Способ обнаружения локальных дефектов в полимерных пленках

Номер патента: 1245978

Авторы: Турышев, Турышева

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИСООИАЛИСТИЧЕСНРЕСПУБЛИН ЯО 1245978 7 2 1)4 С ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ ОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ К(7 (5 ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(56) Тареев Б,М., Кирикиас В,Г,Влияние электрического поля на проникновение жидкости в поры изоляции, - В сб. Материалы радиоэлектроники, вып. 73, - М.: Московскийинститут радиотехники, электроникии автоматики, 195, с.168-179.Патент Великобритании 9 1313992,кл, С 01 И 27/20, 1973,(54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХДЕФЕКТОВ В ПОЛИМЕРНЫХ ПЛЕНКАХ(57) Изобретение относится к областиисследования и контроля материаловс помощью электрических средств. Способ включает смачивание одной поверхности пленки жидкостью, протягивание ее между электродами-валками, приложение к ней внешнего электрического поля, измерение величины тока, проходящего через пленку, и фиксацию места дефекта по пику тока, Цель изобретения - повышение производительности способа и расширение круга испытуемых материалов. Для достижения поставленной цели предложено в качестве смачивающей жидкости применять жидкость с угломо смачивания 0-45 и параметром термодинамического взаимодействия с материалом пленки 1,0 10 Дж/м а внешнее электрическое поле выбирать в интервале 4 10 - 8 10 В/мф 7 и прилагать,его к пленке через резистор с величиной сопротивления в интервале от 1000 Е Ь до Ь/,Г ЬЧ, где Ь - толщина испытуемой пленки (и); Ч - максимальная скорость протягивания пленки (м/с); Ь - длина С электродов (м); с - относительная диэлектрическая проницаемость материала пленки; , - диэлектрическая проницаемость вакуума (Ф/м); Е - внешнее электрическое поле, прикладываемое к пленке,(В/м).ЮИзобретение относится к исследованию и анализу физических свойствматериалов с помощью электрическихсредств и может быть использованодля обнаружения и оценки координатлокальных дефектов, т,е. сквозныхмикропор, трещин и т,п., в полимерных пленках, в частности мембранах,гентах при их производстве или эксплуатации,Цель изобретения - повышениепроизводительности способа и расширение круга испытываемых полимерных материалов.Сущность способа заключается всмачивании одной поверхности пленкижидкостью под давлением, протягиванием испытуемой пленки ме:кду двумя.электродами-валками, приложениивнешнего электрического поля к испытуемой пленке и измерении тока, проходящего через нее. Место дефектаопределяют по положению электродовна поверхности ленты при попаданиидефектного места под электроды,регистрируют резкое возрастание тока,отмечают место дефекта. Использование в качестве жидкости воды или водных растворов солей, как показываютэкспериментальные данные, ограничивают производительность способа,обусловленную большим временем затеканияжидкости в дефектное место.Это время зависит от соотношения Физикохимических параметров материала плен-ки и смачивающей ее жидкости и,напри-,мер,для пленки из поливинилиценфтори,да (ПВДФ),контактирующей с водой,составляет более 10 с. Это ограничивает скорость протягивания пленки0,1 мм/с.Кроме того, ряд полимерных пленокспециального назначения набухаетпри контакте с водой и водными растворами электролитов, что увеличивает время затекания жидкости. Такимобразом, исключается воэможностьанализа дефектов в таких материалах. Теоретический и экспериментальный анализы с различными полимерными пленками показали, что использование ,в качестве смачивающей жидкости вмес то воды или водных растворов жидкости с углом смачивания 0-45 и параметром термодинамическоговзаимодействия с материалом пленки не мез,нее 1 10, Дж/м позволяет повысить производительность определения дефектов за счет повышения скорости протягивания плетенки до 10 мм/с.При этом,необходимо, чтобы внешнее электрическое поле лежало в пределах 4 10 5 8 10 В/м а величина сопротивлениярезистора ограничивающего ток черезпленку, в пределах 1000 ЕЬ Чб, с 1.Чгде Ь - толщина пленки,м;Ч, - скорость перемещения плен О кн, м/с;1. - длина электродов, м;Е - относительная диэлектрическая проницаемость материала пленки;15 Г, - диэлектрическая проницаемость вакуума. Таким образом, определяемая комбинация указанных параметров позво ляет существенно повысить производительность определения дефектов за счет увеличения (в 100 раз) скорости протягивания пленки. 25 Формула изобретения Способ обнаружения локальныхдефектов в полимерных пленках, включающий смачивание одной поверхностиЗО пленки жидкостью, протягивание пленки между электродами-валками, приложение к ней электрического поля,измерение величины тока, проходящегочерез пленку, и фиксацию места дефекта по пику тока о т л и ч а ю щ и йся тем, что,с целью повышенияпроизводительности способа и расширения круга испытуемых полимерных,материалов в качестве смачивающей 40 жидкости применяют жидкость с угломсмачивания до 45 и параметром термодинамического взаимодействия сматериалом пленки не менее 1,010 Дж/м, а электрическое поле прикб 345 ладывают со значением напряженности,лежащей в пределах 4 10 " - 8 10 В/м,через резистор с величиной сопротивления от 1000 Е Ь до Ь/Е,ЕТ,Ч Ом,где Ь - толщина испытуемой плен ки,м;Ч - максимальная скорость протягивания пленки, м/с;1. - длина электродов,м;- относительная диэлектричес кгя проницаемость материалг пленки;- диэлектрическая проницаемость вакуума, Ф/м;3 1245978 4Е - электрическое поле, прикла- причем максимальная скорость протягидываемое к пленке,В/м,Составитель А. РемизовРедактор Н,Яцола Техред И.Попович КорректорИ,МускаЗаказ 3992/36 Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий: 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

3785491, 21.08.1984

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2913

ТУРЫШЕВ БОРИС ИВАНОВИЧ, ТУРЫШЕВА ТАТЬЯНА ЛЬВОВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 27/20

Метки: дефектов, локальных, обнаружения, пленках, полимерных

Опубликовано: 23.07.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1245978-sposob-obnaruzheniya-lokalnykh-defektov-v-polimernykh-plenkakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения локальных дефектов в полимерных пленках</a>

Похожие патенты