Нейтронный фильтр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
36 Г 740 Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства Мв Заявлено 10.11,1971 ( 1616663/26-25)с присоединением заявки МоПриоритетОпубликовано 05,1 Ч.1973. Бюллетень Ме 17Дата опубликования описания 31.Ч.1973 М. Кл. 6 21 д 3/00 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРУДК 621,039,564(088,8) Авторыизобретения ф. М. Зеленюк, С. Б, Степанов, А. В. Тимаков и В, Е. Житарев Заявитель Московский ордена Трудового Красного Знамени инженерно-физическийинститут НЕЙТРОННЫЙ ФИЛЪТР Изобретение относится к технике физического эксперимента и предназначено для выделения пучка холодных нейтронов, например, из пучка исследовательского ядерного реактора,Известно использование поликристаллцческих веществ, таких как бериллий, графит для фильтрации холодных нейтронов, Кроме того, в качестве фильтров используются изогнутые зеркала и кривые цейтроцоводы,Поликристаллические фильтры отделяют холодные нейтроны, начиная с определенной граничной длины волны, определяемой максимальным мекплоскостным расстоянием. Фильтры на зеркалах и нейтроноводах, изготовленные из материалов, имеющих положительную амплитуду когерецтцого рассеяния нейтронов, например никеля, меди, железа, - чрезвычайно громоздкие стационарные установки и очень дорогие; кроме того, требования к чистоте поверхностей, ца которых происходит полное отражение нейтронов, весьма высокие.В связи с этим селективное выделение пучка холодных нейтронов ца одной установке до сих пор не представлялось возможным, так как требовалось менять радиус кривизны цейтроцовода.Цель изобретения - построцть нейтронный фильтр, который позволяет селективцо выделять пучок холодных нейтронов, увеличивая их интенсивность, цз пучка тепловых нейтроцоВ при полном отделении фона быстрых нейтронов.Это достигается благодаря тому, что нейтро новод выполнен из стандартного волцовода,например медного, и вдоль цейтроцовода рас- положена система мцкровццтов, позволяОщай задавать нужную кривизну цецтроцовода. 10 На фпг. 1 схематично показан предлагаемыфильтр.Нейтроцовод 1, выполненный цз медногОволцовода прямоугольного сечения, изогнут с помощью системы мцкровицтов 2 таким обра зом, что выход цейтроцовода выведен цз прямого пучка. Нейтроцовод может быть цзоптут как под одним радиусов рнвизцы, так ц под двойным радцусом. На выходе цейтроцовода размещен детектор 3.20 На фиг. 2 показан полученный ца описываемом фильтре спектр холодных нейтронов, нормированный ца единичный поток тепловыХ нейтронов; Л, - спектр ца втходе волцовода с радиусом кривизны Я = 100 лт; Л. - спектр 25 при Я = 50 лт; Ла - спектр прц двойном радиусе кривизны Р = 50,ц.Интенсивность холодных нейтронов возросла в 10 раз, фоц снижен в 30 раз. СпектрЬ снимались с помощью мехацического прерь 1- 30 вателя по методу времени пролета.П р ед м ет изобретения У ФЕ 7 8 Я 1011 1 Л 141516 Д Угг 2 Составитель Е, ГромовРедактор Т, Орловская Текред Т. Курилко Корректор О. У Тираж 523 открытий при С кап наб д 4/5 Заказ 1551/3 Изд,448ЦИИИПИ Комитета по делам изобретенийМосква, Ж, Ра Подп испо е Министров СССпография, пр, Сапунова С помощью этого фильтра можно выделить пучок холодпых нейтронов из пучка тепловых, начиная с любой длины волны нейтронов, в зависимости от радиуса кривизны. Кроме того, интенсивность холодных нейтронов возрастает по сравнению с интенсивностью пучка, прошедшего через пеотракающий коллиматор того же сечения, а фоц быстрых нейтронов резко падает. Нейтронный фильтр, содержащий изогнутыйнейтроновод, отличающийся тем, что, с целью селективиого выделения пучка холодных нейтронов и повышения интенсивности, иейтроиовод выполнен из стандартного волновода, например медного, а вдоль цейтроновода располокецы средства для изменения его кривиз иы, например система микровиитов.
СмотретьЗаявка
1616663
Авторы изобретени Ф. М. Зеленюк, С. Б. Степанов, А. В. Тимаков, В. Е. Житарев
МПК / Метки
МПК: G21G 4/02
Метки: нейтронный, фильтр
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-361740-nejjtronnyjj-filtr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Нейтронный фильтр</a>
Способ нормировки спектров нейтронов
Номер патента: 1762642
Опубликовано: 30.08.1994
Авторы: Колеватов, Семенов, Серков, Трыков
МПК: G01T 3/00
Метки: нейтронов, нормировки, спектров
СПОСОБ НОРМИРОВКИ СПЕКТРОВ НЕЙТРОНОВ при измерении спектров нейтронов системой из трех спектрометров, заключающийся в измерении спектров нейтронов последовательно шаровыми замедлителями с расположенными внутри счетчиками тепловых нейтронов, водородным счетчиком, сцинтилляционным спектрометром и нормировке спектров на границе перекрытия диапазонов измерений спектрометров, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности измерений, на границе перекрытия диапазонов измерений, в выбранном интервале энергий дополнительно проводят измерения двумя шаровыми замедлителями разного диаметра с расположенными внутри счетчиками тепловых нейтронов, причем внутрь замедлителя помещают сферический слой поглотителя нейтронов и производят нормировку...
