Способ определения толщины упрочненного наклепом поверхностного слоя
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 729479
Автор: Журавлев
Текст
аа делам изобретений н аткрцтнй(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ УПРОЧНЕННОГО НАКЛЕПОМ ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯИзобретение касается механических испытаний материалов, в частности способов определения толщины упрочненного наклепом поверх-. ностного слоя.Известен способ определения толщины упрочненного наклепом поверхностного слоя метал лических деталей, заключающийся в том, что из исследуемой детали вырезают плоский образец, шлифуют и полируют плоскость реза, секущую упрочненный слой, подвергают образец пластическому деформированию в направлении, та параллельном упрочненному слою, и за искомую величину принимают расстояние от наклепанной поверхности до точки начала отклонения профиля реза от плоскости (11.Недостатком известного способа является низкая точность определения толщины за счет малой пластичности материала.Целью изобретения является повышение точности определения.26Это достигается тем, что из исследуемой детали вырезают дополнительные образцы, испытывают их на пластичность при различных температурах, определяют температуру и дефор 2мацию, соответствующие наибольшей пластич.ности, а основной образец подвергают пластическому деформированию при этих значенияхтемпературы и деформации,Способ осуществляется следующим образом.Из исследуемой детали вырезают плоскийобразец, шлифуют и полируют механическимили электроштт;1 чесхим методами плоскостьреза, секущую упрочненный слой. Одновременно нз исследуемой детали вырезают дополнительные образцы (онн могут и не содержатьупрочненный наклепом поверхностный слой),испытывают их на пластичность при различ.ных температурах и определяют температуруи деформацию, соответствующие наибольшейпластичности, Затем основной образец подвергают пластическому деформированию при этихзначениях температуры и деформации в направлении, параллельном упрочненному слою,и за искомую величину принимают расстояниеот наклепанной поверхности до точки началаотклонения профиля реза от плоскости.Проведение пластического деформированияпри условиях, когда пластичность материалаЗаказ 1253/37 Тираж 1019 ПАдписноеЦНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 3 729479 фнаибольшая, позволяет более рельефно выде. образцы, испытывают их на пластичность прилигь зону упрочненного слоя и более точно различных температурах, определяют температуустановить его толщину, ру и деформацию, соответствующие наибольшейпластичности, а основной образец подвергают,пластическому деформированию при этих значе.ниях температуры и деформации,Способ определения толщины упрочненногонаклепом поверхностного слоя по авт. св. Источники информации,У 493696, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, принятые во внимание при экспертизес целью повышения точности определения, из 10 1, Авторское свидетельство СССР У 493696;исследуемой детали вырезают дополнительные кл. 6 01 й 3/08, 1971 (прототип).
СмотретьЗаявка
2672674, 10.10.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5671
ЖУРАВЛЕВ СЕРГЕЙ ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 3/00
Метки: наклепом, поверхностного, слоя, толщины, упрочненного
Опубликовано: 25.04.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-729479-sposob-opredeleniya-tolshhiny-uprochnennogo-naklepom-poverkhnostnogo-sloya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения толщины упрочненного наклепом поверхностного слоя</a>
Предыдущий патент: Способ приготовления образцов для исследований состава и структуры пленок
Следующий патент: Захват к машине для испытания образцов
Случайный патент: Устройство для сгущения целлюлозы