Образец для коррозионных испытаний
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 750350
Авторы: Антропов, Герасименко, Котлов, Кузнецов, Поляков
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ н 11750350(51)М, Кл,з С 01 И 17/00 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытийДата опубликования описания 25,07,80(54) ОБРАЗЕЦ ДЛЯ КОРРОЗИОННЫХ ИСПЫтАНИй Изобретение относится к испытательной технике, а именно, к образ.цам для коррозионных испытаний.Известен образец для коррозионных испытаний, содержащий два слояразнородного металла и скрепляющийих диэлектрик ) 1) .Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности и достигаемому результату является образец длякоррозионных испытаний, содержащийчередующиеся слои исследуемого металла и соединяющие их слои диэлектрика (21 .Недостаток образцов - низкая точ ность испытаний, проводимых с их помощью, особенно в тонких слоях электролита, так как соотношение междуслоями металла и диэлектрика неопределенно, что приводит к выпадению изизмерений части поверхности металла,а возможность применения гидрофобного диэлектрика приводит к изменениюпроцесса формирования слоя электроли та на поверхности образца.25Цель изобретения - повышение точности испытаний,Цель достигается за счет того,что использован диэлектрик, гидрофильность которого .соответствует гид- ЗО рофильности металла, а толщина ст слоев металла выбрана из соотношения где Р - толщина слоя диэлектрика;К - экспериментально определяемый коэффициент, завис ящийот поляризационных характеристик исследуемой системы;толщина слоя электролита;Уудельное сопротивление электролита;максимально возможное значение скорости коррозии висследуемой системе;о - допустимая ошибка измере"ний.На чертеже приведена схема образца,Образец содержит чередующиесяслои 1 исследуемого материала и соединяющие их слои 2 диэлектрика. Слои1 металла через один соединены междусобой проводником 3 и подключенык самостоятельным токовводам 4, связанным с источником 5 стабилизированного напряжения и амперметром б,750350 1 50 к И 810 Р 6(6 10 Р 95 10 см,ставитель В, Рыковхред Н.Бабурка орректор Ю. Мак о едактор М. Ликович Подписи ое Тираж 1019рс твен н ого комит ат е СССобретений и открытийа, Ж, Раушская наб,Заказ 4460/17 ЦНИИПИ Госу по делам 1.13035, МосФилиал ППП Патент, г. УжгорсВ, ул. тная, 4 В качестве материала диэлектрика используют эмаль, слюду, стекло, ситаллы, фарфор гидрофильность которых соответствует гидрофильности металла.Для определения толщины слоя металла, например меди под тонким слоем дистиллированной воды определяют методом атомно-абсорбционной спектроскопии максимально возможную скорость 1 к коррозии, которая в этом случае равна 0,064 мм/год, коэффициент К при этом равен 1290 мм/год Омсм 2, сопротивление электролита5 105 Ом при толщине слоя элект-3ролита Ь = 3 10 см. Задавая сшибку о = 0,1, получают соотнсшение т.е. при соотношении толщины металла и диэлектрика 1;10 и толщине металла не более 9,510 см скорость корро зии меди, кот орая не боле е 0,064 мм/год, измерена с.ошибкой не более 10 Ъ для всех случаев тонких пленок электролита, в том числе для атмосферной коррозии,Формула изобретенияОбразец для корроэионных испытания, содержащий чередующиеся слои исследуемого металла и соединяющиеих слои диэлектрика, о т л и ч а юш и й с я тем, что, с целью повышения точности испытаний, использовандиэлектрик, гидрофильность которогосоответствует гидрофильности металла,а толщина д слоев металла выбрана изсоотношения где Р - толщина слоя диэлектрика;К - экспериментально определяемый коэффициент, зависящийот поляризационных характеристик исследуемой системы;Й - толщина слоя электролита;удельное сопротивление электролита;1 - максимально возможное знакчение скорости коррозии висследуемой системе;о - допус тимая отн оси т ельн аясшибка измерений,25 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССРР 164461, кл. С 01 Б 17/00, 1962,2, Патент США Р 3398065, кл, 204 ЗО 1 1968 (прототип) .
СмотретьЗаявка
2678798, 31.10.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5593
КУЗНЕЦОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСЕЕВИЧ, ПОЛЯКОВ СЕРГЕЙ ГЕОРГИЕВИЧ, КОТЛОВ ЮРИЙ ГРИГОРЬЕВИЧ, АНТРОПОВ ЛЕВ ИВАНОВИЧ, ГЕРАСИМЕНКО ЮРИЙ СТЕПАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 17/00
Метки: испытаний, коррозионных, образец
Опубликовано: 23.07.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-750350-obrazec-dlya-korrozionnykh-ispytanijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Образец для коррозионных испытаний</a>
Способ металлизации комбинированных металл-диэлектрик поверхностей
Номер патента: 470248
Опубликовано: 07.04.1983
Авторы: Китаев, Курбаков, Минков, Плоских
МПК: C25D 3/50
Метки: комбинированных, металл-диэлектрик, металлизации, поверхностей
...компонентами подложки, Возникающая нр диэлектрике пленка металлического сорбата,связанная с растворяющимся металлсм, являющимся поставщиксм электронов, 2 О со временем превращается в плотное металлопокрытие на диэлектрической компоненте подложкиЦель изобретения - получение равномерного по толщине металлического 25 покрытия и ускорение процесса металлизации.Предлагаемый способ отличается, тем, что при осаждении металлического покрытия на комбинированную поверхность стенок отверстий многослойных печатных плат из раствора, содержащего ионы металла, более электро- положительного, чем металл основы, на раствор накладывают переменное электрическое поле, после чего наносят металлическое покрытие необходимой толщины любым известным...
