Способ контроля глубины закалки поверхности образцов из легированных сталей

Номер патента: 868547

Авторы: Алексеев, Папорков, Песин

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических РеспубликОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ оц 868547(22) Заявлено 0303.80 (2 ) 286 3273/25-28с присоединением заявки Ио(51)М. Кл.з С 01 М 27/90 Государственный комитет СССР яо делам нзобретеннй н открытнй(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ГЛУБИНЫ ЗАКАЛКИ ПОВЕРХНОСТИ ОБРАЗЦОВ ИЗ ЛЕГИРОВАННЫХ СТАЛЕЙИзобретение относится к нераэрушающему контролю и может быть использовано для контроля поверхностного упрочнения легированных сталей после химико-термической обработки.Известен электромагнитный способ контроля глубины упрочненного слоя и его твердости по магнитным параметрам изделий из легированных сталей Я . ОНедостатком известного способа является невозможность контроля с его помощью узкого класса сталей.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является известный способ контроля глубины 15 закалки поверхности образцов из легированных сталей, заключающийся в том, что образец намагничивают переменным магнитным полем и измеряют амплитуду и фазу гармоник ЭДС вторич ного сигнала, по которым судят о контролируемом параметре 2).Недостатком известного способа является низкая точность контроля Образцов из сталей, прошедших сложную химико-термическую обработку.Цель изобретения - повышение точности контроля.Поставленная цель достигается тем, что измеряют амплитуду и фазу гармо ник ЭДС на двух близких частотах,находят разности амплитуд и фаз соответствующих гармоник, по которым ощ деляют глубину закалки поверхности образцов.На фиг. 1 приведены зависимости относительных значений амплитуды Е и фазы 9 первой гармоники ЭДС от частоты для образцов с различной глубиной 0 закалки, на фиг. 2 - блок-схема устройства, реализукицего способ контроля,Значения 6 о и Уосоответствуют образцу с наибольшей глубиной цо 78 т 4С уменьшением глубины упрочненного слоя крутизна зависимостей с (Ф) и т(т) увеличивается. Для образцов с одинаковой глубиной ,р. и % могут отличаться, но имеют одинаковый нак" лон. Аналогичные зависимости наблюдаются и для третьей гармоники, Таким образомт величина производной д/Л идля образцов с большей глубиной упрочненного слоя меньше, чем для образцов с меньшей глубиной. При этом положение образца в катушке не оказывает влияния на результат измерения.Непосредственного измерения производных можно избежать, если восполь"868547 Формула изобретения ие,Я Филиал ППП "Патен г,ужгород, ул.Про Утная, 4 эоваться их приближенными величинами ЙЦай и дУ лдпя малых изменений час" тоты, где 6 - амплитуда 1-ой гармоники ЭДС, - Фаза. В реальных условиях достаточно зафиксировать приращение дГ частоты, и тогда информативными параметрами будут соответствующие приращения ЬЕ и ь;.Предлагаемый способ реализуется в устройстве, показанном на фиг.2.Сигнал с генератора 1 через уси-литель 2 мощности подается на намагничивающую катушку 3 вихретокового преобразователя проходного типа собраэцом. С измерительной катушки 4 сигнал через пассивный полосовой Фильтр 5 подается на цифровой вольтметр 6. Фаза гармоник измеряется с помощью фазометра 7, сигнал на опорный вход которого поступает с намагничивающей катушки 3 через фазовращатель 8, триггер Шмидта 9, полосовой фильтр 10. На измерительный вход сигнал поступал с полосового фильтра 5.Изменение частоты для получения приращения амплитуд и фаз составляет 5-10 от рабочей частоты.Использование предлагаемого способа позволяет с большой точностью определять глубину закаленного слоя и повышает качество контроля эа счетФ введения дополнительных информативных параметров " производных амплитуд и фаз гармоник ЭДС вторичногосигнала. Способ контроля глубины закалкиповерхности образцов иэ легированных сталей, заключающийся в том,что образец намагничивают переменныммагнитным полем и измеряют амплитудуи фазу гармоник ЭДС, вторичного сигйала, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения точности конт 35 роля, измеряют амплитуду и фазу гармоник ЭДС на двух близких частотах,находят разность амплитуд и фаз соответствующих гармоник, по которымопределяют глубину закалки поверхЩ ности образцов.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Ачильдиев Э,С, и др. Контролькачества поверхностной закалки ирделий из стали. - "Дефектоскопия",1976,9 6, с, 36,2. Ревнов Е.Г. Контроль поверхностной закалки токами высокой частотыстальных изделий. Труды НИКИИП,1977, Р 2, с. 47-52 (прототип),НИИПИ Заказ 8312/6 Тираж 910 Подписное

Смотреть

Заявка

2863273, 03.01.1980

ЯРОСЛАВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

АЛЕКСЕЕВ ВАДИМ ПЕТРОВИЧ, ПАПОРКОВ ВЛАДИМИР АРКАДЬЕВИЧ, ПЕСИН ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/90

Метки: глубины, закалки, легированных, образцов, поверхности, сталей

Опубликовано: 30.09.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-868547-sposob-kontrolya-glubiny-zakalki-poverkhnosti-obrazcov-iz-legirovannykh-stalejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля глубины закалки поверхности образцов из легированных сталей</a>

Похожие патенты