Способ измерения геометрической толщины рассеивающего слоя в атмосфере

Номер патента: 778530

Авторы: Белов, Глазов, Креков

ZIP архив

Текст

.Ы ГОСУДАРСТВЕННОЕ ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР АТЕНТ Й с1 л ВТОРСКОМУ ЕТЕЛЬСТВ осферы Сибирского ов ство ССС8 1962.ство ССС08, 1966,(54)(57) СПОСОБ ИЗМЕЧЕСКОЙ ТОЛЩИНЪ СЛОЯ В АТМОСФЕРЕ,ЕНИЯ ГЕОМЕТРИАССЕ ИВАЮ ЩЕ ГО утем посылки модуОПИСАНИЕ ИЗО(71) Институт оптики атмотделения АН ССР(56) Авторское свидетелМ 203940, кл, 6 01 С 3/ОАвторское свидетелМт 233277, кл, 0 01 С 03 Изобретение относится к способам измерений параметров атмосферы и может быть использовано в метеорологии для измерения толщины облачного слоя, а также при .контроле за загрязнением атмосферы для определения геометрических размеров дымовых шлейфов дистанционным методом.Целью изобретения является повышение оперативности и упрощение способа измерения геометрической толщины рассеивающего слоя,Поставленная цель достигается тем, что как и в перечисленных выше способах, в исследуемый слой посылают оптическое модулированное по мощности излучение, принимают рассеянное излучение и по отраженному сигналу судят об искомом параметре.В отличие от известных способов измерения расстояния частоту модулированного по мощности излучения изменяют в диапа)5 6 01 УУ 1/000 01 СЗ/ лированного по мощности излучения и приема рассеянного; о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью ускорения процесса измерения и упрощения способа, частоту модуляции по мощности посылаемого излучения изменя 2ют в диапазоне длин волн - 1 1- 2 А.2, где О - 1.2 - предполагаемый диапазон измеряемых толщин рассеивающих слоев; А - коэффициент запаса, величину которого выбирают в диапазоне 1,5 - 2, и по относи-тельному изменению глубины модуляции принятого рассеянного излучения и частоте модуляции посылаемого излучения судят о толщине рассеивающего слоя,зоне длин волн - ( 1-22, где .1 - 2 пред- :а. полагаемый диапазон измеряемых толщин рассеивающих слоев; А - коэффициент запаса, и об искомом параметре судят по 3 относительному изменению глубины модуляции и частоте модуляции, СоЗависимость относительного коэффи- (Я циента глубины модуляции отраженного (рассеивающей средой излучения от частоты модуляции описывается следующим образом. При малых частотах относительная глубина модуляции стремится к единице (т,е, рассеивающая среда практически не иска- ф жает модуляции), при больших частотах относительная глубина модуляции отраженного сигнала стремится к нулю (т. е. среда полностью уничтожает, смазывает модуляцию излучения). Таким образом, существует область, где относительная глубина модуляции изменяется от 1 до О.778530 1 =Ьп/2,. СоставительТехред М.МОргентал Корректор М,Максимишин Редактор исьма ТиражННОГО КО3035, М Заказ 570 ВНИИПодписноеитета по изобретениям и Открытиям иква, Ж, Раушская наб., 4/5 Госудэрс КНТ ССС Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 10 Для однородных рассеивающих сред (или сред с нарастающей оптической плот-. ностью к дальней от источника границ) с возрастанием частоты модуляции происходит не монотонное стремление этой зависимости к нулю, а осциллирующее, причем положение первого локального минимума на оси частот позволяет оценить искомый параметр. При поиске этого локального минимума нет смысла посылать сигналы с частотой модуляции вне диапазона частот, где происходит изменение относительной глубины модуляции от 1 до О.Для атмосферных облачных образований этот диапазон 100 кГцЙ 40 мкГц.После приема отраженного светового сигнала определяют коэффициент относительной модуляции отраженного сигнала, строят зависимость этих коэффициентов от частоты модуляции зондирующего луча. Далее на этой зависимости находят первый ее 5 минимум слева на оси частот. Типичный видзависимости приведен на чертеже, где роптическая длина волны модулирующей составляющей сигнала, Взаимосвязь между геометрической толщиной рассеивающего "0 слоя и частотой, на которой обнаружен первый слева минимум, выражается формулой: где А-длина волны модуляции, на которой обнаружен первый слева минимум,

Смотреть

Заявка

2653273, 07.08.1978

ИНСТИТУТ ОПТИКИ АТМОСФЕРЫ СО АН СССР

БЕЛОВ В. В, ГЛАЗОВ Г. Н, КРЕКОВ Г. М

МПК / Метки

МПК: G01C 3/08, G01W 1/00

Метки: атмосфере, геометрической, рассеивающего, слоя, толщины

Опубликовано: 30.12.1992

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-778530-sposob-izmereniya-geometricheskojj-tolshhiny-rasseivayushhego-sloya-v-atmosfere.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения геометрической толщины рассеивающего слоя в атмосфере</a>

Похожие патенты