Способ определения энергетических спектров нейтронов
Номер патента: 1299310
Опубликовано: 28.02.1988
Авторы: Давлетшин, Типунков, Тихонов, Тужилов, Шорин
Метки: нейтронов, спектров, энергетических
...глубиной дЕ, ,следующим за этим слоем и т,д. Нормировку плотности можно осуществитьлибо зная плотность трития в мишенисравнения, либо считая максимальноезначение величины ; соответствующимпредельному значению плотности тритиядля данного сорбента. Далее, знаявеличиныэнергию протонов, падающих на поверхность мишени, тормозную способность материала активногослоя и используя известные соотношения кинематики Т(Р, и) Не реакциипо формулеФ о ОоМ(Еп,1,6)=(х)р(ЕК,)и(К;,1 СО Е Ос.аЕ,х) -(к,а)8(Кп-КЕ)акаК;а, (3)где (х) - плотность трития в мишенитолщиной 1 на глубине х, р(ЕЕ;)энергетическое распределение протонов, падающих на поверхность мишени(со средней энергией Е,)и (ЕЕ,х)энергетическое распределение прото-,Жнов на глубине х (Е 3) - дифференциал...
Способ измерения нейтронных спектров
Номер патента: 843571
Опубликовано: 23.08.1982
МПК: G01T 3/00
Метки: нейтронных, спектров
...определяют путем вычитания спектра рассеяния, измеренного 30 при больших углах 2(Оа(5, из спектра843571 Формула изобретения Составитель С, ПростовТехред А. Камышникова Редактор Л. Письман Корректор Е. Михеева Заказ 1183/5 Изд, Ме 202 Тираж 719 Подписное НПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 рассеяния нейтронов, измеренного при малых углах 1(012.Предлагаемый способ заключается в следующем.В пучок нейтронов помещают образец с 5 большим атомным номером 7, измеряют спектр рассеянных нейтронов под двумя разными углами 01 и О, где 1(0,2, а 2(0(5. Искомый спектр получают вычитанием спектров, померенных на угле О, 1 О из спектров...
Способ измерения поляризации холодных и ультрахолодных нейтронов в пучке
Номер патента: 1211679
Опубликовано: 15.02.1986
Автор: Покотиловский
МПК: G01T 1/32
Метки: нейтронов, поляризации, пучке, ультрахолодных, холодных
...магнитным полем, которое за висит от поляризации, нейтроны с разной поляризацией проходят пролетную базу эа разное время. Конкретная реализация способа может быть проиллюстрирована на следующем примере. Нейтроны широкого спектра в интервале скоростей 2 6 м/с монохроматизируются с помощью интерференционного фильтра, так что спектр . приобретает полосатую структуру со степенью монохроматизации ЗХ вкаждом из пиковДлительность импульса модуляции6 мс, длина пролетной базы 1 м, маг"нитное поле в пролетной баэе 1 кгс.Разность времени пролета для двухспиновых компонентов в этом случаесоставит 12 мс для нейтронов сосевой скоростью 5 м/с, т,е. 6 Хот среднего времени пролета, такчто в спектре будут легко разрешаться, Для меньших осевых...
Способ измерения кривизны фазового фронта пучка электромагнитного излучения
Номер патента: 1124180
Опубликовано: 15.11.1984
Авторы: Епишин, Заславский, Неофитный, Пржевский
МПК: G01J 1/42
Метки: излучения, кривизны, пучка, фазового, фронта, электромагнитного
...плоскости от кривизны Фронта пучка электромагнитного излучения позволяют провести оценку кривизны фазового фронта. В качестве неэквидистантной структуры может применяться, например, такая, в которой расстояния между соседними рассеивающимиэлементами изменяются по квадратичному или линейному законуНаправим на решетку пучок излучения с радиусом кривизны Фазового фронтав направлении оси у, Вблизи Фокуса и -го дифракционного порядка комплексную амплитуду поля можно записать исходя из принципа ГюйгенсаКирхгофа, аппроксимируя решетку квадратичным Фазовым корректором с Фокусным расстоянием. Если функция изменения амплитуды пучка излучения на решетке (х = -а, а 1) ранна Кх), точка наблюдения - х расположена в зоне Френеля, то с точностью...
Предыдущий патент: Устройство зацепления и расцепления реечной шестерни
Следующий патент: Телескопическая антенна
Случайный патент: Способ прессования л1еталлокерамическихзаготовок