Пржевский

Номер патента: 1786117

Опубликовано: 07.01.1993

Авторы: Бланк, Бобков, Грановский, Гущин, Пржевский

МПК: A61F 11/04, C21D 1/04

Метки: аппаратов, выносных, магнитов, слуховых, телефонов, универсальных

...Нз - поле, соответствующее насыщению заготовки магнита слухового аппарата, а время размагничивания определено числом циклов перемагничивания по частным петлям гистерезиса,1786117 зюкщршипгниа Способ изготовления магнита слухового аппарата заключается в том, что заготовку пооле каждой технологической операции- шлифовки, обдувки, помещают в переменное низкочастотное градиентное поле, образованное с помощью электромагнита,эапитка которого осуществляется от низкочастотного генератора через усилитель.Помещенная в зазор заготовка магнитаВТУ подвергается воздействию переменного низкбчастотного градиентного поля, амплитудное значение которого ННз, гдеНз - поле, соответствующее насыщению заготовки слухового аппарата. В результатетакого...

Номер патента: 1717973

Опубликовано: 07.03.1992

Авторы: Ечеистов, Кудинов, Пржевский, Фетисов

МПК: G01J 5/00

Метки: излучения, лазерного, мощности, проходного, типа

...из прозрачного для измеряемого лазерного излучения материала, фото1717973 Редактор О.Ю М.Мор Корректор Э.Лончаков цка нт аказ 870 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 нат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина но-издательский ком роизвод приемник, установленный на середине боковой поверхности приемного элемента с зазором относительно нее, концы приемного элемента покрыты поглощающим для измеряемого излучения и теплоотводящим покрытием на длину 1=б 19(агсзи 1/и), где и - показатель преломления материала приемного элемента; б - апертура приемного элемента, а фотоприемник соединен с блоком обработки сигнала.На чертеже показана схема устройства, Устройство...

Номер патента: 1684593

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Неофитный, Пржевский, Фетисов, Яковлев

МПК: G01B 11/26

Метки: объекта, ориентации

...к первому входу блока 5 вращения, соединенного вторым входом с выходом блока 3 задания ориентации, блока 10 управления, подключенного входом к выходу прерывателя 8, штанги 11, скрепляющей объект 12 и вторую дифракционную решетку 4.Устройство работает следующим образом.Излучение лазера 1 направляется на систему из последовательно расположенных по направлению потока излучения зеркальных дифракционных решеток 2 и 4. В отраженных от второй дифракционной решетки 4 пучках располагаются фотоприемники 6, число которых определяется числом используемых порядков дифракции. При этом расстояниемежду дифракцион ными решетками выбирается в зависимости отдиаметра решетки О и угла дифракции а, исходя из соотношения На пути пучка с нулевым порядком...

Номер патента: 1153372

Опубликовано: 30.04.1985

Авторы: Епишин, Заславский, Неофитный, Пржевский

МПК: H01S 3/00

Метки: излучения, кривизны, пучка, радиуса, фазового, фронта, электромагнитного

...дифракционной картины и определение по параметрам этой картины искомого радиуса кривизны, дифракционную картину регистрируют в плоскости мультиплицированного изображения данной структуры по отношению к падению на нее плоской волны, определяют на одном периоде упомянутой картины отношение максимальной интенсивности поля в "области расположения искаженной тени к минимальной интенсивности поля в области неискаженной тени, по которому изкалибровочной кривой находят модульискомого радиуса кривизны, Фиксируют взаимное расположение указанныхтеней по отношению к калибровочнойметке и по нему определяют знак радиуса кривизны фазового фронта исследуемого пучка излучения,В основу способа положен тотФакт, что прп падении па редкую...

Номер патента: 1124180

Опубликовано: 15.11.1984

Авторы: Епишин, Заславский, Неофитный, Пржевский

МПК: G01J 1/42

Метки: излучения, кривизны, пучка, фазового, фронта, электромагнитного

...плоскости от кривизны Фронта пучка электромагнитного излучения позволяют провести оценку кривизны фазового фронта. В качестве неэквидистантной структуры может применяться, например, такая, в которой расстояния между соседними рассеивающимиэлементами изменяются по квадратичному или линейному законуНаправим на решетку пучок излучения с радиусом кривизны Фазового фронтав направлении оси у, Вблизи Фокуса и -го дифракционного порядка комплексную амплитуду поля можно записать исходя из принципа ГюйгенсаКирхгофа, аппроксимируя решетку квадратичным Фазовым корректором с Фокусным расстоянием. Если функция изменения амплитуды пучка излучения на решетке (х = -а, а 1) ранна Кх), точка наблюдения - х расположена в зоне Френеля, то с точностью...