Ая иагентио laiirieqбиблиотекашщlt; а i

Номер патента: 310159

Авторы: Костецкий, Украинска, Шепельский

ZIP архив

Текст

31 ОИ 9 ОПИСАНИЕ ИЗОБР ЕТЕ Н ИЯ Ооюа Советскик Сациалистическик РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства Ме Заявлено 21.1,1969 (,йю 129851225-28) МПК б 01 п 3/56 исоединением заявки Ха ПриоритетОпубликовано 26,Ч 11971. Бюллетень МДата опубликования описания 20.Х.1971 Комитет по делам изобретений и открыти при Совете Министров СССРАвторыизобретен В. А. Шепельский и Б стецк Украинская ордена Трудового Красного Знамени аявител ельскохозяйственная академ ИЗНОС СОБ ОЦЕНКИ ь изобретения - пов и вида износа.роцессе трения на учас нтакта поверхностей д тх тел путем пластичес изации, взаимодействия я тонкие описные плен чными структурами. тках фактическоух сопряженных кой деформации, со средой обраки, называемые о ко вердь ктив уютс втори Изобретение относится к исследованию явлений износа металла, в частности к методике определения видов износа,Известен способ, согласно которому о виде износа судят по характеру зависимости суммарной площади ямок, образующихся при износе (а именно при вьткрашивании), от числа циклов нагружения образцов,При реализации известного способа площадь выкрашенных структур, а следовательно, и площадь контакта определяются по макроскопическим признакам износа - по площади.Цел ысить точность оценк В процессе износа металла происходит выкрашивание и отслаивание вторичных структур. Площадь, занятая вторичными структурами, служит характеристикой вида износа исследуемых трущихся пар металлов, зависящего от скорости относительного перемещения, удельного давления, режима смазки и температуры,Каждый вид износа, например абразивный,схватывание, окислительный или тепловой задир, характеризуется только ему присущим отношением площади, занятой вторичными 5 структурами, ко всей площади трения. Знаяплощадь, занятую вторичными структурами, можно определить площадь, подвергаемую выкрашиванию.На чертеже приведена схема расположения 0 вторичных структур, поясняющая применениеспособа и разрез по А - А. Способ осуществляется следующим обр зом.15 За площадь фактического контакта принимают площадь вторичных структур. Снимают реплику с поверхности трения. Площадь вторичных структур определяют, например, планиметрированием изображения реплики, по лучаемого путем электронной микроскопии.О виде износа судят по величине отношения площади вторичных структур к номинальной площади контакта.Для получения более точных результатов 25 проводят серию измерений и методами математической статистики определяют среднюю площадь вторичных структур для конкретного участка износа с определенным коэффициентом надежности и с доверительным интерва лом,310159 Предмет изобретения Составитель В, Долгополов Редактор Т. Юрчикова Текрсд Т, П. Курилко Корректоры: В. Петров и Е. ЛасточкинЗаказ 2636(5 Изд, М 1076 Тираж 473ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений,и открытий пры СовеМосква, Ж, Раушскан наб., д. 4/5 Подписное Министров СССРипография, пр. Сапунова,1. Способ оценки вида износа, заключающийся в том, что определяют площадь контакта трущихся поверхностей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности оценки вида износа, за площадь фактического контакта принимают площадь вторичных структур, снимают реплику с поверхности трения,а о виде износа судят по величине отношенияплощади вторичных структур к номинальнойплощади контакта. 5 2. Способ по п, 1, отличающийся тем, чтоплощадь вторичных структур определяют планиметрированием изображения реплики, получаемого, например, путем электронной микроскопии.

Смотреть

Заявка

1298512

В. А. Шепельский, Б. И. Костецкий, Украинска ордена Трудового Красного Знамени сельскохоз йственна академи

МПК / Метки

МПК: G01N 3/56

Метки: laiirieqбиблиотекашщlt, иагентио

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-310159-aya-iagentio-laiirieqbibliotekashshhlt-a-i.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Ая иагентио laiirieqбиблиотекашщlt; а i</a>

Похожие патенты