Многослойная плита

Номер патента: 1504580

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Байдуганов, Исаев, Левтонова, Нам

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезионной, композициях, многослойных, прочности, симметричных, слоев

...К-К механизмов фиксации навеличину не менее 2 В, где В - толщина многослойной композиции, После закрепления образца производят его изгиб сдавливапием между двумя параллельными плитами 6, Это можно осуществить на любой испытательной машине с мощностью, позволяющей произвести изгиб образца, При испытании фиксируют момент разрушения одного иэсоединений, замеряют расстояние между плитами Н, Затем фиксируют момент 20разрушения оставшегося соединения спротивоположной стороны образца изамеряют расстояние между плитамиН . Замер расстояния между плитамиможно осуществить с требуемой точностью одним из известных способовДля придания характеристикам большейпрактичности производят корреляционные исследования, связывающие качественные величины...

Номер патента: 376241

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Авторы, Пастух, Постернак, Толмачев

МПК: B29C 37/00

Метки: вырубки, многослойного, наружных, отверстий, пластичного, слоях

...- положение лезвий ножа при входе в материал и в материале; на фиг. 3 - положение лезвий ножа при удалении вырубленной пластинки; на фиг. 4 - положение лезвий ножа при вьталкивании пластинки.Контурный нож 1, взаимодействующий с приводом 2, имеет неподвижное лезвие 3 и разрезное лезвие 4, которое может перемещаться до контакта с лезвием 3 посредством конуса 5, действующего от привода 6, и пружины 7,Вырубка отверстий с образованием перемычки 8 производится в наружном слое 9 многослойного пластичного материала 10,Защемлепие пластинки 1и и3 и 4 происходит с образ а 12и стенки 13.Для выталкива пластинок 11 служит5 выталкиватель 14, имодействующий с приводом 15.Устройство работает следующим образом.Взаимодействующий с приводом 2 контурный нож...

Номер патента: 619783

Опубликовано: 15.08.1978

Авторы: Брандорф, Ермаков, Кищилов, Урумов

МПК: G01B 7/06

Метки: многослойных, слоев, толщины

...изделия между его слоями размещают электропроводящие межслойные элементы, накладной индуктивный преобразователь располагают на одной из поверхностей изделия, и по величине сигнала этого преобразователя судят о измеряемых толщинах представлено устройстпредлагаемый способ.содержит источник 1а, соединенный черезлинейными проводннными между слоями 4,уктивный преобразова619753 формула изобретения Шк оставитель ехред А.Бог лохина врЕек-.дписноМиннсий ан Редактор Т,Заказ 4491/3ЦНИИПИ е я Тираж 873сударственного комитетапо делам изобретенийМосква, ЖРаушска Л овета открыов ССС 113 4 5 филиал ППП фПатент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 гл 4 я ( над проводником с током р ком мутатор ставят в положение а., измерга: вольтм тром 7 ЭДС преобразователя...

Номер патента: 1310395

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Керн, Новиков, Новоселов, Русанов, Сапегин, Хомутинкин

МПК: C07D 215/00

Метки: выделения, каменноугольной, нафталиновой, оснований, поглотительной, смолы, сульфатов, сырых, фракций, хинолиновых

...экстрагента можно ограничить 50 об.7. от взятых на очистку сульфатов.П р и м е р 2, К 200 мл сульфатов оснований добавляют 100 мл воды, 70 мл экстрагента 1 и обработанный45 раствор сернокислого натрия из примера 1 (опыта 3) в количестве, указанном в табл. 3. Дальнейший процесс проводят, как в примере 1. В табл. 3 показано влияние добавки раствора отработанного сернокислого натрия со стадии разложения сульфатов оснований на степень очистки оснований,Из данных табл, 3 видно, что высаливающий агент способствует удалению углеводородов и особенно фенолов.Этот прием позволяет получать основания, содержащие углеводороды и Фенолы в концентрации ниже 0,1 Е, поэтому13 10395 3при ректификации таких оснований хинолиновые предгоны будут более...

Номер патента: 1679178

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Белаш, Волоконская, Коваль, Фроликов

МПК: G01B 7/06

Метки: многослойных, непроводящих, слоев, толщины

...Цель изобретения - повышение точности измерений. Для этого непосредственно через стенку право;ящего иэделия, имеющего наружный ди )метр О, на которое нанесено диэлектрическое покрытие 2, толщину которого Ь необходимо измерить. пропускают электрический ток силой от источника 6, измеряют напряженность Н магнитного поля измерительным приемником 4. преобразователь которого 5 расположен в зоне контроля. Толщину покрытия определяют по формуле и =/2 л НО/2, 1 ил,известным значениям наружного диаметра О изделия, силе проходящего тока и значению напряженности магнитного поля Н, определяют толщину покрытия по формулеО2,)т Н 2Применение предлагаемого способа позволяет повысить точность измерения, так как результат измерения не зависит от...