Способ металлизации комбинированных металл-диэлектрик поверхностей
Номер патента: 472571
Опубликовано: 15.11.1984
Авторы: Китаев, Курбаков, Минков, Плоских
МПК: C25D 5/54
Метки: комбинированных, металл-диэлектрик, металлизации, поверхностей
...подложки образуется металлопокрытие, имеющее пористую структуру.Последующее электролитическоенанесение металла на сформированнуюэлектропроводную металлическую пленку приводит к ссзданию гальванопокрытия, соединенного с металлическими компонентами комбинированной под"ложки посредством неплотного слояконтактно-осажденного металла, чтов .ряде случаев приводит к нестабильности переходного сопротивления между слоями,Цель изобретения - повышение надежности и упрочнение межслойныхсоединений и увеличение электропроводности межслойкых переходов.Это достигается тем, что попредлагаемому способу металлодиэлектрические поверхности обрабатывают в растворе, содержащем ионыртути, до нанесения металлическойпленки путем контактно-химическогоосаждения,П р...
Способ изготовления эмиттера типа металл-диэлектрик-металл
Номер патента: 641890
Опубликовано: 05.01.1979
Авторы: "пьер, Даниель, Жак, Клод
МПК: H01J 1/312, H01J 9/02
Метки: металл-диэлектрик-металл, типа, эмиттера
...эмиттеров, содержащих диэлектрический слой,расположенный между двумя металлическими слоями 11). Диэлектрический слойобычно изготавливается из окисных пленок, например А 8 еО ипи Ве О, Такиеэмиттеры получают путем электропитичеокого осаждения на металлическую подложку слоя диэлектрика 21,Указанный способ трудно реализоватьпри формировании слоев диэлектрика набольшой площади подложки,Цель изобретения - упрощение технологии получения слоя диэлектрика,Поставленная цель достигается тем,что готовят раствор из органическогорастворителя (гексаметилфосфоротриамидаи тетрагидрофурана) и электролита-перхлората щелочного металле, погружаютв этот раствор металлическую подложку,подают нв нее отрицательное напряжи проводят осаждение...
Способ формирования изображения микроструктуры металл диэлектрика в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1200176
Опубликовано: 23.12.1985
Автор: Олейников
МПК: G01N 23/225
Метки: диэлектрика, изображения, металл, микроскопе, микроструктуры, растровом, формирования, электронном
...потока 2 установлен детектор 3 отраженных электронов. Образец имеет 25 металлическое покрытие 4, нанесенное на диэлектрике 5. Между диэлектриком и покрытием имеется переходный слой 6. С покрытия снимается сигнал, регистрируемый измерительным устрой- ЗО ством 7.На фиг,2 показаны эпюра 8 сигнала отражейных электронов, эпюра 9 поглощенных электронов, эпюра 10азности между этими сигналами и 35 эпюра 11 проинтегрированного разностного сигнала.Способ осуществляют следующим образом.Импульсное облучение образца мо О жет осуществляться как с помощью специальных схем, так и электромеханическим путем, например, с помощью диска с отверстиями, приводимого во вращение электродвигателем, При этом 45 часть электронов отражается, образуя поток...
Устройство для измерения зависимости емкости конденсатора со структурой металл-диэлектрик-полупроводник от велечины поверхностного электростатического потенциала
Номер патента: 693276
Опубликовано: 25.10.1979
Автор: Рагаускас
МПК: G01R 31/26, H01L 21/66
Метки: велечины, емкости, зависимости, конденсатора, металл-диэлектрик-полупроводник, поверхностного, потенциала, структурой, электростатического
...идеализированные теоретические зависимости.Второе из известных устройств содержитгенератор линейно изменяющегося напряжения, аналоговое дифференцирующее устройством, образованное операционным усилителем и исследуемой МДП-структурой, ко торая включена между выходом генератора и инвертирующим входом операционного уси лителя, и осциллограф 2. Это устройство также не обеспечивает измерения зависи мости емкости МДП-структуры от величиныповерхностного электростатического потенциала.. Брызгаовая Составитель ЮТехред О. ЛугТираж 1073Государственного клам изобретений иква, Ж - 35, РаушсПатент, г. Ужгоро Редактор И, Нестеро Заказ 6066/1 6р Н. Стене митета С открытий кая наб.,ул. Про ЦНИИПИпо д 113035, Мо лиал ППП д. 4(5 ктная, 4 времени,...
Предыдущий патент: Способ измерения скорости коррозии металлов и сплавов
Следующий патент: Устройство для исследования трения округлых тел
Случайный патент: Способ масштабно-временного преобразования одиночных электрических сигналов на запоминающей электронно-лучевой трубке