. Элементы: источник 1, зеркало-модулятор 3, проектор 5, спектрометр 6, образуют первый оптический тракт, который идентичен второму оптическому тракту, образованному МЧТ, зеркалом-модулятором 3, проектором 5, спектрометром 6. В фокусе проектора 5 расположена входная щель спектрометра 6, которая может быть перекрыта интегральным фотоприемником 9.
Источник 1 и МЧТ 2 снабжены регулируемыми блоками питания соответственно 10 и 11.
Способ осуществляют следующим образом. Предварительно осуществляют сравнение интегральных потоков исследуемого источника 1 и модели черного тела 2 путем попеременного оптического сопряжения излучения каждого из источников с фотоприемником 9 двум оптическим трактам с идентичными характеристиками, причем сопряжение производят с частотой синхронного детектирования и минимизирования выявленной разности указанных потоков путем регулирования выходной мощности блоков 10 и 11, затем осуществляют указанную операцию сравнения монохроматизированных при длине волны потоков, для чего также попеременно с частотой синхронного детектирования оптически сопрягают излучение от каждого из источников со спектрометром 6 по двум оптическим трактам с идентичными оптическими характеристиками, при этом измеряют разностный сигнал






где S



Решение системы для величины Lи(



Среднеквадратичное отклонение (СКО) S результата измерения величины СПЭЯ из выражения (2) определяется выражением

где S2N - СКО спектрометра;
S2мчт - СКО МЧТ.
Поскольку разностный сигнал получен как разность сигналов от источника и МЧТ по трактам с идентичными оптическими характеристиками, то все собственные излучения элементов тракта, включая излучение модулятора, вычитаются и на разностный сигнал не влияют. С другой стороны, поскольку вклад в сигнал от рассеянного света определяется главным образом величиной интегрального потока от источника или МЧТ, то выравнивание их приводит к равенству уровней рассеянного света в разных фазах модуляции и, следовательно, к вычитанию их в разностном сигнале. Наконец, при тех же, что и в известных решениях, величинах потока ИК-излучения источника в данном способе необходимо регистрировать значительно меньшие перепады сигнала, поскольку тепловые источники имеют гладкие спектры и выравнивание интегральных потоков приводит к тому, что сравниваемые монохроматизированные потоки являются величинами одного порядка. Поэтому в способе необходим значительно меньший динамический диапазон, что приводит к уменьшению погрешности из-за нелинейности приемно-усилительной системы. Таким образом, в предлагаемом способе уменьшено влияние на результат определения СПЭЯ основных источников погрешности, что повышает точность определения СПЭЯ источников теплового ИК-излучения.
Изобретение относится к спектрорадиометрии источников теплового ИК-излучения, например, для передачи размера единиц спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) в Государственной поверочной системе. Целью изобретения является повышение точности. Сущность изобретения заключается в регистрации разностных сигналов от исследуемого и эталонного излучения с предварительно выровненными интегральными потоками, причем потоки преобразуются в сигналы по идентичным трактам, попеременно оптически сопрягаемым фотоприемником с приемно-усилительной системой с частотой синхронного детектирования. Суждение об определяемой величине СПЭЯ по разностным сигналам выносится на основании двух измерений с эталонным излучением модели черного тела при двух температурах. Изобретение позволяет повысить точность определения СПЭЯ. 1 ил.
Рисунки
Заявка
4219462/25, 02.04.1987
Виноградов Е. А, Калинин А. В, Саприцкий В. И
МПК / Метки
МПК: G01J 5/50
Метки: ик-излучения, источников, плотности, спектральной, тепловых, энергетической, яркости
Опубликовано: 10.11.1998
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1477053-sposob-opredeleniya-spektralnojj-plotnosti-ehnergeticheskojj-yarkosti-ik-izlucheniya-teplovykh-istochnikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения спектральной плотности энергетической яркости ик-излучения тепловых источников</a>
Предыдущий патент: Композиция адгезионного подслоя для фотоматериалов
Следующий патент: Режекторный фильтр
Случайный патент: Керамическая масса