Компенсационный окуляр

Номер патента: 1779933

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Гурвич, Соколовский

МПК: G01C 21/24

Метки: волн, двух, длинах, планетной, разности, рефракции, углов

...ахроматические оптические системы высокого разрешения.Известен способ автономной космической навигации путем измерений разности углов планетной рефракции на двух длинах волн,Однако недостатком существующего способа измерения разности углов планетной рефракции на двух длинах волн является тот факт, что для его реализации требуется ахроматическая оптическая система высокого разрешения, Например, при высоте перигея луча визирования источника 30 км разность углов рефракции для длин волн 0,4 и 0,8 мкм составляет 2" и, следова1179933 Составитель С.СокольскийРедактор И,Савина Техред М.Моргентал Корректор Н.Слободян Заказ 4429 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж,...

Номер патента: 471634

Опубликовано: 25.05.1975

Авторы: Воробьев, Крушеницкий, Федорцев

МПК: H01S 3/08

Метки: волны, длине, интерферометр, репесматриваемый

...параллельна поверхности пластины. При этом хотя бы одна из областей пластины легируется донорной примесью до такой степени, что в Диэлектрическая проницаемость полупника в определяется по формулам; в . - высокочастотная диэлектрическая проницаемость полупроводника в отсутствие свободных носителей тока;е - заряд электрона;Р - концентрация свободных электронов в и-материале и дырок в р-материале;аказ 999,"1421ЦНИИПИ Изд Лв 8 осуда рственногого делам изоМосква, Ж-З 5,Тираж 833омитета Совета Минисетений и открытийаушская наб., д. 4/5 ПодписноеСССР Тип. Харьк. фил Патент(,о - длина волны инфракрасногосвета;иг" (и - эффективные массы электрои рнов и дырок;С - скорость света.В области объемного заряда р - п перехода диэлектрическая...

Номер патента: 684412

Опубликовано: 05.09.1979

Авторы: Андренко, Беляев, Провалов, Сидоренко, Шевтопалов

МПК: G01N 23/24

Метки: волн, диапазонов, длин, интерферометр, миллиметрового, субмиллиметрового

...пучка 7 или 8, угла 6(лпод которым гармоника с номером и уходит от дифракционной решетки 4,периода Р дифракционной решетки 4 и длины 5 Я волны падающего поля определяется следующим соотцошениемгде Жф - безразмерный параметрдифракциоцной решетки,При условии Х "-)И - К 1 д / ф А,является чисто мнимой величиной. Соответствующая гармоника в этом случае - неоднородная плоская волна, экспоненциально убывающая с удалением от плоскости дифракционцой решетки. Фаэовая скорость . в направлении, перпендикулярном линиям штрихов периодической структуры дифракционной решетки 4, у такой волны .пнискорости С света и определяется соотношением =С в - в , д 25В интерферометре, основанном на дифракции волновых пучков 7 и 8 ца дифракциоццой решетке 4,...

Номер патента: 1763995

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Киселев, Кулешов, Лисицын, Надежкин

МПК: G01R 23/02

Метки: волны, длины

...1 и пг - показатели преломления веществ в15 этих каналах (считается, что оба канала заполнены иэотропными веществами); А -длина волны входного сигнала. Составляющая сигнала, прошедшая через первый канал, приобретает набег фазы20 11 п 1д 1=2 л - У - ,а другая составляющая, прошедшая по второму каналу, приобретает фазовый набегд 2=2 л -- ,г ПгЕсли д о - разность фаз между составляющими входного сигнала, то разность фазмежду сигналами на выходе обоих каналовравна30д=д 1 - дг+д, = 2 л =-У-( 1 п 2 п)+до, (1)35 Эти сигналы, как указано выше, попадая в общий канал, не интерферируют между собой, оставаясь взаимно ортогонально-поляризованными, От д зависит только поляризация выиодного сигна ла, поступающего на...

Номер патента: 139346

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Бунин, Раихлин

МПК: H04B 13/00

Метки: волны, гравитационных, длины, колебаний, пеленгации, приема

...поля.В случае, если кристаллы помещены в поле гравитационной волны,собственные частоты кристаллов будут изменяться в такт с колебаниями давления поля, причем в зависимости от изменения давления частота будет то повышаться, то понижаться, При установке кристаллов в пучности волн девиация частоты будет максимальной, а в узле - минимальной. По этим признакам можно определить расположение пучностей и узлов гравиоволн, а следовательно, определить такие параметры их, как скорость распространения, длина, затухание и т. д.Устройство для приема и пеленгации гравитационных колебанийизображено на фиг. 2.Оно содержит кристалл 1 с искусственной радиоактивностью и два(или более) кристалла 2, обладающих резонансным поглощением. Последние...